EN European Norm Tests အခန်း ၅၈

EN European Norm Tests အခန်း ၅၈

EN စံနှုန်းများသည် ဥရောပစံနှုန်းများဖြစ်သည်။ ဤစံနှုန်းများသည် သီးခြားပစ္စည်း၊ ပစ္စည်း၊ အစိတ်အပိုင်း၊ စနစ် သို့မဟုတ် ဝန်ဆောင်မှုအတွက် လိုအပ်ချက်များကို သတ်မှတ်ပေးသည်၊ သို့မဟုတ် သီးခြားနည်းလမ်း သို့မဟုတ် လုပ်ထုံးလုပ်နည်းတစ်ခုကို အသေးစိတ်ဖော်ပြပြီး စမ်းသပ်မှုများကို လျော်ညီစွာ လုပ်ဆောင်ပါသည်။

EN European Norm Tests အခန်း ၅၈

  • EN 129101: 1995; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အလွတ်အသေးစိတ် သတ်မှတ်ချက်- အကဲဖြတ်အရည်အသွေးရှိသော ဝါယာကြိုး-အနာရှိသော မျက်နှာပြင် တပ်ဆင်ထားသည့် အင်ဒိုက်တာများ။ အကဲဖြတ်အဆင့် E
  • EN 129102: 1995; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ အလွတ်အသေးစိတ် သတ်မှတ်ချက်- အကဲဖြတ်အရည်အသွေးရှိသော ဝါယာကြိုး-အနာရှိသော မျက်နှာပြင် တပ်ဆင်ထားသည့် အင်ဒိုက်တာများ။ အကဲဖြတ်ခြင်းအဆင့် P
  • EN 129200: 1996; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အပိုင်းခွဲဝိသေသလက္ခဏာများ- RF ဆားကစ်များအတွက် ကြေးနီဝိုင်ယာဖြင့် ကြွေထည် သို့မဟုတ် ferrite cores များပါသော ပုံသေ inductors များ။
  • EN 129201 : 1995 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- ကြွေထည် သို့မဟုတ် ဖာရစ်အူတိုင်ပါရှိသော ဝါယာကြိုး-အနာ inductors။ အကဲဖြတ်အဆင့် E
  • EN 129202 : 1995 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ ကွက်လပ်အသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- ကြွေထည် သို့မဟုတ် ဖာရစ်အူတိုင်များပါသော ကြိုးတပ်လျှပ်ကူးပစ္စည်းများ။ အကဲဖြတ်ခြင်းအဆင့် P
  • EN 130000 : 1994 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ယေဘူယျလက္ခဏာများ- ပုံသေ capacitors။
  • EN 130100: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အပိုင်းပိုင်းလက္ခဏာများ- တိုက်ရိုက်လျှပ်စီးကြောင်းအတွက် ပုံသေ polyethylene-terephthalate ရုပ်ရှင် dielectric သတ္တုသတ္တုပြား capacitors ။
  • EN 130101: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- တိုက်ရိုက်လျှပ်စီးကြောင်းအတွက် ပုံသေ polyethylene-terephthalate ရုပ်ရှင် dielectric metal foil capacitors။ အကဲဖြတ်အဆင့် E
  • EN 130102: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- တိုက်ရိုက်လျှပ်စီးကြောင်းအတွက် ပုံသေ polyethylene-terephthalate ရုပ်ရှင် dielectric metal foil capacitors။ အကဲဖြတ်အဆင့် EZ ။
  • EN 130200 : 1993 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အပိုင်းပိုင်းလက္ခဏာများ- အစိုင်အခဲမဟုတ်သော သို့မဟုတ် အစိုင်အခဲမဟုတ်သော အီလက်ထရောနစ်ဖြင့် ပုံသေတန်တလမ် ကာပတ်စီများ။
  • EN 130201: 1995; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- အစိုင်အခဲအီလက်ထရောနစ်ပါရှိသော ပုံသေတန်တလမ် ကာပတ်စီတာများ၊ porous anode (family 3)။
  • EN 130202: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အလွတ်အသေးစိတ် သတ်မှတ်ချက်- အစိုင်အခဲမဟုတ်သော အီလက်ထရောနစ်၊ porous anode (family 2) ပါသော ပုံသေ tantalum capacitors။
  • EN 130300: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ကဏ္ဍခွဲဝိသေသလက္ခဏာများ- အစိုင်အခဲနှင့် အခဲမဟုတ်သော အီလက်ထရောနစ်ပါရှိသော အလူမီနီယံ အီလက်ထရောနစ် ကာပတ်တာများ။
  • EN 130500: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ကဏ္ဍခွဲဝိသေသလက္ခဏာများ- တိုက်ရိုက်လျှပ်စီးကြောင်းအတွက် ပုံသေသတ္တုဖြင့်ပြုလုပ်ထားသော ပိုလီကာဗွန်နိတ်ရုပ်ရှင်ဒိုင်လျှပ်စစ် ကာပတ်စီတာများ။
  • EN 130501: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- တိုက်ရိုက်လျှပ်စီးကြောင်းအတွက် ပုံသေသတ္တုဖြင့်ပြုလုပ်ထားသော ပိုလီကာဗွန်နိတ်ရုပ်ရှင်ဒိုင်လျှပ်စစ် ကာပတ်တာများ။ အကဲဖြတ်အဆင့် E
  • EN 130502: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- တိုက်ရိုက်လျှပ်စီးကြောင်းအတွက် ပုံသေသတ္တုဖြင့်ပြုလုပ်ထားသော ပိုလီကာဗွန်နိတ်ရုပ်ရှင်ဒိုင်လျှပ်စစ် ကာပတ်တာများ။ အကဲဖြတ်အဆင့် EZ ။
  • EN 130800 : 2001 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ပုဒ်မ သတ္တိ။ Tantalum မျက်နှာပြင် mount capacitors ။
  • EN 130900: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ကဏ္ဍခွဲဝိသေသလက္ခဏာများ- ပုံသေ polystyrene ရုပ်ရှင် dielectric သတ္တုသတ္တုပါး dc capacitors ။
  • EN 130901: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- ပုံသေ polystyrene ဖလင် dielectric သတ္တုသတ္တုပြား dc capacitors ။ အကဲဖြတ်အဆင့် E
