EN IEC 62788-1-4 Photovoltaic Modules များတွင်အသုံးပြုသည့်ပစ္စည်းများအတွက် တိုင်းတာခြင်းနည်းလမ်းများ - အပိုင်း 1-4- Capsules - Optical Transmittance နှင့် Solar Weighted Photon Transmittance ၊ အဝါရောင်အညွှန်းကိန်း နှင့် UV Cut-off Wavelength ကို တိုင်းတာခြင်း

ဥရောပစံသတ်မှတ်ချက်တစ်ခု၏အခြေခံ၊ "EN IEC 62788-1-4 photovoltaic modules များတွင်အသုံးပြုသည့်ပစ္စည်းများအတွက်တိုင်းတာခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်များ - အပိုင်း 1-4- Encapsulations - optical transmittance တိုင်းတာခြင်းနှင့် နေရောင်ခြည်အလေးချိန်ရှိသော ဖိုတွန်ထုတ်လွှင့်ခြင်းဆိုင်ရာ တွက်ချက်ခြင်း၊ အဝါရောင်အညွှန်းကိန်းနှင့် UV cut-off wavelength" ကို နောက်ပိုင်းတွင်ထုတ်ဝေသော International Electro Commissions မှ ထုတ်ဝေသော International Electrotechnical Methods I မှထုတ်ဝေသော photovoltaic (PV) modules များတွင်အသုံးပြုသော encapsulating ပစ္စည်းများ၏ optical transmittance ။

ဤလုပ်ထုံးလုပ်နည်းရှိ စံချိန်စံညွှန်းတိုင်းတာမှုများသည် PV ဆဲလ်သို့ ကက်ကပ်စူလာ၏ မျှော်မှန်းထားသော ပို့လွှတ်မှုကို တွက်ချက်သည်။ နေရောင်ခြည်အလေးချိန်ဖြင့် ထုတ်လွှင့်ခြင်း၏ နောက်ဆက်တွဲတွက်ချက်မှုသည် မတူညီသောပစ္စည်းများကြားတွင် နှိုင်းယှဉ်မှုများကို ခွင့်ပြုပေးပါသည်။ ရာသီဥတုမဖောက်ပြန်သောပစ္စည်းအတွက် ရလဒ်များကို ကက်ပ်စူလာထုတ်လုပ်သူ၏ဒေတာစာရွက်များ၊ ထုတ်လုပ်သူ၏ပစ္စည်း သို့မဟုတ် လုပ်ငန်းစဉ်ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှု၊ ထုတ်လုပ်မှုအရည်အသွေးထိန်းချုပ်မှု (ပစ္စည်းလက်ခံမှု)၊ သို့မဟုတ် မော်ဂျူးစွမ်းဆောင်ရည်ကို ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းတွင် အသုံးပြုနိုင်သည်။

ဤတိုင်းတာခြင်းနည်းလမ်းကို မိုးဒဏ်ခံပြီးနောက် encapsulation ပစ္စည်းများ၏ စွမ်းဆောင်ရည်ကို စောင့်ကြည့်ရန်အတွက်လည်း ၎င်းတို့၏ တာရှည်ခံမှုကို အကဲဖြတ်ရန် ကူညီပေးနိုင်သည်။ စံပြုတိုင်းတာမှုများသည် ဆဲလ်တစ်ဝိုက်အောက်ဆီဂျင်ပျံ့နှံ့မှု၏အကျိုးသက်ရောက်မှုမရှိဘဲ PV module တစ်ခုအတွင်းအတွင်းပိုင်းဒေသကိုစစ်ဆေးရန် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသည်။ အဝါရောင်အညွှန်းကိန်း၏နောက်ဆက်တွဲတွက်ချက်မှုသည်ကြာရှည်ခံမှုနှင့်အသွင်အပြင်ကိုထည့်သွင်းစဉ်းစားရန်ခွင့်ပြုသည်။ ထုတ်လွှင့်မှု၊ အဝါရောင်အညွှန်းကိန်းနှင့် ခရမ်းလွန်ရောင်ခြည်ဖြတ်တောက်မှုလှိုင်းအလျားပြောင်းလဲမှုများကို encapsulation သို့မဟုတ် module ထုတ်လုပ်သူများက မတူညီသောပစ္စည်းများ၏ကြာရှည်ခံမှုကို နှိုင်းယှဉ်ရန်အတွက် အသုံးပြုနိုင်သည်။

ဤစံနှုန်း၏ရည်ရွယ်ချက်များအတွက်၊ အောက်ပါအသုံးအနှုန်းများနှင့် အဓိပ္ပါယ်ဖွင့်ဆိုချက်များ အကျုံးဝင်သည်-

