
电气和电子工程师协会 (IEEE) 制定的标准“IEEE 299.1 IEEE 测量尺寸在 0,1 m 和 2 m 之间的外壳和机壳的屏蔽效能的标准方法”描述了统一的测量程序,用于确定 IEEE 299 标准未涵盖的射频范围内尺寸在 0,1 m 和 2 m 之间的各种外壳和机壳的电磁 (EM) 屏蔽效能。

本标准分为两部分:
除了一些有助于测量这些外壳屏蔽效能的附录外,附录 I 还讨论了物理尺寸和电气尺寸较小的外壳,附录 J 讨论了混响室中电气尺寸较小的外壳。测试线性尺寸小于 2 米的小型外壳时出现的问题与确定较大混响室的屏蔽效能截然不同,并且取决于外壳的实际尺寸。此外,还增加了许多其他附录,涉及逻辑、数学公式、测量技术的选择、初步测量和维修、壁挂式单极子、阻抗失配校正以及在外部混响室中使用隔离单极子。
屏蔽效能是指有屏蔽和无屏蔽时电磁场强度的比值,通常以分贝表示。它衡量材料降低电磁辐射强度,从而保护敏感电子设备免受外部干扰的能力。屏蔽效能越高,材料阻挡电磁干扰的能力就越强。
材料在屏蔽电磁干扰方面发挥着重要作用,因为它们可以吸收、反射或透射电磁辐射。材料的选择取决于电磁干扰的频率范围和所需的屏蔽效能。用于EMI屏蔽的常用材料包括金属、导电聚合物和纳米材料。
影响材料屏蔽效能的因素有很多,包括材料的特性、EMI 频率范围以及设计考虑因素。材料的屏蔽效能受以下因素影响:
电磁干扰的频率范围会显著影响材料的屏蔽效能。不同的材料在不同的频率范围内有效,并且屏蔽效能在整个频谱范围内可能存在显著差异。
屏蔽效能在不同行业有广泛的应用,包括:
IEEE 299.1 标准之所以被认为重要,原因如下:
这对于法规遵从、产品开发和供应商基准测试非常重要。
因此,IEEE 299.1 标准结合了直接场和回声室技术,以应对复杂的谐振行为。即将发布的修订版有望提供更强大的工具和更清晰的方法。无论是设计符合 EMC 规范、军事用途还是敏感电子设备的外壳,IEEE 299.1 标准仍然至关重要。
多年来,我们通过广泛的测试、测量、分析和评估活动,为各行各业的企业提供支持。我们拥有一支强大的团队,密切关注全球科技发展,并不断提升自我。此外,我们还提供符合 IEEE 299.1 标准方法的测试服务,用于测量外形尺寸在 0,1 至 2 米之间的外壳和盒子的屏蔽效能。
