DIN 11885 水質 - 以電感耦合等離子體發射光譜法 (ICP-OES) 測定選定元素

DIN 11885 水質 - 以電感耦合等離子體發射光譜法 (ICP-OES) 測定選定元素

在德國標準化研究所(DIN) 制定的「DIN 11885 水質- 透過電感耦合等離子體發射光譜法(ICP-OES) 測定選定元素」標準中,溶解在不同類型水中的溶解元素,例如地下水、地表水。鉍、鉍、硼、鎘、鈣、鉻、鈷、銅、鎵、銦、鐵、鉛、鋰、鎂、錳、鉬、鎳、磷、鉀、硒、矽、銀、鈉、鍶、硫、錫、鈦、鎢、釩、鋅和鋯。

DIN 11885 水質 - 以電感耦合等離子體發射光譜法 (ICP-OES) 測定選定元素

考慮到特定和額外的干擾,這些元素也可以在水、污泥和沈積物的消解中測定(例如 ISO 15587-1 或 ISO 15587-2 標準中規定的水消解)。

所述方法適用於廢水中顆粒物質量濃度低於2克/公升的情況。如果可以證明考慮並糾正了額外的干擾,則該方法的範圍可以擴展到其他基質或更高含量的顆粒物質。由使用者來證明其適合目的。標準中提供的表格中包含了所選元素的建議波長、定量極限和顯著光譜幹擾。表中列出了元素以及建議分析波長下最顯著的光譜幹擾。

幾種類型的干擾效應可能會導致微量元素測定的不準確。這些影響是:

  • 光譜幹擾分為以下幾類:
    • 來自另一個元素的譜線的重疊。這些影響可以透過原始資料的電腦校正來補償。
    • 分子帶光譜未解決的重疊。透過選擇替代波長可以克服這些影響。

如果有合適的設備,可以進行波長掃描以檢測潛在的光譜幹擾。

  • 背景效果分類如下:
    • 來自連續或重組事件的背景貢獻。
    • 來自高度集中元素的線發射的雜散光的背景貢獻。

背景幹擾的影響通常可以透過分析物線附近的背景校正來補償。

就本標準而言,適用以下術語和定義:

  • 準確度是指測試結果與公認的參考值之間的一致程度。當術語「準確度」應用於觀測值集時,它描述了隨機誤差分量和常見系統誤差分量的組合。準確度包括精密度和準確度。
  • 分析物是需要確定的元素。
  • 背景當量濃度是產生與背景訊號強度相同的分析物訊號所需的元素濃度。
  • 校正空白溶液的製備方法與校正溶液相同,但不包括分析物。
  • 校準溶液是由儲備溶液或經過認證的標準品配製而成的溶液,用於校準儀器。
  • 校正對照溶液是校準溶液範圍內已知成分但獨立製備的溶液。
  • 測定是從製備測試樣品溶液到測量並計算最終結果的整個過程。
  • 儀器性能控制解決方案是用於確定和控制感興趣分析物的儀器漂移的解決方案。
  • 線性是測量(訊號)結果與待測組分的量(濃度)之間的直線關係。
  • 檢測極限是測試樣本中能夠可靠地區分為零的分析物的最小量或濃度。

所述方法的基礎是透過光學光譜技術測量光發射。樣品被霧化,產生的氣溶膠被輸送到等離子炬,在那裡發生激發。特徵發射光譜由射頻感應耦合等離子體 (ICP) 產生。光譜由晶格光譜儀分散,譜線強度由偵測器監測。來自探測器的訊號由電腦系統處理和控制。使用適當的背景校正技術來補償微量元素測定中可變的背景貢獻。

在為各行業的企業進行的眾多測試、測量、分析和評估研究中,我們的組織憑藉訓練有素的專業員工和先進的技術設備,制定了以下標準:「DIN 11885 水質- 透過以下方法測定選定元素:電感耦合等離子體發射光譜法(ICP-OES)」也提供「測定」標準中定義的測試服務。

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