XRF (X ışını floresansı) tekniği, malzemelerin elementel bileşimini belirlemek için kullanılan tahribatsız bir analitik tekniktir. Bu teknik ile, XRF analizörleri, bir birincil X ışını kaynağı tarafından uyarılmakta ve bir numuneden yayılan X ışını floresansı ölçülerek bir numunenin kimyası belirlenmektedir. Bir numunede bulunan elementlerin her biri, o spesifik element için benzersiz olan bir dizi karakteristik X ışını floresansı üretir. Bu nedenle XRF spektroskopisi, malzeme bileşiminin kalitatif ve kantitatif analizi için mükemmel bir teknoloji olarak kabul edilmektedir.
Çoğu atomun birkaç elektron yörüngesi bulunmaktadır. X ışını enerjisi, elektronların bu yörünge seviyelerine girip çıkmasına neden olduğunda, spektrumda değişen yoğunluklarda XRF tepeleri oluşturulur. Zirve enerjisi elementi tanımlar ve zirve yüksekliği veya yoğunluğu genelde konsantrasyonunun göstergesidir.
Bu yöntem çeşitli endüstrilerde şu amaçlarla kullanılmaktadır:
Analiz sırasında, tüpe enerji verildiğinde analizör yönlendirilmiş bir radyasyon ışını yayar. Radyasyona maruz kalma durumunu mümkün olduğu kadar doz sınırlarının çok altında tutmak için makul çaba gösterilmelidir. Radyasyona maruz kalmayı en aza indiren üç faktör şunlardır: zaman, mesafe ve koruma.
Kuruluşumuz, çeşitli sektörlerdeki işletmeler için verdiği sayısız test, ölçüm, analiz ve değerlendirme çalışmaları arasında, eğitimli ve uzman bir kadro ve gelişmiş teknolojik donanımı ile, XRF tekniği ile malzeme içerik analizi hizmetleri de vermektedir.