XPS Analizi (Element Tipi ve Oksidasyon Numarası)

XPS, X-ışını fotoelektron spektroskopisi anlamına gelen X-ray photoelectron spectroscopy ifadesinden türetilmiş bir kısaltmadır. Bu yöntem ile, metallerden polimerlere kadar değişen malzemelerin XPS yüzey analizi yapılmaktadır.

Yüksek performanslı malzemelere olan talep arttıkça, yüzey mühendisliğinin önemi de artmaktadır. Malzemenin yüzeyi, dış ortam ve diğer malzemelerle etkileşim noktasıdır ve korozyon oranları, katalitik aktivite, yapışkan özellikler, ıslanabilirlik, temas potansiyeli ve arıza mekanizmaları gibi faktörleri etkiler. Bu özellikleri değiştirmek veya geliştirmek için yüzey modifikasyonu kullanılmaktadır. Yüzey analizi, yüzey kimyasını anlamak ve yüzey mühendisliğinin etkinliğini geliştirmek için kullanılmaktadır. Yapışmaz pişirme kabı kaplamalarından ince film elektroniklerine ve biyo-aktif yüzeylere kadar, X-ışını fotoelektron spektroskopisi (XPS), yüzey karakterizasyonu için standart araçlardan biridir.

Kimyasal analiz için elektron spektroskopisi olarak da bilinen X-ışını fotoelektron spektroskopisi (XPS), bir malzemenin yüzey kimyasını analiz etmeye yönelik bir tekniktir. Bu yöntem ile bir malzeme içindeki atomların kimyasal ve elektronik durumunun yanı sıra element bileşimi de ölçülmektedir.

Yüzey analizi, şu alanların anlaşılmasına katkıda bulunur: aşınma, tükenmişlik, tane sınırı ayrımı, kaplamalar, yağlama, oksidasyon, yorgunluk, yarı iletken/mikroelektronik, mikro devreler.

Genellikle bir reaksiyon sırasında her bir bileşikteki atomların oksidasyon sayılarındaki değişikliklere bakılmakta ve kimyasal reaksiyonları takip edilmektedir. Oksidasyon sayıları, kimyasal bileşiklerin sistematik isimlendirilmesinde de önemli bir rol oynar. Tanım olarak, bir atomun oksidasyon sayısı, bileşik iyonlardan oluşuyorsa atomun sahip olacağı yüktür. Sadece bir elementin atomlarını içeren nötr bir maddede bir atomun oksidasyon sayısı sıfırdır. Böylece, O2, O3, P4, S8 ve alüminyum metalindeki atomların tümü 0 oksidasyon numarasına sahiptir. Basit iyonların oksidasyon sayısı, iyon üzerindeki yüke eşittir. Örneğin Na+ iyonundaki sodyumun oksidasyon sayısı +1’dir ve Cl- iyonundaki klorun oksidasyon sayısı -1’dir.

Kısaca XPS, analitik bir yöntemdir. Bu yöntem ile, monokromatik X ışınlarına maruz bırakılan bir numuneden yayılan fotoelektronların kinetik enerjisi ölçülür. Yayılan elektronların enerjileri, mevcut elementlerin ve bu elementlerin oksidasyon durumunun karakteristiğidir.

Kuruluşumuz, çeşitli sektörlerdeki işletmeler için verdiği sayısız test, ölçüm, analiz ve değerlendirme çalışmaları arasında, eğitimli ve uzman bir kadro ve gelişmiş teknolojik donanımı ile, XPS analizi (element tipi ve oksidasyon numarası) test hizmetleri de vermektedir.