  • EN 130902: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- ပုံသေ polystyrene ဖလင် dielectric သတ္တုသတ္တုပြား dc capacitors ။ အကဲဖြတ်အဆင့် EZ ။
  • EN 131700: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အပိုင်းပိုင်းဝိသေသလက္ခဏာများ- ပါးလွှာသောသတ္တုသတ္တုပြားလျှပ်ကြောင်းများနှင့် ပိုလီကာဗွန်နိတ်ရုပ်ရှင် dielectric ပါသည့် တိုက်ရိုက်လျှပ်စီးကြောင်းအတွက် ပုံသေ capacitors။
  • EN 131701: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- ပါးလွှာသောသတ္တုသတ္တုပြားလျှပ်ကြောင်းများနှင့် ပိုလီကာဗွန်နိတ်ရုပ်ရှင် dielectric ပါသည့် တိုက်ရိုက်လျှပ်စီးအတွက် ပုံသေ capacitors။ အကဲဖြတ်အဆင့် E
  • EN 131702: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- ပါးလွှာသောသတ္တုသတ္တုပြားလျှပ်ကြောင်းများနှင့် ပိုလီကာဗွန်နိတ်ရုပ်ရှင် dielectric ပါသည့် တိုက်ရိုက်လျှပ်စီးအတွက် ပုံသေ capacitors။ အကဲဖြတ်အဆင့် EZ ။
  • EN 131800: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အပိုင်းဝိသေသလက္ခဏာများ- ပုံသေ polypropylene ရုပ်ရှင် dielectric သတ္တုသတ္တုပြား dc capacitors ။
  • EN 131801: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- ပုံသေ polypropylene ဖလင် dielectric သတ္တုသတ္တုပြား dc capacitors ။ အကဲဖြတ်အဆင့် E
  • EN 131802: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- ပုံသေ polypropylene ဖလင် dielectric သတ္တုသတ္တုပြား dc capacitors ။ အကဲဖြတ်အဆင့် EZ ။
  • EN 132100: 1997; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အပိုင်းခွဲဝိသေသလက္ခဏာများ- ပုံသေများစွာသောကြွေထည်မျက်နှာပြင် mount capacitors။ အကဲဖြတ်မှုအဆင့် EZ နှင့် DZ ။
  • EN 132101: 1993; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ ဗလာအသေးစိတ်ပိုင်ဆိုင်မှု။ ပုံသေ အလွှာစုံ ကြွေချပ်ပြား ကာပါစီတာများ။
  • EN 132101: 1997; ဗလာအသေးစိတ်ပိုင်ဆိုင်မှု။ ဖန်သားပြင်များစွာသော ကြွေထည်မျက်နှာပြင် mount capacitors။ အကဲဖြတ်အဆင့် EZ ။
  • EN 132102: 1997; ဗလာအသေးစိတ်ပိုင်ဆိုင်မှု။ ဖန်သားပြင်များစွာသော ကြွေထည်မျက်နှာပြင် mount capacitors။ အကဲဖြတ်အဆင့် DZ။
  • EN 132400 : 1995 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ပုဒ်မ သတ္တိ။ လျှပ်စစ်သံလိုက်ဝင်ရောက်စွက်ဖက်မှုကို နှိမ်နင်းရန်နှင့် ထောက်ပံ့ရေးကွန်ရက်သို့ ချိတ်ဆက်မှုအတွက် ပုံသေ capacitors (Rating Level D)။
  • EN 132401 : 1995 ; အီလက်ထရွန်နစ်အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ အလွတ်အသေးစိတ် သတ်မှတ်ချက်- လျှပ်စစ်သံလိုက်ဝင်ရောက်စွက်ဖက်မှုကို နှိမ်နှင်းရန်နှင့် ပင်မများသို့ ချိတ်ဆက်မှုအတွက် ပုံသေပါဝါစီတာများ။ အကဲဖြတ်အဆင့် D ။
  • EN 132421 : 1997 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- လျှပ်စစ်သံလိုက်ဝင်ရောက်စွက်ဖက်မှုကိုနှိမ်နင်းရန်အတွက် ပုံသေ capacitors။ ဘေးကင်းရေးစစ်ဆေးမှုများ လိုအပ်သည့် ကာဗာစီတာများ (ဘေးကင်းရေးစစ်ဆေးမှုများသာ)။
  • EN 133000: 1997; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ယေဘုယျသတ်မှတ်ချက်- လျှပ်စစ်သံလိုက်ဝင်ရောက်စွက်ဖက်မှုကို နှိမ်နင်းရန်အတွက် passive filter ယူနစ်များ။
  • EN 133100: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ကဏ္ဍအလိုက်လက္ခဏာများ- လျှပ်စစ်သံလိုက်ဝင်ရောက်စွက်ဖက်မှုကို နှိမ်နင်းရန်အတွက် passive filter ယူနစ်များ။ လုံခြုံရေးစစ်ဆေးမှုများမလိုအပ်သည့် စစ်ထုတ်မှုများ။
  • EN 133101: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အလွတ်အသေးစိတ်သတ်မှတ်ချက်- လျှပ်စစ်သံလိုက်ဝင်ရောက်စွက်ဖက်မှုကို နှိမ်နင်းရန်အတွက် Passive filter ယူနစ်များ။ လုံခြုံရေးစစ်ဆေးမှုများမလိုအပ်သည့် စစ်ထုတ်မှုများ။
  • EN 133200 : 1995 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ကဏ္ဍအလိုက်လက္ခဏာများ- လျှပ်စစ်သံလိုက်ဝင်ရောက်စွက်ဖက်မှုကို နှိမ်နင်းရန်အတွက် passive filter ယူနစ်များ (ဘေးကင်းရေးစစ်ဆေးမှုလိုအပ်သည့် filter များ)။
  • EN 133200 : 1999 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ကဏ္ဍအလိုက်လက္ခဏာများ- လျှပ်စစ်သံလိုက်ဝင်ရောက်စွက်ဖက်မှုကို နှိမ်နင်းရန်အတွက် passive filter ယူနစ်များ (ဘေးကင်းရေးစစ်ဆေးမှုလိုအပ်သည့် filter များ)။
  • EN 133201: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- လျှပ်စစ်သံလိုက်ဝင်ရောက်စွက်ဖက်မှုကို နှိမ်နင်းရန်အတွက် Passive filter ယူနစ်များ။ လုံခြုံရေးစစ်ဆေးမှုများ လိုအပ်သည့် စစ်ထုတ်မှုများ။
