
HALT (Highly Accelerated Life Test) နှင့် HASS (Highly Accelerated Stress Screen) စစ်ဆေးမှုများသည် စျေးကွက်သို့မဖြန့်ချိမီ ထုတ်ကုန်များတွင် လုပ်ငန်းစဉ် သို့မဟုတ် ထုတ်လုပ်မှုဆိုင်ရာ ချို့ယွင်းချက်များကို သိရှိနိုင်သည့် စမ်းသပ်နည်းလမ်းများဖြစ်သည်။

ဓာတ်ခွဲခန်း၊ IEEE 323 သို့မဟုတ် အခြားသော စီးပွားရေး/စစ်ဘက်ဆိုင်ရာ စံနှုန်းများ (501.1၊ 502.1 နှင့် 507.1 MIL-STD-810 နည်းလမ်းများနှင့် MIL-STD-202D နည်းလမ်း၊ 102A၊ RTCA/DO-160 စသည်ဖြင့်) ကို သင်စမ်းသပ်နိုင်ပါသည်။ ကြီးမားသောလမ်းလျှောက်ခန်းများအပါအဝင် အရွယ်အစားအမျိုးမျိုးရှိသော ပတ်ဝန်းကျင်အခန်းများသည် သင့်စမ်းသပ်မှုပရိုဂရမ်ကို ထိရောက်စွာလုပ်ဆောင်နိုင်ရန် ကူညီပေးပါသည်။ အထူးအခြေအနေများတွင်မှလွဲ၍ ၎င်းသည် အပူချိန်အကွာအဝေး +200°F မှ -200°F နှင့် နှိုင်းရစိုထိုင်းဆအကွာအဝေး 40% မှ 100% ကို ထိန်းသိမ်းထားနိုင်သည်။
ဤစမ်းသပ်မှုသည် ထိန်းချုပ်ထားသော သံချေးတက်သည့်ပတ်ဝန်းကျင်ကို ထောက်ပံ့ပေးပြီး သတ္တုများနှင့် သတ္တုဖြင့်ပြုလုပ်ထားသော မျက်နှာပြင်များအတွက် သံချေးတက်မှုကို ခံနိုင်ရည်ရှိသော အချက်အလက်ကို ပေးဆောင်ရန် အသုံးပြုပါသည်။ စမ်းသပ်မှုတွင် ဆားရည်ကို တူညီသောအရည်အဆင့်တစ်ခုဖြင့် စမ်းသပ်မှုအောက်တွင်ရှိသော စက်ပေါ်သို့ ပက်ဖြန်းခြင်းပါဝင်သည်။ ဤစစ်ဆေးမှုအတွက် အသုံးပြုလေ့ရှိသော စံနှုန်းမှာ ASTM B117 ဖြစ်ပြီး အခြားသော MIL-STD-810 နှင့် ISO-9227 စမ်းသပ်မှုများကို ရရှိနိုင်ပါသည်။
နှိုင်းရစိုထိုင်းဆပြောင်းလဲမှုများသည် သံချေးတက်ခြင်း၊ ဓာတ်တိုးခြင်း၊ လျှပ်စစ်ချို့ယွင်းခြင်း၊ ပစ္စည်းချဲ့ထွင်ခြင်း၊ အရှိန်မြှင့်ခြင်း၊ ကြွပ်ဆတ်ခြင်း သို့မဟုတ် granulation ကဲ့သို့သော ပြဿနာများကို ဖြစ်စေသည့် ထုတ်ကုန်အမြောက်အများပေါ်တွင် သဘာဝပတ်ဝန်းကျင်ဆိုင်ရာ သက်ရောက်မှုရှိသည်။ အစိုဓာတ်စမ်းသပ်မှုရလဒ်များသည် ထုတ်ကုန်အရည်အသွေးအာမခံချက်တွင် အရေးကြီးသောအချက်တစ်ချက်ဖြစ်ပြီး၊ ဤပြဿနာများသည် အစိတ်အပိုင်းများ၏အသက် သို့မဟုတ် လည်ပတ်မှုကို ထိခိုက်စေသောကြောင့်ဖြစ်သည်။ အမျိုးမျိုးသောပတ်ဝန်းကျင်အခန်းများသည် အခြားအပလီကေးရှင်းများတွင် အပူချိန်၊ အမြင့်ပေနှင့် လုပ်ငန်းဆိုင်ရာစမ်းသပ်ခြင်းများဖြင့် ထပ်နေသောစိုထိုင်းဆလက္ခဏာများကို ခွင့်ပြုသည်။
