Стандарт «EN IEC 62716 Фотоэлектрические (ФЭ) модули — испытание на коррозию аммиаком», основанный на европейском стандарте и впоследствии опубликованный Международной электротехнической комиссией (IEC) , описывает полезные методы испытаний для определения устойчивости фотоэлектрических (ФЭ) модулей к аммиаку. За исключением испытания работоспособности байпасного диода, подробная информация обо всех испытаниях содержится в следующих стандартах:
Эти методы испытаний объединены в настоящем стандарте, чтобы предоставить инструменты для оценки потенциальных отказов фотоэлектрических (PV) модулей при работе во влажной атмосфере с высоким содержанием растворенного аммиака.
Настоящий стандарт применяется к плоским фотоэлектрическим (PV) модулям. Структура этого стандарта полностью соответствует стандарту «IEC 61701 Фотоэлектрические (PV) модули. Испытание на коррозию в соляном тумане».
Три идентичных образца интересующего фотоэлектрического (ФЭ) модуля или сборки подвергаются любой из последовательностей испытаний, включенных в цифры, приведенные в стандарте, в зависимости от рассматриваемой фотоэлектрической (ФЭ) технологии, т. е. кристаллического кремния или тонкой пленки соответственно. Как видно из рисунков, один из этих образцов следует использовать в качестве контроля. Контрольный образец следует использовать в качестве контроля каждый раз при измерении тестовых образцов для оценки эффекта испытания на воздействие аммиака.
Если полноразмерный образец слишком велик, чтобы поместиться в корпуса, необходимые для испытаний на воздействие аммиака, для этого испытания может быть специально разработан и изготовлен меньший, репрезентативный образец. Репрезентативный образец должен быть тщательно спроектирован таким образом, чтобы выявлять аналогичные механизмы разрушения, что и полноразмерный образец, а процесс изготовления репрезентативного образца должен быть максимально идентичен процессу изготовления полноразмерного образца. В протоколе испытаний следует указать, что испытание проводилось на репрезентативных образцах, а не на полноразмерных. Если фотоэлектрический (ФЭ) модуль оснащен заземляющими устройствами, они являются частью испытательного образца.
Результаты испытаний относятся только к структуре испытанного образца. Если производитель модулей использует несколько источников для компонентов фотоэлектрических модулей, требуются дополнительные образцы для испытаний. Образцы следует выбирать таким образом, чтобы были представлены все используемые в ассортименте продукции материалы для герметизации и все компоненты, образующие внешнюю поверхность модуля.
Все испытания, включенные в рисунки, за исключением испытания функциональности шунтирующего диода, полностью описаны в стандартах МЭК, из которых взяты конкретные испытания. Испытания, представленные на этих рисунках, необходимо проводить в указанном порядке. Любые изменения и отклонения должны быть зафиксированы и подробно описаны.
Целью проверки функциональности байпасного диода является проверка того, что байпасный диод или диоды тестовых образцов сохраняют работоспособность после воздействия аммиака. В случае модулей без байпасных диодов этот тест можно пропустить.
Эту процедуру можно выполнять при температуре окружающей среды 25 градусов плюс/минус 10 градусов. Образец не должен подвергаться воздействию света во время испытания. Все блокировочные диоды, входящие в состав тестового образца, электрически закорочены. Номинальный ток короткого замыкания испытуемого образца определяется по его паспортной табличке или в инструкции. Положительный выход источника постоянного тока подключается к отрицательным клеммам испытуемого образца, а отрицательный выход источника постоянного тока подключается к положительным клеммам испытуемого образца с использованием минимального рекомендуемого производителем калибра провода. При вводе проводов в отсек электропроводки соблюдайте рекомендации производителя. В этой конфигурации ток должен течь в обратном направлении через ячейки и в прямом направлении через диоды. Модули с перекрывающимися цепями обходных диодов могут потребовать установки перемычки, чтобы гарантировать, что весь ток протекает через обходной диод. В течение 1,25 часа подается ток, равный 7 (плюс 5-минус 1 процентов) току короткого замыкания испытуемого образца.
Через 1 час подачи тока проверяется работоспособность байпасных диодов. Одним из возможных методов является пропускание обратного тока через ячейки, затем прямого тока через диоды, а затем контроль температуры диодов с помощью тепловой ИК-камеры. Перед выполнением этой процедуры диоды должны достичь теплового равновесия с окружающей средой после последнего шага, описанного выше. Другой вариант — затенить солнечный элемент, защищенный каждым диодом в фотоэлектрическом модуле, и проверить характеристики полученной кривой (при освещении, близком к стандартным условиям испытаний), чтобы проверить работоспособность байпасных диодов.
Все тестовые образцы предварительно кондиционируются общим или прямым нормальным солнечным светом (естественным или имитированным) в соответствии со спецификациями, приведенными в стандарте IEC по квалификации и утверждению типа конструкции, применимом к рассматриваемой технологии фотоэлектрических модулей.
Наша организация, которая на протяжении многих лет стремится оказывать поддержку предприятиям всех секторов посредством широкого спектра испытаний, измерений, анализа и оценочных исследований, имеет сильный штат сотрудников, которые внимательно следят за мировыми достижениями в области науки и технологий и постоянно совершенствуются. В этом контексте предприятиям также предоставляются услуги по тестированию в соответствии со стандартом «EN IEC 62716 Фотоэлектрические (PV) модули. Испытание на коррозионную стойкость к аммиаку».
Вы можете попросить нас заполнить нашу форму, чтобы записаться на прием, получить более подробную информацию или запросить оценку.
