
標準「EN IEC 50147-1 電波暗室 - 第 1 部分:屏蔽衰減測量」基於歐洲標準,隨後由國際電工委員會 (IEC) 發布,描述了在 9 kHz 至 40 GHz 頻率範圍內測量屏蔽外殼(房間)內屏蔽衰減的程序。該標準旨在建立一種通用的測量程序,用於驗證屏蔽外殼的屏蔽效能。

測量通常在所有屏蔽組件安裝到位的情況下進行,如果是濾波器,則所有電線和電纜都已連接。此程序源自美國國家安全局 (NSA) 的規範「NSA 65-6 通訊設備射頻屏蔽外殼」。
進行屏蔽衰減測試時,將根據外殼規格中規定的頻率範圍使用以下類型的設備。測量設備必須具有足夠的動態範圍才能進行測試:
在驗收測試期間,應根據外殼規格要求,在外殼周圍的不同位置進行測量。這些測量通常在吸波材料安裝前進行。如果環境噪音水平足夠低,則所有測試都應在接收機位於外殼外部、發射機位於外殼內部的情況下進行。
驗收測試前,應在整個門框、可觸及的連接處、過濾器周圍以及整個風管進行洩漏測試。此外,應透過將天線移動到至少四個位置(最好在不同的牆壁上)來確定機櫃發射的最大訊號電平的幅度和位置。
應將天線直接放置在彼此相對的位置,並按指定的距離加上壁厚進行電場和磁場衰減測試(參考測量)。
測量磁場時,應將線圈平行放置於牆板正對面。磁場的建議測試頻率為 10 kHz、100 kHz、1 MHz、10 MHz 和 30 MHz,電場的建議測試頻率為 10 MHz 和 30 MHz。
平面波測量應至少在 100 MHz、400 MHz、1 GHz、10 GHz 和 40 GHz 頻率下進行,具體取決於外殼規格中指定的頻率範圍。
屏蔽衰減只能在理想條件下計算。最重要的因素是屏蔽外殼必須均勻,且由各方面均具有明確特性的材料製成。在實際應用中,這些條件的偏差可能非常大,以至於計算結果只能得出近似值。
EN IEC 50147-1 是一項歐洲標準,規定了電磁相容性 (EMC) 測試中使用的屏蔽外殼和電波暗室的通用要求。該標準在確保 EMC 測試的可靠性、準確性和可重複性方面發揮關鍵作用,而 EMC 測試對於評估電子設備是否符合電磁幹擾 (EMI) 限值至關重要。
此標準的主要目的是定義屏蔽外殼的一般結構和性能要求,特別是用於輻射發射和輻射抗擾度測試的屏蔽外殼。這些外殼需要創造受控環境,將被測設備與外部電磁場和反射隔離。
本標準的基本要求是:
EN IEC 50147-1 標準適用於:
該標準非常重要,因為它確保了電磁相容性 (EMC) 測試的準確性、可靠性和可重複性,這對於電子設備的開發和認證至關重要。此標準重要性的關鍵原因包括:
該標準透過準確的 EMC 測試來幫助防止這些安全關鍵故障。
因此,EN IEC 50147-1 標準對於所有參與歐洲電磁相容性測試的人員至關重要。它確保消音和屏蔽測試環境提供準確、可重複且無幹擾的條件,從而確保產品符合嚴格的 EMC 要求。隨著電磁污染在數位互聯世界中日益成為人們關注的焦點,遵守 EN IEC 50147-1 及類似標準比以往任何時候都更加重要。
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