ALT加速寿命测试

加速寿命测试 (ALT) 是一种测试和分析技术，用于确定未来将如何发生错误和故障。 这种技术是一种流行的测试方法，因为它能够加快时间。 通常，这种测试方法用于无法预期故障以正常速率发生的情况，但应提前预测未来故障可能发生的方式。

例如，如果测试组件的平均寿命为 30 年，制造商无法合理地等待数年进行可靠性测试，然后再将其产品投放市场。 通过增加对组件的压力，应该更快地触发可能的故障。 做对了，这个测试就相当于加快了时间的流逝。 例如，电子制造商可能会收集各种电压下的故障数据，拟合适当的寿命应力模型，然后将使用应力输入寿命应力模型，以确定预期在使用应力中发生的击穿分布。

ALT加速寿命测试也是确定产品折旧有效性的一种非常有用的方法。 可以使用 ALT 测试来定量测量组件寿命将延长多少，以找到寿命应力模式。

ALT 测试可以进行单压力或双压力。 在双应力模型中，测试了两种应力，例如温度和湿度。 测试过程大致相同。 执行 ALT 测试的方式取决于压力曲线。 执行 ALT 测试的两种流行方法是：使用恒定张力曲线和使用阶跃应力曲线。

在固定的应力分布下，每个被测组件仅经历一个应力水平。 在阶跃应力曲线中，每个组件从最低应力开始，并在一段时间内保持一段时间，然后再升级到更高水平。 固定应力分布在数学上更容易拟合和理解，因此更受欢迎。 阶跃应力分布仅在组件数量有限且不知道测试它们的应力时才有用。 选择过低的电压可能不会导致故障。

我们的组织还通过其训练有素的专家人员和先进的技术设备提供 ALT 加速寿命测试服务，其中包括为各个行业的企业提供的众多测试、测量、分析和评估研究。