• နေရောင်ခြည်အလေးချိန်ရှိသော ဖိုတွန်ထုတ်လွှင့်မှုသည် ကုန်းနေနေရောင်ခြည်ရောင်စဉ်၏ အကွာအဝေးတစ်ခုလုံးကိုဖြတ်၍နမူနာမှနေရောင်ခြည်ရောင်စဉ်ဖြာထွက်သည့်ရောင်စဉ်တန်းဖိုတွန်ရောင်ခြည်ဖြာထွက်မှု၏အပိုင်းကိုဖော်ပြသည် (280 nm မှ 2 nm)။ Photon irradiance သည် optical flux ၏ လှိုင်းအလျားအလိုက် စွမ်းအင်ကို ဖော်ပြပြီး spectral irradiance နှင့် မရောထွေးသင့်ပါ။
• ကိုယ်စားပြုနေရောင်ခြည်စွမ်းအင်သုံး ဖိုတွန်ရောင်ခြည်ဖြာထွက်မှု သည် ကုန်းနေနေရောင်ခြည်ရောင်စဉ်အကွာအဝေး (300 nm မှ 1250 nm) အကွာအဝေးရှိ နမူနာမှနေရောင်ခြည်ရောင်စဉ်တန်းမှ ရောင်စဉ်တန်းဖိုတွန်ရောင်ခြည်ဖြာထွက်သည့်အပိုင်းကို ဖော်ပြသည်။ PV စက်ပစ္စည်းကိစ္စရပ်တွင် ကိုယ်စားလှယ် PV ကိရိယာမှ အသုံးပြုသည့် ရောင်စဉ်ဘောင်တစ်လျှောက် နေရောင်ခြည်အလေးချိန်ထားသော ဖိုတွန်ရောင်ခြည်ဖြာထွက်မှုကို ကိုယ်စားပြုသည် (လှိုင်းအလျား 280 nm သို့မဟုတ် 2 nm အထိ) မပါဝင်နိုင်ပါ။
• UV cutoff wavelength သည် encapsulation ကို optically စုပ်ယူသည်ဟုယူဆပြီး encapsulation ကို transmitting ဟုယူဆသည့်အလင်း၏လှိုင်းအလျားကိုရည်ညွှန်းသည်။ ဤလုပ်ထုံးလုပ်နည်းတွင်၊ 10% absolute transmittance ကို UV cutoff wavelength အတွက် တံခါးခုံအဖြစ် သတ်မှတ်သည်။ UV cutoff wavelength ကို corrosion ၏အကျိုးသက်ရောက်မှုကိုတိုင်းတာရန်လည်းအသုံးပြုနိုင်ပါသည်။
• ပွန်းပဲ့ခြင်းဆိုသည်မှာ ခရမ်းလွန်ရောင်ခြည်၊ အပူချိန်၊ စိုထိုင်းဆနှင့် အိုဇုန်းဓာတ်များ ပါဝင်နိုင်သည့် ပတ်ဝန်းကျင်အခြေအနေများသို့ နမူနာများကို ဖော်ထုတ်သည့် လုပ်ငန်းစဉ်ကို ရည်ညွှန်းသည်။ ပွန်းပဲ့ခြင်းသည် အတု သို့မဟုတ် သဘာဝ ပတ်ဝန်းကျင်တွင် ဖြစ်ပွားနိုင်သည်။ ပွန်းပဲ့ခြင်းသည် အမည်ခံ (ဧရိယာ) သို့မဟုတ် အရှိန်မြှင့်သည့်နှုန်းဖြင့် ဖြစ်ပွားနိုင်သည်။
• အဝါရောင်အညွှန်းကိန်းသည် လူသားအကဲခတ်သူတစ်ဦးမှ ရိပ်မိသည့် စမ်းသပ်နမူနာတစ်ခု၏ အဝါရောင်ကို ဖော်ပြသည့် တွက်ချက်တန်ဖိုးတစ်ခုဖြစ်သည်။ မိုးလေဝသ၏ သက်ရောက်မှုများကို တွက်ချက်ရန် ဤတန်ဖိုးကို အသုံးပြုနိုင်သည်။

