
電氣和電子工程師協會 (IEEE) 制定的標準「IEEE 299.1 IEEE 測量尺寸在 0,1 m 和 2 m 之間的外殼和機殼的屏蔽效能的標準方法」描述了統一的測量程序,用於確定 IEEE 299 標準未涵蓋的射頻範圍內尺寸在 0,1 m 和 2 m 之間的磁殼和電殼性能。

本標準分為兩部分:
除了一些有助於測量這些外殼屏蔽效能的附錄外,附錄 I 還討論了物理尺寸和電氣尺寸較小的外殼,附錄 J 討論了混響室中電氣尺寸較小的外殼。測試線性尺寸小於 2 公尺的小型外殼時出現的問題與確定較大混響室的屏蔽效能截然不同,並且取決於外殼的實際尺寸。此外,還增加了許多其他附錄,涉及邏輯、數學公式、測量技術的選擇、初步測量和維修、壁掛式單極子、阻抗失配校正以及在外部混響室中使用隔離單極子。
屏蔽效能是指有屏蔽和無屏蔽時電磁場強度的比值,通常以分貝表示。它衡量材料降低電磁輻射強度,從而保護敏感電子設備免受外部幹擾的能力。屏蔽效能越高,材料阻擋電磁幹擾的能力越強。
材料在屏蔽電磁幹擾方面發揮重要作用,因為它們可以吸收、反射或透射電磁輻射。材料的選擇取決於電磁幹擾的頻率範圍和所需的屏蔽效能。用於EMI屏蔽的常用材料包括金屬、導電聚合物和奈米材料。
影響材料屏蔽效能的因素很多,包括材料的特性、EMI 頻率範圍以及設計考量。材料的屏蔽效能受下列因素影響:
電磁幹擾的頻率範圍會顯著影響材料的屏蔽效能。不同的材料在不同的頻率範圍內有效,並且屏蔽效能在整個頻譜範圍內可能存在顯著差異。
屏蔽效能在不同產業有廣泛的應用,包括:
IEEE 299.1 標準之所以被認為重要,原因如下:
這對於法規遵循、產品開發和供應商基準測試非常重要。
因此,IEEE 299.1 標準結合了直接場和迴聲室技術,以應對複雜的諧振行為。即將發布的修訂版預計將提供更強大的工具和更清晰的方法。無論是設計符合 EMC 規範、軍事用途或敏感電子設備的外殼,IEEE 299.1 標準仍然至關重要。
多年來,我們透過廣泛的測試、測量、分析和評估活動,為各行各業的企業提供支援。我們擁有一支強大的團隊,密切關注全球科技發展,並不斷提升自我。此外,我們還提供符合 IEEE 299.1 標準方法的測試服務,用於測量外形尺寸在 0,1 至 2 公尺之間的外殼和盒子的屏蔽效能。
