ALT加速壽命測試

加速壽命測試 (ALT) 是一種測試和分析技術，用於確定未來將如何發生錯誤和故障。 這種技術是一種流行的測試方法，因為它能夠加快時間。 通常，這種測試方法用於無法預期故障以正常速率發生的情況，但應提前預測未來故障可能發生的方式。

例如，如果測試組件的平均壽命為 30 年，製造商無法合理地等待數年進行可靠性測試，然後再將其產品投放市場。 通過增加對組件的壓力，應該更快地觸發可能的故障。 做對了，這個測試就相當於加快了時間的流逝。 例如，電子製造商可能會收集各種電壓下的故障數據，擬合適當的壽命應力模型，然後將使用應力輸入壽命應力模型，以確定預期在使用應力中發生的擊穿分佈。

ALT加速壽命測試也是確定產品折舊有效性的一種非常有用的方法。 可以使用 ALT 測試來定量測量組件壽命將延長多少，以找到壽命應力模式。

ALT 測試可以進行單壓力或雙壓力。 在雙應力模型中，測試了兩種應力，例如溫度和濕度。 測試過程大致相同。 執行 ALT 測試的方式取決於壓力曲線。 執行 ALT 測試的兩種流行方法是：使用恆定張力曲線和使用階躍應力曲線。

在固定的應力分佈下，每個測試的組件只經歷一個應力水平。 在階躍應力曲線中，每個組件從最低應力開始，並在一段時間內保持一段時間，然後再升級到更高水平。 固定應力分佈在數學上更容易擬合和理解，因此更受歡迎。 階躍應力分佈僅在組件數量有限且不知道測試它們的應力時才有用。 選擇過低的電壓可能不會導致故障。

我們的組織還通過其訓練有素的專家人員和先進的技術設備提供 ALT 加速壽命測試服務，其中包括為各個行業的企業提供的眾多測試、測量、分析和評估研究。