由美国电气电子工程师协会 (IEEE) 和美国国家标准协会 (ANSI) 联合发布的标准“IEEE/ANSI C63.4 低压电气电子设备无线电噪声发射测量方法美国国家标准，9 kHz 至 40 GHz”规定了低压电气电子设备辐射和线路传导发射测量所需的无线电噪声发射测量方法/程序、测量仪器、测量要求、设施以及测试场地。该标准涵盖的频率范围为 9 kHz 至 40 GHz。正如该标准所述，各种各样的电气电子设备都可能产生辐射和线路传导发射。
EMC 测试实验室使用此标准对符合自愿或监管合规要求（即 EMC 发射标准要求）的产品进行辐射和传导发射测量测试，这些要求旨在保护授权的通信服务。EMC 发射标准是规定电气和电子产品射频噪声发射限值的标准。投放市场的产品的射频发射水平必须在相关 EMC 发射标准规定的发射限值范围内。
IEEE/ANSI C63.4 标准规定并表征了测量设备、设施和测试场地。这些包括用于辐射发射测量的露天测试场地和带有射频吸收衬里的金属测试室。发射测量可以在屏蔽室或发射测试场地进行。该标准规定，所有用于传导发射和辐射发射测量测试的设备都必须根据制造商的建议进行校准。如果设备无法安装在其他测试场地（例如露天测试场地或带有射频吸收衬里的金属测试室），则允许在用户现场或制造商处进行测试。
IEEE/ANSI C63.4 规定了受试设备布置和运行条件的一般要求。它还规定了必须与本标准配合使用的发射测试数据记录、测试报告内容和测试报告呈现的具体要求。此外，本标准还涵盖了信息技术设备、此类设备以外的非故意辐射源以及非故意辐射源的发射测量。本标准包含多个附件，详细介绍了具体的测量方法和设施。
IEEE/ANSI C63.4 标准旨在标准化用于表征与保护授权通信服务的自愿或监管合规要求相关的设备发射的方法/程序、仪器和设施。
本标准适用于测量各种电气和电子设备的辐射，无论其尺寸或特性如何。本标准规定的设备可以是单个独立的装置，也可以是多个互连的装置。本标准旨在测量非故意发射源（包括数字设备和接收器）的辐射，以及包含或用于故意发射源的数字设备部件的辐射。
本标准规定的发射测量方法或程序主要用于受控实验室环境中的应用，但也可用于规定的现场设备（即实际使用环境中的设备）的发射测量。
本标准中描述的发射测量方法可能不足以或不适用于测量偶然辐射器、航空电子设备或工业、科学和医疗设备的射频发射。
简而言之，IEEE/ANSI C63.4 标准的主要目的是定义测量非故意发射器（并非设计用于发射射频能量，但可能在运行过程中发射射频能量的设备）的方法。这些方法包括：
通过标准化测量技术，该标准有助于确保 EMC 测试的一致性和可重复性，这对于制造商、测试实验室和美国联邦通信委员会 (FCC) 等监管机构至关重要。
该标准涵盖9 kHz至40 GHz频率范围内的辐射和传导发射测量。它是一份全面的EMC性能评估指南，提供了现场验证和测试执行的程序。
该标准之所以重要，有几个原因，特别是在电磁兼容性 (EMC)、产品开发和法规遵从性领域。该标准被认为很重要，原因如下：
这种级别的控制确保测试结果可靠并被认证机构接受。
该标准通过确保设备保持在可接受的发射限度内来帮助防止此类干扰。
因此，IEEE/ANSI C63.4 标准是一项基本的 EMC 测试标准，可确保电子设备不会发出可能影响其他设备或通信系统的有害干扰。通过遵循这些程序，制造商可以满足监管要求，并为更稳定的电磁环境做出贡献。
简而言之，该标准是一项基础标准，有助于确保当今世界上的电子设备安全、兼容且合法。
多年来，我们通过广泛的测试、测量、分析和评估活动，为各行各业的企业提供支持。我们拥有一支强大的团队，密切关注全球科技发展，并不断提升自我。此外，我们还提供符合 IEEE/ANSI C63.4（美国国家标准，用于测量 9 kHz - 40 GHz 范围内低压电气和电子设备的无线电噪声发射）的测试服务。
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