EN IEC 62788-1-5 光伏模块所用材料的测量程序 - 第 1-5 部分：封装 - 因施加热条件而导致的片状封装材料线性尺寸变化的测量

标准“EN IEC 62788-1-5 光伏模块所用材料的测量程序 - 第 1-5 部分：封装 - 测量由施加的热条件引起的片状封装材料线性尺寸”以欧洲标准为基础，后来由国际电工委员会 (IEC) 发布，描述了一种在无限制热暴露条件下测量片状封装材料线性尺寸最大代表性变化的方法，这种变化在光伏 (PV) 模块制造过程中可能会或可能不会被看到。

本标准没有考虑由于模块制造过程中尺寸变化或摩擦而可能产生的任何应力。封装材料制造商可以使用使用此方法获得的数据来控制封装材料的质量并在产品数据表中进行报告。光伏组件制造商可以使用通过此方法获得的数据进行材料验收、工艺开发、设计分析或故障分析。该方法还可用于检查 IEC 62788-2 标准中所述的其他材料，例如封底和封面。标准 62788-2 中规定了针对此应用的测试具体细节（包括样品尺寸和基材）。

原则上，封装材料（片状）在光伏组件生产过程中加工时可以改变其尺寸。尺寸的变化通常是由封装材料制造过程中产生的应力引起的（例如挤压）。模块生产过程中的后续变化（例如，层压、加热、冷却和加压）可能会导致模块内部产生应力，从而引发有害事件：形成气泡（空隙）、内部组件移动或破裂，或封装界面分层。在此过程中，定义了尺寸最大变化的标准化特征。尺寸的变化在沙子上表现出来，以尽量减少摩擦或粘附，从而使结果标准化。模块层压过程中产生的应力和应变由于这里未讨论的其他因素而变得复杂。本程序不一定会解决加工（层压）程序所特有的影响。

这些测试中使用的主要设备包括：

• 可用于精确切割封装材料样品的模具、剪刀或其他切割装置。
• 用于指示样品相对于封装库存方向的软头标记或等效装置。
• 经过校准的线性测量仪器，分辨率至少为正负 0,5 毫米。示例包括（但不限于）指南针、尺子或校准的相机。所用的测量装置不应导致样品在测量过程中发生损坏。测量仪器对线性尺寸变化的测量值的不确定度应为±0,5％或更小。
• 经过校准的厚度计，分辨率至少为正负 0,01 毫米。例如卡尺或千分尺。
• 一片新的铝箔（重型铝箔，厚度为 300 µm 至 300 µm），长度至少 20 毫米，宽度至少 25 毫米。
• 闭路控制空气循环烘箱，长度至少 300 毫米，宽度至少 300 毫米，能够达到所测试封装材料的最高加工温度。烤箱室内的温度与预期温度的差异不应超过正负 2,5 度。可以使用符合 IEC 60216-4-1 标准的烤箱。
• 采用标准《ASTM C778-00 标准砂的标准规范》中规定的级配砂，保证封装材料层在铝箔表面自由移动。

在准备测试样品时，从收到的封装材料卷中切下尺寸为 100 毫米 × 100 毫米的方形样品，并确认已按照供应商的建议进行存储并且未超过有效期。样本应距卷筒外缘至少 200 毫米处采集。应使用精心切割的边缘，以尽量减少尺寸变化（长度和宽度）。确切的样本尺寸可能与预期尺寸略有不同（正负 5 毫米），但所有样本都应小于铝箔。

一些用户可能希望出于其他目的执行测试程序，例如验证封装卷宽度上的材料均匀性。在这种情况下，可以从卷内的其他位置对材料进行取样。在制备过程中和制备后，应牢固地握住样品，不要突然移动，以防止材料受到过大的压力。每个样品上都标记了机器方向（沿卷长度）和横向（沿卷宽度）。

一旦切割成合适的尺寸，就应从封装样品中去除所有垫片、衬垫或离型膜。封装试验样品制备完成后，应测量其厚度。厚度应取试样上不同位置获得的三个值的平均值，最好远离切割过程中可能已经变形的切割边缘。建议在制备样品时戴手套，以避免样品或材料卷受到污染。厚度测量必须使用一致的厚度测量技术，由于某些封装产品带有压花或表面纹理，因此该技术在本标准中仅供参考。

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