  • EN 133221: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- လျှပ်စစ်သံလိုက်ဝင်ရောက်စွက်ဖက်မှုကို နှိမ်နင်းရန်အတွက် Passive filter ယူနစ်များ။ လုံခြုံရေးစစ်ဆေးမှုများ လိုအပ်သည့် စစ်ထုတ်မှုများ (လုံခြုံရေးစစ်ဆေးမှုများသာ)။
  • EN 134000: 1995; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ယေဘူယျအင်္ဂါရပ်များ- ပြောင်းလဲနိုင်သော capacitors။ (အရည်အချင်းအတည်ပြုခြင်းနှင့် အရည်အချင်းအတည်ပြုခြင်း)။
  • EN 134100: 1996; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ကဏ္ဍခွဲဝိသေသလက္ခဏာများ- ပြောင်းလဲနိုင်သော ကာပတ်စီတာများ (အရည်အချင်းအတည်ပြုချက်)။
  • EN 134101: 1995; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ ကွက်လပ်အသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- တစ်လှည့်စီ အပြားကို ချောမွတ်စေသော ကာပတ်စီတာများ (အရည်အချင်းအတည်ပြုချက်)။
  • EN 134102: 1995; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- multi-turn concentric capacitors (အရည်အချင်းအတည်ပြုချက်)။
  • EN 134103: 1995; အီလက်ထရွန်နစ်အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- vane type air dielectric capacitors (အရည်အချင်းအတည်ပြုချက်)။
  • EN 134104 : 1995 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- ဖိသိပ်မှုအမျိုးအစား ဖြတ်စက် ကာပတ်စီတာများ (အရည်အချင်းအတည်ပြုချက်)။
  • EN 137000: 1996; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ယေဘူယျလက္ခဏာများ : မော်တာများနှင့်အသုံးပြုရန်အတွက် အစိုင်အခဲမဟုတ်သော အီလက်ထရွန်းမပါသော အလူမီနီယံလျှပ်စစ်ဓာတ်အားသွင်းကိရိယာများ။
  • EN 137100: 1996; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ပုဒ်မ သတ္တိ။ မော်တာစတင်ခြင်းဆိုင်ရာ အသုံးချမှုများအတွက် အစိုင်အခဲမဟုတ်သော အီလက်ထရောနစ်ဖြင့် အလူမီနီယံလျှပ်စစ်ဓာတ်အားသွင်းကိရိယာများကို ပုံသေပြုလုပ်ထားသည်။ အရည်အချင်းအတည်ပြုချက်။
  • EN 137101: 1996; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်ပိုင်ဆိုင်မှု။ မော်တာစတင်အသုံးပြုခြင်းအတွက် အလူမီနီယမ်လျှပ်စစ်ဓာတ်အားလျှပ်စစ်ဓာတ်အားသွင်းကိရိယာများကို အစိုင်အခဲမဟုတ်သော အီလက်ထရောနစ်ဖြင့် ပြုပြင်ပေးသည် (အရည်အချင်းအတည်ပြုချက်)။
  • EN 138000: 1997; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ယေဘူယျသတ်မှတ်ချက်- လျှပ်စစ်သံလိုက်ဝင်ရောက်စွက်ဖက်မှုကို နှိမ်နင်းရန်အတွက် ပုံသေ inductors (ဘေးကင်းရေးစစ်ဆေးမှုများလိုအပ်သည့် inductors)။
  • EN 138100: 1997; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ကဏ္ဍအလိုက်လက္ခဏာများ : လျှပ်စစ်သံလိုက်ဝင်ရောက်စွက်ဖက်မှုကို နှိမ်နင်းရန်အတွက် ပုံသေ inductors (ဘေးကင်းရေးစစ်ဆေးမှုလိုအပ်သော inductors)။
  • EN 138101: 1997; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အလွတ်အသေးစိတ် သတ်မှတ်ချက်- လျှပ်စစ်သံလိုက်ဝင်ရောက်စွက်ဖက်မှုကို နှိမ်နင်းရန်အတွက် ပုံသေ inductors (ဘေးကင်းရေးစစ်ဆေးမှု လိုအပ်သည့် inductors)။ အကဲဖြတ်အဆင့် D ။
  • EN 140000 : 1995 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ယေဘူယျအင်္ဂါရပ်များ- ပုံသေ ခံနိုင်ရည်များ။
  • EN 140100 : 2008 ; ပုဒ်မ သတ္တိ။ ပါဝါနည်းသော ဖလင်ခုခံအားကို ပြုပြင်ပေးသည်။
  • EN 140101-806 : 2008+A1 : 2013 ; အသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်များ : ပါဝါနိမ့်သောဖလင်ခုခံအားများကို ပုံသေသတ်မှတ်ထားသည်။ အဆင့်မြင့် ကြွေထည်၊ ဖော်စပ်စွာ အုပ်ထားသော သို့မဟုတ် ပုံသွင်းထားသော၊ axial သို့မဟုတ် ကြိုတင်ထားသော စွန်းများပေါ်တွင် သတ္တုဖလင် ခုခံမှုကိရိယာများ။
  • EN 140101: 1997; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အလွတ်အသေးစိတ် သတ်မှတ်ချက်- ပုံသေ ပါဝါနည်းသော ရေဒီယိုအနာခံကိရိယာများ (အဆင့်သတ်မှတ်ချက် S)။
  • EN 140101: 2008 ; Blank Detail Specification ပါဝါနည်းသော ဖလင်ခုခံအားကို ပြုပြင်ပေးသည်။
  • EN 140102: 1996; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- ဝိုင်ယာကြိုးမဟုတ်သော စွမ်းအားနည်းသော ခုခံမှုစနစ်များ (အဆင့်သတ်မှတ်ချက် M)။
  • EN 140103: 1996; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်ပိုင်ဆိုင်မှု။ ဝိုင်ယာအနာမရှိသော ပါဝါအားနည်းသော ခုခံအားစနစ် (Rating အဆင့် P) ကို ပြုပြင်ထားသည်။
  • EN 140104: 1996; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- ဝိုင်ယာကြိုးမဟုတ်သော ပါဝါအားနည်းသော ဒဏ်ရာဒဏ်ခံကိရိယာများ (အဆင့်သတ်မှတ်ခြင်းအဆင့် SB နှင့် SC)။
  • EN 140200: 1997; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အပိုင်းဝိသေသလက္ခဏာများ- အဆက်မပြတ်ပါဝါခုခံမှု။
