DIN 11885 水质 - 通过电感耦合等离子体发射光谱法 (ICP-OES) 测定选定元素

DIN 11885 水质 - 通过电感耦合等离子体发射光谱法 (ICP-OES) 测定选定元素

在德国标准化研究所 (DIN) 制定的“DIN 11885 水质 - 通过电感耦合等离子体发射光谱法 (ICP-OES) 测定选定元素”标准中,溶解在不同类型水中的溶解元素,例如地下水、地表水。描述了一种测定元素、颗粒结合元素(颗粒)和总元素含量的方法,该方法基于以下元素:铝、锑、砷、钡、铍、铋、硼、镉、钙、铬、钴、铜、镓、铟、铁、铅、锂、镁、锰、钼、镍、磷、钾、硒、硅、银、钠、锶、硫、锡、钛、钨、钒、锌和锆。

DIN 11885 水质 - 通过电感耦合等离子体发射光谱法 (ICP-OES) 测定选定元素

考虑到特定和额外的干扰,这些元素也可以在水、污泥和沉积物的消解中测定(例如 ISO 15587-1 或 ISO 15587-2 标准中规定的水消解)。

所述方法适用于废水中颗粒物质量浓度低于2克/升的情况。如果可以证明考虑并纠正了额外的干扰,则该方法的范围可以扩展到其他基质或更高含量的颗粒物质。由用户来证明其适合目的。标准中提供的表格中包含了所选元素的推荐波长、定量限和显着光谱干扰。该表列出了元素以及建议分析波长下最显着的光谱干扰。

几种类型的干扰效应可能会导致痕量元素测定的不准确。这些影响是:

  • 光谱干扰分为以下几类:
    • 来自另一个元素的谱线的重叠。这些影响可以通过原始数据的计算机校正来补偿。
    • 分子带光谱未解决的重叠。通过选择替代波长可以克服这些影响。

如果有合适的设备,可以进行波长扫描以检测潜在的光谱干扰。

  • 背景效果分类如下:
    • 来自连续或重组事件的背景贡献。
    • 来自高度集中元素的线发射的杂散光的背景贡献。

背景干扰的影响通常可以通过分析物线附近的背景校正来补偿。

就本标准而言,适用以下术语和定义:

  • 准确度是指测试结果与公认的参考值之间的一致程度。当术语“准确度”应用于观测值集时,它描述了随机误差分量和常见系统误差分量的组合。准确度包括精密度和准确度。
  • 分析物是需要确定的元素。
  • 背景当量浓度是产生与背景信号强度相同的分析物信号所需的元素浓度。
  • 校准空白溶液的制备方法与校准溶液相同,但不包括分析物。
  • 校准溶液是由储备溶液或经过认证的标准品配制而成的溶液,用于校准仪器。
  • 校准对照溶液是校准溶液范围内已知成分但独立制备的溶液。
  • 测定是从制备测试样品溶液到测量并计算最终结果的整个过程。
  • 仪器性能控制解决方案是用于确定和控制感兴趣分析物的仪器漂移的解决方案。
  • 线性是测量(信号)结果与待测组分的量(浓度)之间的直线关系。
  • 检测限是测试样品中能够可靠地区分为零的分析物的最小量或浓度。

所述方法的基础是通过光学光谱技术测量光发射。样品被雾化,产生的气溶胶被输送到等离子炬,在那里发生激发。特征发射光谱由射频感应耦合等离子体 (ICP) 产生。光谱由晶格光谱仪分散,谱线强度由检测器监测。来自探测器的信号由计算机系统处理和控制。使用适当的背景校正技术来补偿痕量元素测定中可变的背景贡献。

在为各个行业的企业进行的众多测试、测量、分析和评估研究中,我们的组织凭借训练有素的专业员工和先进的技术设备,制定了以下标准:“DIN 11885 水质 - 通过以下方法测定选定元素:电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)”还提供“测定”标准中定义的测试服务。

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