Geçirimli (transmisyon) elektron mikroskobu, malzeme bilimi için çok güçlü bir araçtır. Yüksek enerjili bir elektron demeti çok ince bir numuneden geçer ve elektronlar ve atomlar arasındaki etkileşimler kristal yapı gibi özellikleri ve yapıdaki dislokasyonlar ve tane sınırları gibi özellikleri gözlemlemek için kullanılır. Bu yöntemle kimyasal analizler de yapılabilir.
TEM geçirimli elektron mikroskobu analiz yöntemi, katmanların büyümesini, bileşimlerini ve yarı iletkenlerdeki kusurları incelemek için kullanılır. Malzemelerin kalitesini, şeklini, boyutunu ve yoğunluğunu analiz etmek için yüksek çözünürlük kullanılır.
TEM geçirimli elektron mikroskobu analizi, ışık mikroskobu ile aynı temel prensiplerde çalışır, ancak ışık yerine elektronları kullanır. Elektronların dalga boyu ışığın dalga boyundan çok daha küçük olduğu için, bu analiz görüntüleri için elde edilen optimal çözünürlük, bir ışık mikroskobundan çok daha iyi bir büyüklük derecesidir. Böylece bu analiz yöntemi, iç yapının en ince ayrıntılarını, bazı durumlarda tek tek atomlar kadar küçük ayrıntıları ortaya çıkarabilir.
Görüntüleme işlemi sırasında elektron tabancasından gelen elektron demeti, yoğunlaştırıcı mercek kullanılarak küçük, ince, uyumlu bir demete odaklanır. Bu ışın, yüksek açılı elektronları hariç tutan yoğunlaştırıcı açıklığı ile sınırlandırılmıştır. Işın daha sonra numuneye çarpar ve parçaları, numunenin kalınlığına ve elektron şeffaflığına bağlı olarak iletir. Bu iletilen kısım, objektif lens tarafından fosfor ekran veya şarj bağlantılı cihaz kamera üzerindeki bir görüntüye odaklanır. Yüksek açılı kırınımlı elektronları bloke ederek kontrastı arttırmak için isteğe bağlı objektif açıklıkları kullanılır. Daha sonra görüntü tamamen büyütülür. Görüntü fosfor ekrana çarpar ve ışık üretilir, böylece kullanıcının görüntüyü görmesi sağlanır. Görüntünün daha koyu alanları, numunenin daha az elektronun iletildiği alanlarını temsil eder, görüntünün daha açık alanları ise, örneğin daha fazla elektronun iletildiği alanlarını temsil eder.
Bir test numunesi, minimum enerji kaybıyla bir görüntü oluşturmak için yeterli elektronları iletecek kadar ince olmalıdır. Bu nedenle numune hazırlama, TEM analiz sürecinin önemli bir yönüdür.
Kuruluşumuz, çeşitli sektörlerdeki işletmeler için verdiği sayısız test, ölçüm, analiz ve değerlendirme çalışmaları arasında, eğitimli ve uzman bir kadro ve gelişmiş teknolojik donanımı ile, TEM geçirimli elektron mikroskobu analizi hizmetleri de vermektedir.
Randevu almak, daha detaylı bilgi edinmek yada değerlendirme talep etmek için formumuzu doldurarak size ulaşmamızı isteyebilirsiniz.
EUROLAB, raporlama ve belgelendirme faaliyetlerini, United Accreditation Foundation (UAF), Türk Akreditasyon Kurumu (TÜRKAK), Enterprise Accreditation Foundation (EAF) kuruluşundan sağladığı akreditasyona dayanarak sürdürmektedir. Enterprise Accreditation Foundation (EAF), aynı zamanda Birleşmiş Milletler (UN GLOBAL COMPACT) imzacısıdır.