  • EN 140201: 1997; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- အဆက်မပြတ်ပါဝါခုခံခံကိရိယာများ (အဆင့်သတ်မှတ်ချက် S)။
  • EN 140202: 1997; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- အဆက်မပြတ်ပါဝါခုခံခံကိရိယာများ (အဆင့်သတ်မှတ်ချက် M)။
  • EN 140203: 1997; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- အဆက်မပြတ်ပါဝါခုခံခံကိရိယာများ (အဆင့်သတ်မှတ်ချက် H)။
  • EN 140210 : 1995 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အပိုင်းဝိသေသလက္ခဏာများ- အဆက်မပြတ်ပါဝါခုခံမှု။ အရည်အချင်းအတည်ပြုချက်။
  • EN 140211: 1995; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- အဆက်မပြတ် ပါဝါခုခံမှု။ အရည်အချင်းအတည်ပြုချက်။
  • EN 140400 : 1997 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ကဏ္ဍခွဲဝိသေသလက္ခဏာများ- ပုံသေပါဝါနိမ့်သောမျက်နှာပြင်တပ်ဆင်ခြင်း (SMD) ခုခံမှုကိရိယာများ။
  • EN 140401-801 : 2007+A1 : 2013 ; အသေးစိတ်သတ်မှတ်ချက်များ- ပါဝါနည်းသောဖလင် SMD ခုခံအားများကို ပုံသေသတ်မှတ်ထားသည်။ စတုဂံ တည်ငြိမ်မှုအတန်း 0,1 ; 0,25 ; 0,5 ; တစ်ခု ;
  • EN 140401-802 : 2007+A2 : 2013 ; အသေးစိတ်သတ်မှတ်ချက်များ- ပါဝါနည်းသောဖလင် SMD ခုခံအားများကို ပုံသေသတ်မှတ်ထားသည်။ စတုဂံ တည်ငြိမ်မှုသင်တန်းများ 1 ; 2nd ;
  • EN 140401-803 : 2007+A2 : 2013 ; အသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်များ- ပါဝါနည်းသောဖလင် SMD ခုခံအားများကို ပုံသေသတ်မှတ်ထားသည်။ ကျည်ဆန်။ တည်ငြိမ်မှုအတန်း 0,05 ; 0,1 ; 0,25 ; 0,5 ; တစ်ခု ; 1nd ;
  • EN 140401-804 : 2005 ; အသေးစိတ်သတ်မှတ်ချက်များ။ ပါဝါအားနည်းသော၊ ဝါယာကြိုးမဟုတ်သော မြင့်မားသော တည်ငြိမ်မှုရှိသော မျက်နှာပြင်တပ်ဆင်ခြင်း (SMD) ခုခံအားစနစ်ကို ပြုပြင်ပေးသည်။ စတုဂံ တည်ငြိမ်မှုအတန်း 0,1;0,25 ;
  • EN 140401-804 : 2011+A1 : 2013 ; အသေးစိတ်ဖော်ပြချက်- ပါဝါနိမ့်ရုပ်ရှင် မြင့်မားသော တည်ငြိမ်မှုရှိသော SMD ခုခံအားများကို ပုံသေသတ်မှတ်ထားသည်။ စတုဂံ တည်ငြိမ်မှုအတန်း 0,1 ; 0,25 ;
  • EN 140401: 1997; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်ပိုင်ဆိုင်မှု။ ပါဝါနိမ့်သော၊ ရေဒီယိုအနာမျက်နှာပြင်တပ်ဆင်ခြင်း (SMD) ခုခံမှုကိရိယာများကို ပြုပြင်ထားသည်။
  • EN 140401: 2009; Blank Detail Specification ပါဝါနည်းသော ဖလင်မျက်နှာပြင် တပ်ဆင်ခြင်း (SMD) ခုခံအားများကို ပြုပြင်ထားသည်။
  • EN 140402-801 : 2005 ; အသေးစိတ်သတ်မှတ်ချက်များ- ပါဝါဝိုင်ယာအနာအဆာများ မျက်နှာပြင်တပ်ဆင်မှု (SMD) ခုခံအားနည်းသော ကိရိယာများကို ပြုပြင်ထားသည်။ စတုဂံ တည်ငြိမ်မှုအတန်း 0,5 ; တစ်ခု ; 1nd ;
  • EN 140402-801 : 2015 ; အသေးစိတ်သတ်မှတ်ချက်များ- ပါဝါအားနည်းသောကြိုးတပ်မျက်နှာပြင်တပ်ဆင်ခြင်း (SMD) ခုခံမှုကိရိယာများကို ပုံသေသတ်မှတ်ထားသည်။ စတုဂံ တည်ငြိမ်မှုအတန်း 0,5 ; တစ်ခု ; 1nd ;
  • EN 140402: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- ပါဝါဝါယာကြိုး-အနာပေါက်သည့်မျက်နှာပြင်တပ်ဆင်မှု (SMD) ခုခံအားနည်းသော ကိရိယာများ။
  • EN 140402: 2015; Blank Detail Specification : ပါဝါဝိုင်ယာအနာအဆာနည်းသောမျက်နှာပြင်တပ်ဆင်ခြင်း (SMD) resistors များကို ပြုပြင်ထားသည်။
  • EN 141101 : 1992 ; အီလက်ထရွန်နစ်အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ ဗလာအသေးစိတ်ပိုင်ဆိုင်မှု။ ခဲဝက်အူနှင့် rotary potentiometers များကို ကြိုတင်သတ်မှတ်ပါ။
  • EN 143000 : 1992 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်း စနစ် : ယေဘူယျ လက္ခဏာများ : တိုက်ရိုက် အပူအနုတ်လက္ခဏာ အပူချိန် ဖော်ကိန်း သာမစ်စတာများ။
  • EN 143001 : 1992 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ အချည်းနှီးသောအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- တိုက်ရိုက်အပူပေးထားသော အနုတ်လက္ခဏာအပူချိန်ဖော်ကိန်း အပူချိန်ထိန်းကိရိယာများ (ဖန်ခွက်အပြည့် သို့မဟုတ် ဖန်သားကြွေလွှာပုတီးစေ့များ)။
  • EN 143002: 1992; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- တိုက်ရိုက်အပူပေးသည့် အနုတ်လက္ခဏာဆောင်သောအပူချိန် အပူချိန်ထိန်းကိရိယာများ (စာအိတ်များတွင် ပုတီးစေ့များ)။
  • EN 143003: 1992; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ အချည်းနှီးသောအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- တိုက်ရိုက်အနုတ်လက္ခဏာအပူချိန် coefficient thermistors (disc အမျိုးအစား)။
  • EN 143004: 1992; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ အချည်းနှီးသောအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- တိုက်ရိုက်အနုတ်လက္ခဏာအပူချိန် coefficient thermistors (rod အမျိုးအစား)။
