
标准“EN IEC 50147-1 电波暗室 - 第 1 部分:屏蔽衰减测量”基于欧洲标准,随后由国际电工委员会 (IEC) 发布,描述了在 9 kHz 至 40 GHz 频率范围内测量屏蔽外壳(房间)内屏蔽衰减的程序。该标准旨在建立一种通用的测量程序,用于验证屏蔽外壳的屏蔽效能。

测量通常在所有屏蔽组件安装到位的情况下进行,如果是滤波器,则所有电线和电缆均已连接。此程序源自美国国家安全局 (NSA) 的规范“NSA 65-6 通信设备射频屏蔽外壳”。
进行屏蔽衰减测试时,将根据外壳规格中规定的频率范围使用以下类型的设备。测量设备必须具有足够的动态范围才能进行测试:
在验收测试期间,应根据外壳规格要求,在外壳周围的不同位置进行测量。这些测量通常在吸波材料安装前进行。如果环境噪声水平足够低,则所有测试都应在接收机位于外壳外部、发射机位于外壳内部的情况下进行。
验收测试前,应在整个门框、可触及的连接处、过滤器周围以及整个风管进行泄漏测试。此外,应通过将天线移动到至少四个位置(最好在不同的墙壁上)来确定机柜发射的最大信号电平的幅度和位置。
应将天线直接放置在彼此相对的位置,并按指定的距离加上壁厚进行电场和磁场衰减测试(参考测量)。
测量磁场时,应将线圈平行放置于墙板正对面。磁场的推荐测试频率为 10 kHz、100 kHz、1 MHz、10 MHz 和 30 MHz,电场的推荐测试频率为 10 MHz 和 30 MHz。
平面波测量应至少在 100 MHz、400 MHz、1 GHz、10 GHz 和 40 GHz 频率下进行,具体取决于外壳规格中指定的频率范围。
屏蔽衰减只能在理想条件下计算。最重要的因素是屏蔽外壳必须均匀,且由各方面均具有明确特性的材料制成。在实际应用中,这些条件的偏差可能非常大,以至于计算结果只能得出近似值。
EN IEC 50147-1 是一项欧洲标准,规定了电磁兼容性 (EMC) 测试中使用的屏蔽外壳和电波暗室的通用要求。该标准在确保 EMC 测试的可靠性、准确性和可重复性方面发挥着关键作用,而 EMC 测试对于评估电子设备是否符合电磁干扰 (EMI) 限值至关重要。
该标准的主要目的是定义屏蔽外壳的一般结构和性能要求,特别是用于辐射发射和辐射抗扰度测试的屏蔽外壳。这些外壳需要创建受控环境,将被测设备与外部电磁场和反射隔离开来。
本标准的基本要求是:
EN IEC 50147-1 标准适用于:
该标准非常重要,因为它确保了电磁兼容性 (EMC) 测试的准确性、可靠性和可重复性,这对于电子设备的开发和认证至关重要。该标准重要性的关键原因包括:
该标准通过准确的 EMC 测试帮助防止这些安全关键故障。
因此,EN IEC 50147-1 标准对于所有参与欧洲电磁兼容性测试的人员都至关重要。它确保消声和屏蔽测试环境提供准确、可重复且无干扰的条件,从而确保产品符合严格的 EMC 要求。随着电磁污染在数字互联世界中日益成为人们关注的焦点,遵守 EN IEC 50147-1 及类似标准比以往任何时候都更加重要。
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