မူအရ၊ encapsulation material ပါရှိသော laminated နမူနာများ၏ စုစုပေါင်းရောင်စဉ်တန်းထုတ်လွှတ်မှုအား ပေါင်းစပ်စက်လုံးတစ်ခုတပ်ဆင်ထားသော spectrophotometer ကိုအသုံးပြု၍ တိုင်းတာသည်။ ထို့နောက် နေရောင်ခြည်ဖြင့် အလေးချိန်ရှိသော ထုတ်လွှင့်မှု၊ အဝါရောင်အညွှန်းကိန်းနှင့် ခရမ်းလွန်ရောင်ခြည်ဖြတ်တောက်မှုလှိုင်းအလျားတို့ကို ထုတ်လွှင့်မှုတိုင်းတာချက်များမှ တွက်ချက်သည်။ ဤလုပ်ထုံးလုပ်နည်းကို အသုံးပြု၍ တိုင်းတာထားသော ထုတ်လွှင့်မှုအား စံနောက်ဆက်တွဲ (နောက်ဆက်တွဲ A) တွင်ဖော်ပြထားသည့်အတိုင်း PV စွမ်းဆောင်ရည်ပိုင်းခြားစိတ်ဖြာမှု၏တိကျမှုကို မြှင့်တင်ရန် သို့မဟုတ် မတူညီသော encapsulation ပစ္စည်းများအကြား ပိုင်းခြားရန် ပိုမိုအဆင့်မြင့်သော optical analysis တွင် အသုံးပြုနိုင်သည်။ နောက်ဆက်တွဲ B တွင်ဖော်ပြထားသည့်အတိုင်း PV cell quantum ထိရောက်မှုကို သိရှိပါက မော်ဂျူးစွမ်းဆောင်ရည် (လက်ရှိထိရောက်မှု) ကို ခန့်မှန်းရန်အတွက် ဤလုပ်ထုံးလုပ်နည်းကိုအသုံးပြု၍ တိုင်းတာထားသော transmittance ကို အသုံးပြုနိုင်သည်။ အထူးသဖြင့် optical အာရုံစူးစိုက်မှုကိုအသုံးပြုပါက၊ အထူးသဖြင့် optical အာရုံစူးစိုက်မှုကိုအသုံးပြုပါက ထုတ်လွှင့်မှုထောင့်ပြောင်းလဲမှုများအတွက် ထည့်သွင်းစဉ်းစားရန်မကြိုးပမ်းပါ။

ဤစမ်းသပ်မှုတွင်အသုံးပြုသည့် စမ်းသပ်ကိရိယာတွင် ပေါင်းစပ်စက်လုံးတစ်ခုတပ်ဆင်ထားသော dual-beam spectrophotometer ပါ၀င်ပါသည်။ port reflectance ကို သင့်လျော်စွာ တွက်ချက်နိုင်လျှင် single-beam spectrophotometer ကို အသုံးပြုနိုင်သည်။ စမ်းသပ်ကိရိယာဖွဲ့စည်းပုံနှင့် ဖွဲ့စည်းမှုဆိုင်ရာ အသေးစိတ်အချက်အလက်များကို ISO 13468-2 သို့မဟုတ် ASTM E424-71 တွင် ပါရှိသည်။ IEC 60904-3 တွင်ကဲ့သို့ AM1.5 spherical spectrum ကို အသုံးပြု၍ နေရောင်ခြည်အလေးချိန် ထုတ်လွှတ်မှု တွက်ချက်မှုအတွက် အနည်းဆုံး 280 nm မှ 2 nm အတိုင်းအတာ လိုအပ်ပါသည်။ တိုင်းတာခြင်းအတွက် 500 nm ထက်မပိုသော လှိုင်းအလျားတိုးခြင်းကို ဦးစားပေးသော်လည်း linear interpolation ဖြင့် 1 nm အထိ တိုးခြင်းကို ခွင့်ပြုထားသည်။ တိုင်းတာမှုအမှားအယွင်းကို လျှော့ချရန်၊ အချင်းအနည်းဆုံး 1 မီလီမီတာရှိသော ဆိပ်ကမ်းဧရိယာ အနည်းဆုံး 5 ရာခိုင်နှုန်းရှိသော စက်လုံးတစ်ခုကို အကြံပြုထားသည်။

ကျွန်ုပ်တို့၏အဖွဲ့အစည်းတွင် သိပ္ပံနှင့်နည်းပညာဆိုင်ရာ ကမ္ဘာလုံးဆိုင်ရာတိုးတက်မှုများကို အနီးကပ်လိုက်နာပြီး စဉ်ဆက်မပြတ်တိုးတက်စေရန် ကတိကဝတ်ပြုထားသော ခိုင်မာသောဝန်ထမ်းအဖွဲ့တစ်ဖွဲ့ရှိသည်။ ကဏ္ဍအသီးသီးရှိ စီးပွားရေးလုပ်ငန်းများအတွက် ပံ့ပိုးပေးသော စမ်းသပ်ခြင်း၊ တိုင်းတာခြင်း၊ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းနှင့် အကဲဖြတ်ခြင်း ဝန်ဆောင်မှုများစွာရှိသည့်အနက် EN IEC 62788-1-4 စံနှုန်းနှင့်အညီ စမ်းသပ်ခြင်းဝန်ဆောင်မှုများကို ကျွန်ုပ်တို့ ပေးဆောင်လျက်ရှိပါသည်။ အညွှန်းနှင့် UV Cutoff Wavelength။"