  • EN 144000 : 1994 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ယေဘူယျလက္ခဏာများ- ပုံမှန်အားဖြင့် ပြုပြင်ထားသော ferroelectric ပစ္စည်းများမှ ပြုလုပ်ထားသော အပြုသဘောဆောင်သော အပူချိန် ဖော်ကိန်း သာမိုစင်များကို တိုက်ရိုက် အပူပေးသည်။
  • EN 144001 : 1995 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- တိုက်ရိုက်အပူပေးထားသော အပြုသဘောဆောင်သော အပူချိန် ကိန်းဂဏာန်းထိန်းစက်များသည် လက်ရှိကန့်သတ်ချက်အတွက် အဓိကအားဖြင့် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသည်။
  • EN 144002: 1995; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- အပူဒြပ်စင်အတွက် အဓိကအားဖြင့် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသော အပြုသဘောဆောင်သော အပူချိန်ကို တိုက်ရိုက်အပူပေးသော အပူချိန်ထိန်းကိရိယာများ။
  • EN 144003: 1995; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ အချည်းနှီးသောအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- တိုက်ရိုက်အပူပေးထားသော အပြုသဘောဆောင်သော အပူချိန်ဖော်ကိန်း အပူချိန်ထိန်းစက်များသည် လျှပ်စီးကြောင်းအတွက် အဓိကအားဖြင့် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသည်။
  • EN 144004: 1995; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- အပူချိန်အာရုံခံမှုအတွက် အဓိကအားဖြင့် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသော အပြုသဘောဆောင်သောအပူချိန်ကို တိုက်ရိုက်အပူပေးထားသော အပူချိန်ထိန်းကိရိယာများ။
  • EN 147000 : 1995 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အထွေထွေသတ်မှတ်ချက်။ အဆင့်သတ်မှတ်ထားသော အရည်အသွေးရှိသော လျှပ်စစ် relay များနှင့် အသုံးပြုရန်အတွက် ပလပ်များ။
  • EN 147100 : 1995 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ကဏ္ဍခွဲဝိသေသလက္ခဏာများ- အကဲဖြတ်ထားသော အရည်အသွေး၏ ထပ်ဆင့်ခြေစွပ်များ။
  • EN 147101: 1995; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ အချည်းနှီးသောအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- အကဲဖြတ်အရည်အသွေး၏ ထပ်လောင်းခြေစွပ်များ။
  • EN 150001: 1993; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- ယေဘူယျရည်ရွယ်ချက် တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးတာဒိုင်အိုဒိတ်။
  • EN 150008 : 1993 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- ပတ်ဝန်းကျင်အဆင့် rectifier diodes။
  • EN 150009 : 1993 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- ပြည်နယ်အဆင့် rectifier diodes။
  • EN 150010 : 1993 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ Null အသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- ပတ်ဝန်းကျင်အဆင့် သိုင်းရစ်စတာများ။
  • EN 150011 : 1993 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- case-grade thyristors။
  • EN 150013 : 1993 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- လက်ရှိ ထိန်းညှိကိရိယာနှင့် လက်ရှိရည်ညွှန်းဒိုင်အိုဒိတ်။
  • EN 150014: 1997; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အချည်းနှီးသောအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- Thyristor diodes၊ ဖြတ်ကျော်ဗို့အားကို နှိမ်နှင်းသောကိရိယာများ။
  • EN 150015 : 1993 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ Null detail feature- unidirectional transient overvoltage suppressor diodes။
  • EN 153000: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ယေဘူယျသတ်မှတ်ချက်- သီးခြားဖိအားအဆက်အသွယ်ပါဝါတစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးကိရိယာများ (အရည်အချင်းအတည်ပြုချက်)။
  • EN 160000 : 1993 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အထွေထွေအင်္ဂါရပ်များ- မော်ဂျူလာအီလက်ထရွန်နစ်ယူနစ်များ။
  • EN 160100: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အပိုင်းခွဲသတ်မှတ်ချက်- အကဲဖြတ်ထားသော အရည်အသွေးရှိသော ပုံနှိပ်စက္တွန်များ တပ်ဆင်ထုတ်လုပ်သူများ၏ စွမ်းဆောင်ရည်ကို အတည်ပြုခြင်း။
  • EN 160101: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- အကဲဖြတ်အရည်အသွေးရှိသော ပုံနှိပ်ဘုတ်ပြားတပ်ဆင်ခြင်း မော်ဂျူလာအီလက်ထရွန်နစ်ပစ္စည်း ယူနစ်များ။ အရည်အချင်းအတည်ပြုချက်။
  • EN 160200-1: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ပုဒ်မ သတ္တိ။ အရည်အသွေးမီ မိုက်ခရိုဝေ့ဖ် မော်ဂျူလာ အီလက်ထရွန်နစ် ယူနစ်များကို အကဲဖြတ်ထားသည်။ အရည်အချင်းအတည်ပြုချက်လုပ်ထုံးလုပ်နည်း