အပူရှော့ခ်မရှိဘဲ ကျယ်ပြန့်သော အပူချိန်အကွာအဝေးတွင် ထုတ်ကုန်အားနည်းချက်များကို ခွဲခြားသတ်မှတ်ပါ။ အပူချိန်မြင့်စမ်းသပ်ခြင်းသည် ဆားကစ်များ၏ခံနိုင်ရည်နှင့် inductance၊ ပုံသွင်းထားသောအစိတ်အပိုင်းများ ပျော့ပြောင်းခြင်း သို့မဟုတ် ချဲ့ထွင်ခြင်း သို့မဟုတ် အရှိန်ပြင်းစွာအိုမင်းခြင်းကဲ့သို့သော အီလက်ထရွန်နစ်ပစ္စည်းကိရိယာများတွင် အားနည်းချက်များကို ခွဲခြားသိရှိနိုင်သော်လည်း အပူချိန်နိမ့်စမ်းသပ်မှုသည် ကြွပ်ဆတ်မှု၊ လျှပ်စစ်တည်ငြိမ်မှု သို့မဟုတ် အစိုဓာတ်မှ အေးခဲခြင်းကဲ့သို့သော အားနည်းချက်များကို ဖော်ထုတ်နိုင်သည်။
50°C/min ထက်ပိုသော ချဉ်းကပ်လမ်းနှုန်းများဖြင့် စမ်းသပ်မှုများသည် အပူချိန်လွန်ကဲသော ပတ်ဝန်းကျင်တွင် ထုတ်ကုန်စွမ်းဆောင်ရည်ပြောင်းလဲမှုကို အတည်ပြုနိုင်သည်။
Lifecycle aging/product တာရှည်ခံမှု စမ်းသပ်ခြင်း သည် စက်ပစ္စည်းများ၏ lifecycles ကို တုပသည့် ဘက်ထရီ စမ်းသပ်ခြင်း ကို လုပ်ဆောင်သည်။ ဤစမ်းသပ်မှုသည် အခြားသော စမ်းသပ်မှုစနစ်များနှင့် လုပ်ငန်းစဉ်များမှတစ်ဆင့် စက်ပစ္စည်းများ၏ အိုမင်းခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်ကို အရှိန်မြှင့်ပေးနိုင်သည်။
"decompression test" ဟုခေါ်သော ထုတ်ကုန်တစ်ခုပေါ်ရှိ မြင့်မားသော ဖိအားနှင့် နိမ့်သောဖိအားများ၏ သက်ရောက်မှုကို ဆုံးဖြတ်သည်။ သင်္ဘောထုပ်ပိုးမှု အမျိုးအစားများစွာသည် အမြင့်ပြောင်းလဲမှုများအတွင်း မျက်ရည် သို့မဟုတ် ယိုစိမ့်နိုင်သည့် အလားအလာရှိသောကြောင့် MIL-STD-810၊ ASTM D6653၊ IEC 60068-2-13၊ RTCA/DO-160 ကဲ့သို့သော စမ်းသပ်မှုများကို လုပ်ဆောင်သည်။
HALT (Highly Accelerated Life Test) နှင့် HASS (Highly Accelerated Stress Screen) စစ်ဆေးမှုများသည် စျေးကွက်သို့မဖြန့်ချိမီ ထုတ်ကုန်များတွင် လုပ်ငန်းစဉ် သို့မဟုတ် ထုတ်လုပ်မှုဆိုင်ရာ ချို့ယွင်းချက်များကို သိရှိနိုင်သည့် စမ်းသပ်နည်းလမ်းများဖြစ်သည်။ HALT စစ်ဆေးမှုသည် ယူနစ်အချိန်နှင့် စမ်းသပ်မှု၏တိုတောင်းသောကြာချိန်အတွက် အပူချိန်နှင့် တုန်ခါမှုတုန်ခါမှုအနည်းငယ်ကို အသုံးပြုရန် စီစဉ်ထားသည်။
ပုံမှန်အားဖြင့်၊ ဤစမ်းသပ်မှုများကို ထုတ်ကုန်ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်ရေး လုပ်ငန်းစဉ်၏ အဆင့်တိုင်းတွင် ပြုလုပ်သည်။ HASS စစ်ဆေးမှုသည် ပုံမှန်အသုံးပြုသည်ထက် အချိန်အတော်ကြာအောင် အပူချိန်နှင့် တုန်ခါမှုတုန်ခါမှုများကို အသုံးပြုသည်။ HASS စစ်ဆေးမှုများသည် ၎င်းတို့၏ လွန်ကဲသောအဆင့်များကြောင့် HALT စစ်ဆေးမှုများအပြီးတွင် လုပ်ဆောင်လေ့ရှိသည်။
