La technique XRF (fluorescence des rayons X) est une technique analytique non destructive utilisée pour déterminer la composition élémentaire des matériaux. Avec cette technique, les analyseurs XRF sont excités par une source primaire de rayons X et la chimie d'un échantillon est déterminée en mesurant la fluorescence X émise par un échantillon. Chacun des éléments présents dans un échantillon produit un ensemble de fluorescence X caractéristique qui est unique à cet élément spécifique. Par conséquent, la spectroscopie XRF est reconnue comme une excellente technologie pour l'analyse qualitative et quantitative de la composition des matériaux.
La plupart des atomes ont plusieurs orbitales électroniques. Lorsque l'énergie des rayons X fait entrer et sortir les électrons de ces niveaux orbitaux, des pics XRF d'intensités variables sont créés à travers le spectre. L'énergie maximale définit l'élément, et la hauteur ou l'intensité maximale est généralementC'est un indicateur de concentration d'e.
Cette méthode est utilisée dans diverses industries pour :
Pendant l'analyse, l'analyseur émet un faisceau de rayonnement dirigé lorsque le tube est sous tension. Des efforts raisonnables doivent être faits pour maintenir l'exposition aux rayonnements aussi loin que possible en dessous des limites de dose. Trois facteurs minimisent l'exposition aux rayonnements : le temps, la distance et la protection.
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