  • EN 160200-2: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ပုဒ်မ သတ္တိ။ အရည်အသွေးမီ မိုက်ခရိုဝေ့ဖ် မော်ဂျူလာ အီလက်ထရွန်နစ် ယူနစ်များကို အကဲဖြတ်ထားသည်။ စမ်းသပ်နည်းများလမ်းညွှန်
  • EN 160201: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်ပိုင်ဆိုင်မှု။ အရည်အသွေးမီ မိုက်ခရိုဝေ့ဖ် မော်ဂျူလာ အီလက်ထရွန်နစ် ယူနစ်များကို အကဲဖြတ်ထားသည်။ အရည်အချင်းအတည်ပြုချက်။
  • EN 165000-1: 1996; ဖလင်နှင့် ပေါင်းစပ်ဆားကစ်များ။ အထွေထွေသတ်မှတ်ချက်။ အရည်အချင်းအတည်ပြုချက်လုပ်ထုံးလုပ်နည်း
  • EN 165000-2: 1996; ဖလင်နှင့် ပေါင်းစပ်ဆားကစ်များ။ အတွင်းပိုင်း အမြင်အာရုံ စစ်ဆေးခြင်းနှင့် အထူးစမ်းသပ်မှုများ
  • EN 165000-3: 1996; ဖလင်နှင့် ပေါင်းစပ်ဆားကစ်များ။ ရုပ်ရှင်နှင့် ဟိုက်ဘရစ် ပေါင်းစပ်ဆားကစ် ထုတ်လုပ်သူများအတွက် ကိုယ်တိုင်စစ်ဆေးမှုစာရင်းနှင့် အစီရင်ခံစာ
  • EN 165000-4: 1996; ဖလင်နှင့် ပေါင်းစပ်ဆားကစ်များ။ ဖောက်သည်အချက်အလက်၊ ထုတ်ကုန်အကဲဖြတ်မှုအဆင့်အချိန်ဇယားများနှင့် အလွတ်အသေးစိတ်သတ်မှတ်ချက်
  • EN 165000-5: 1998; ဖလင်နှင့် ပေါင်းစပ်ဆားကစ်များ။ အရည်အချင်းအတည်ပြုချက်လုပ်ထုံးလုပ်နည်း
  • EN 166000: 1996; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အထွေထွေသတ်မှတ်ချက်။ Surface acoustic wave (SAW) စစ်ထုတ်မှုများ။
  • EN 166100: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ကဏ္ဍဂုဏ်သတ္တိများ- မျက်နှာပြင် အသံအသံလှိုင်း (SAW) စစ်ထုတ်မှုများ။
  • EN 166101 : 1999 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- မျက်နှာပြင် အသံပိုင်းဆိုင်ရာလှိုင်း (SAW) စစ်ထုတ်မှုများ။ အရည်အချင်းအတည်ပြုချက်။
  • EN 167000 : 1993 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အထွေထွေအင်္ဂါရပ်များ- piezoelectric စစ်ထုတ်မှုများ။
  • EN 167100: 1996; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အပိုင်းအင်္ဂါရပ်များ : piezoelectric filters (Talent approval)။
  • EN 167101: 1996; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- piezoelectric စစ်ထုတ်မှုများ (စွမ်းဆောင်ရည်အတည်ပြုချက်)။
  • EN 168000: 1996; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ယေဘူယျဂုဏ်သတ္တိများ- quartz ပုံဆောင်ခဲယူနစ်များ။
  • EN 168100 : 1995 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အပိုင်းဝိသေသလက္ခဏာများ- quartz ပုံဆောင်ခဲယူနစ်များ (စွမ်းရည်အတည်ပြုချက်)။
  • EN 168101: 1997; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ် ရည်ညွှန်းချက် : quartz ပုံဆောင်ခဲ ယူနစ်များ (ကျွမ်းကျင်မှု အတည်ပြုခြင်း)။
  • EN 168201: 1996; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်ပိုင်ဆိုင်မှု။ Quartz crystal ယူနစ်များ။ (အရည်အချင်းအတည်ပြုချက်)။
  • EN 169000 : 1993 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အထွေထွေသတ်မှတ်ချက်။ Quartz ပုံဆောင်ခဲ ထိန်းချုပ်ထားသော အပေါက်များ။
  • EN 169100 : 1993 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အပိုင်းဝိသေသလက္ခဏာများ : quartz ပုံဆောင်ခဲထိန်းချုပ်ထားသော အလှည့်အပြောင်းများ (စွမ်းရည်အတည်ပြုချက်)။
  • EN 169101 : 1995 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- quartz ပုံဆောင်ခဲထိန်းချုပ်ထားသော oscillators (ကျွမ်းကျင်မှုအတည်ပြုချက်)။
  • EN 169200 : 1996 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ကဏ္ဍခွဲဝိသေသလက္ခဏာများ- Quartz ပုံဆောင်ခဲထိန်းချုပ်ထားသော အလှည့်အပြောင်းများ (အရည်အချင်းအတည်ပြုချက်)။
  • EN 169201 : 1996 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်ပိုင်ဆိုင်မှု။ Quartz ပုံဆောင်ခဲ ထိန်းချုပ်ထားသော အလှည့်အပြောင်းများ (အရည်အချင်းအတည်ပြုချက်)။
  • EN 170000 : 1999 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ယေဘုယျဂုဏ်သတ္တိများ- waveguide အမျိုးအစား dielectric resonators။
  • EN 175100 : 1993 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ပုဒ်မ သတ္တိ။ ပုံနှိပ်ဘုတ်အပလီကေးရှင်းများအတွက် နှစ်လွှာနှင့် အစွန်းပေါက် ချိတ်ဆက်ကိရိယာများ။
  • EN 175101-802: 2000; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အသေးစိတ်သတ်မှတ်ချက်များ။ 3 တန်း သို့မဟုတ် 4 တန်းရှိ 2,54 မီလီမီတာ အခြေခံဂရစ်ပါရှိသော အဆက်အသွယ်အရေအတွက်များရန်အတွက် ပုံနှိပ်ဘုတ်များအတွက် နှစ်ပိုင်းချိတ်ဆက်ကိရိယာများ
  • EN 175101-809: 2000; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အသေးစိတ်သတ်မှတ်ချက်များ။ အသေးစိတ်ဖော်ပြချက်- အဆင့်သတ်မှတ်အရည်အသွေးဖြင့် CECC 2,54-75101 နှင့် ကိုက်ညီသော 801 မီလီမီတာ ဇယားကွက်ပါသော ပုံနှိပ်ကတ်များအတွက် နှစ်ပိုင်းအချိတ်အဆက်များ
  • EN 175200 : 1992 ; အီလက်ထရွန်းနစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် အရည်အသွေး အကဲဖြတ်မှု စနစ်- အပိုင်း လက္ခဏာများ : စက်ဝိုင်းပုံ ချိတ်ဆက်ကိရိယာများ။
  • EN 175200 : 1997 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ကဏ္ဍအင်္ဂါရပ်များ- မြို့ပတ်ရထားချိတ်ဆက်ကိရိယာများ။
  • EN 175201-804 : 2000 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အသေးစိတ်သတ်မှတ်ချက်များ။ စက်ဝိုင်းချိတ်ဆက်ကိရိယာများ။ အဝိုင်းအဆက်အသွယ်များ၊ အချင်း 1,6 မီလီမီတာ၊ threaded coupling
  • EN 175300 : 1992 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ကဏ္ဍခွဲဝိသေသလက္ခဏာများ- 3 MHz အောက် ကြိမ်နှုန်းများအတွက် ထောင့်မှန်စတုဂံချိတ်ဆက်မှုများ။
  • EN 175300 : 1997 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ကဏ္ဍခွဲဝိသေသလက္ခဏာများ- 3 MHz အောက် ကြိမ်နှုန်းများအတွက် ထောင့်မှန်စတုဂံချိတ်ဆက်မှုများ။
  • EN 175301-801: 2000; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အသေးစိတ်သတ်မှတ်ချက်များ။ သိပ်သည်းဆမြင့်သော စတုဂံချိတ်ဆက်ကိရိယာများ၊
  • EN 175301-801: 2006; အသေးစိတ်သတ်မှတ်ချက်များ။ သိပ်သည်းဆမြင့်သော စတုဂံချိတ်ဆက်ကိရိယာများ၊
  • EN 175301-803: 2000; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အသေးစိတ်သတ်မှတ်ချက်များ။ စတုဂံချိတ်ဆက်မှုများ။ အပြားရှိသော အဆက်အသွယ်များ၊ အထူ 0,8 မီလီမီတာ၊ လော့ခ်ချသောဝက်အူများကို ဖယ်ရှား၍မရပါ။
  • EN 175301-803: 2006; အသေးစိတ်သတ်မှတ်ချက်များ- စတုဂံချိတ်ဆက်ကိရိယာများ။ အပြားအဆက်အသွယ်များ၊ အထူ 0,8 မီလီမီတာ၊ လော့ခ်ချသောဝက်အူများကို ဖယ်ရှား၍မရပါ။
  • EN 180000: 1996; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ယေဘူယျအင်္ဂါရပ်များ- Fiber optic attenuators။
  • EN 180101 : 1995 ; အီလက်ထရွန်နစ်အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- ပုံသေဖိုက်ဘာအလင်းနှပ်စက်များ။
  • EN 181000 : 1995 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အထွေထွေသတ်မှတ်ချက်။ Fiber Optic အကိုင်းအခက်များ။
  • EN 181101 : 1995 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- ဖိုက်ဘာ အလင်းအကိုင်းအခက် ကိရိယာများ။ အမျိုးအစား : လှိုင်းအလျားမရှိဘဲ စိမ့်ဝင်နိုင်သော ကြယ်ပွင့်များ။
  • EN 181102 : 1995 ; အီလက်ထရွန်နစ်အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- ဖိုက်ဘာ အလင်းအကိုင်းအခက် ကိရိယာများ။ အမျိုးအစား : လှိုင်းအလျား ရွေးချယ်ထားသော ဂီယာကြယ်။
  • EN 181103: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- ဖိုက်ဘာ အလင်းအကိုင်းအခက် ကိရိယာများ။ အမျိုးအစား : ဆက်သွယ်ရေး အသုံးချမှု အတွက် လှိုင်းအလျား မရွေး စိမ့်ဝင်နိုင်သော ကြယ်။
  • EN 181104: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်အင်္ဂါရပ်- ဖိုက်ဘာ အလင်းအကိုင်းအခက် ကိရိယာများ။ အမျိုးအစား : ဆက်သွယ်ရေးအပလီကေးရှင်းအတွက် လှိုင်းအလျားရွေးချယ်ထားသော စိမ့်ဝင်နိုင်သောကြယ်။
  • EN 186000-1 : 1994 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အထွေထွေသတ်မှတ်ချက်။ ဖိုက်ဘာနှင့် ကေဘယ်ကြိုးများအတွက် ချိတ်ဆက်မှုအစုံ။ လိုအပ်ချက်များ၊ စမ်းသပ်မှုနည်းလမ်းများနှင့် ကျွမ်းကျင်မှု အတည်ပြုခြင်းဆိုင်ရာ လုပ်ထုံးလုပ်နည်းများ
  • EN 186001 : 1994 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ ဗလာအသေးစိတ်ပိုင်ဆိုင်မှု။ ဖိုက်ဘာနှင့် ကေဘယ်ကြိုးများအတွက် ချိတ်ဆက်ကိရိယာများ။ သဘာဝပတ်ဝန်းကျင် အမျိုးအစား I။
  • EN 186002: 1994; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ ဗလာအသေးစိတ်ပိုင်ဆိုင်မှု။ ဖိုက်ဘာနှင့် ကေဘယ်ကြိုးများအတွက် ချိတ်ဆက်ကိရိယာ။ သဘာဝပတ်ဝန်းကျင် အမျိုးအစား II။
  • EN 186003: 1994; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ ဗလာအသေးစိတ်ပိုင်ဆိုင်မှု။ ဖိုက်ဘာနှင့် ကေဘယ်ကြိုးများအတွက် ချိတ်ဆက်ကိရိယာ။ သဘာဝပတ်ဝန်းကျင် အမျိုးအစား III။
  • EN 186004: 1994; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ ဗလာအသေးစိတ်ပိုင်ဆိုင်မှု။ ဖိုက်ဘာနှင့် ကေဘယ်ကြိုးများအတွက် ချိတ်ဆက်ကိရိယာ။ သဘာဝပတ်ဝန်းကျင် အမျိုးအစား IV။
  • EN 186005 : 1994 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် ဟန်ချက်ညီညီ အရည်အသွေး အကဲဖြတ်ခြင်းစနစ် သတ်မှတ်ချက်။ ဗလာအသေးစိတ်ပိုင်ဆိုင်မှု။ ဖိုက်ဘာနှင့် ကေဘယ်ကြိုးများအတွက် ချိတ်ဆက်ကိရိယာ။ သဘာဝပတ်ဝန်းကျင် အမျိုးအစား V.
  • EN 186006-1: 1996; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဗလာအသေးစိတ်ပိုင်ဆိုင်မှု။ စစ်ရေးအသုံးအတွက် optical fibers နှင့် cables များအတွက် Connectors များ။ သဘာဝပတ်ဝန်းကျင် အမျိုးအစား VI
  • EN 186100: 1995; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ကဏ္ဍအလိုက် သတ်မှတ်ချက်များ- optical fibers နှင့် cable များအတွက် connector sets များ။ F-SMA အမျိုးအစားများ။
  • EN 186110 : 1995 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ကဏ္ဍအလိုက် သတ်မှတ်ချက်များ- optical fibers နှင့် cable များအတွက် connector sets များ။ FC ရိုက်ပါ။
  • EN 186130: 1996; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ပုဒ်မ သတ္တိ။ ဖိုက်ဘာနှင့် ကေဘယ်ကြိုးများအတွက် ချိတ်ဆက်မှုအစုံ။ LSA ကိုရိုက်ထည့်ပါ။
  • EN 186150 : 1997 ; ဖိုက်ဘာနှင့် ကေဘယ်ကြိုးများအတွက် ချိတ်ဆက်မှုအစုံ။ OCCA-BU ဟုရိုက်ပါ။
  • EN 186160: 1997; ဖိုက်ဘာနှင့် ကေဘယ်ကြိုးများအတွက် ချိတ်ဆက်မှုအစုံ။ OCCA-PC ဟုရိုက်ပါ။
  • EN 186170: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ကဏ္ဍအလိုက် သတ်မှတ်ချက်များ- optical fibers နှင့် cable များအတွက် connector sets များ။ RCC လို့ရိုက်ပါ။
  • EN 186180 : 1996 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ပုဒ်မ သတ္တိ။ ဖိုက်ဘာနှင့် ကေဘယ်ကြိုးများအတွက် ချိတ်ဆက်မှုအစုံ။ LSB ကိုရိုက်ပါ။
  • EN 186210: 1996; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ကဏ္ဍအလိုက် သတ်မှတ်ချက်များ- optical fibers နှင့် cable များအတွက် connector sets များ။ CF08 အမျိုးအစား ;
  • EN 186220: 1996; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ အပိုင်းသတ်မှတ်ချက်များ- optical fiber နှင့် cable များအတွက် ချိတ်ဆက်မှုအစုံ။ LSC ရိုက်ထည့်ပါ။
  • EN 186230: 1996; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ကဏ္ဍအလိုက် သတ်မှတ်ချက်များ- optical fibers နှင့် cable များအတွက် connector sets များ။ LSF ကိုရိုက်ပါ။
  • EN 186240: 1996; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ကဏ္ဍအလိုက် သတ်မှတ်ချက်များ- optical fibers နှင့် cable များအတွက် connector sets များ။ MT ရိုက်ပါ။
  • EN 186260: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ကဏ္ဍအလိုက် သတ်မှတ်ချက်များ- optical fibers နှင့် cable များအတွက် connector sets များ။ SC ရိုက်ပါ။
  • EN 186270: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ကဏ္ဍအလိုက် သတ်မှတ်ချက်များ- optical fibers နှင့် cable များအတွက် connector sets များ။ LSH ဟုရိုက်ပါ။
  • EN 186290: 1998; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ဖိုက်ဘာနှင့် ကေဘယ်ကြိုးများအတွက် ချိတ်ဆက်မှုအစုံ။ MPO ဟုရိုက်ပါ။
  • EN 186300 : 1999 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ကဏ္ဍအလိုက် သတ်မှတ်ချက်များ- optical fibers နှင့် MSC အမျိုးအစားကြိုးများအတွက် ချိတ်ဆက်ကိရိယာအစုံ။
  • EN 186310 : 1999 ; အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများအတွက် လိုက်ဖက်သော အရည်အသွေး အကဲဖြတ်စနစ်။ ကဏ္ဍအလိုက် သတ်မှတ်ချက်များ- optical fibers နှင့် cable များအတွက် connector sets များ။ MF ဟုရိုက်ပါ။

စံချိန်စံညွှန်းများသည် အစိတ်အပိုင်းများ၊ ထုတ်ကုန်များနှင့် ဝန်ဆောင်မှုများ၏ လိုက်ဖက်ညီမှုနှင့် အပြန်အလှန်လုပ်ဆောင်နိုင်မှုကို သေချာစေခြင်းဖြင့် နိုင်ငံတကာကုန်သွယ်မှုကို လွယ်ကူချောမွေ့စေသည်။ European Standards (ENs) များသည် European Standardization Organizations (ESO), CEN, CENELEC သို့မဟုတ် ETSI သုံးခုမှ အတည်ပြုထားသော စာရွက်စာတမ်းများဖြစ်သည်။ EU Regulation 1025/2012 အတွက် ဆန္ဒအလျောက် နည်းပညာဆိုင်ရာ စံချိန်စံညွှန်းသတ်မှတ်ခြင်းနယ်ပယ်တွင် အရည်အချင်းရှိသူအဖြစ် အသိအမှတ်ပြုခံရပါသည်။

WhatsApp ကို