Transmission electron microscopy (TEM) သည် အရာဝတ္ထုအတွင်းရှိ အသေးငယ်ဆုံးသော ဖွဲ့စည်းပုံများကို မြင်သာစေရန် အသုံးပြုသော ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုနည်းပညာတစ်ခုဖြစ်သည်။ မြင်နိုင်သော spectrum အတွင်းရှိ အလင်းကို အားကိုးသည့် optical microscopes များနှင့် မတူဘဲ TEM သည် နာနိုမီတာ တည်ဆောက်ပုံများကို အကြိမ်ပေါင်း သန်း 50 အထိ ချဲ့ထွင်နိုင်ပြီး အက်တမ်စကေးတွင် အံ့မခန်းအသေးစိတ်များကို ထုတ်ဖော်ပြသနိုင်ပါသည်။ အဘယ်ကြောင့်ဆိုသော် အီလက်ထရွန်များသည် အားကောင်းသော လျှပ်စစ်သံလိုက်စက်ကွင်းကို အရှိန်မြှင့်လိုက်သောအခါ မြင်နိုင်သောအလင်းထက် လှိုင်းအလျားထက် သိသိသာသာတိုနိုင်သည် (အဆပေါင်း 100 လောက်သေးငယ်သည်) ဖြစ်သောကြောင့်၊ ပြင်းအားအမြောက်အမြားဖြင့် အဏုကြည့်မှန်ပြောင်းကို တိုးမြှင့်နိုင်သောကြောင့်ဖြစ်သည်။
TEM ရုပ်ပုံဖန်တီးရန်၊ စွမ်းအင်မြင့်မားသော အီလက်ထရွန်အလင်းတန်းသည် အများအားဖြင့် 100 nm ထက်နည်းသော အလွန်ပါးလွှာသော "အီလက်ထရွန်ဖောက်ထွင်းမြင်ရသော" နမူနာမှတဆင့် ဖြတ်သန်းပါသည်။ အလင်းတန်းများကို နမူနာပေါ်သို့ အာရုံစူးစိုက်ရန်၊ ကွဲလွဲမှုများကို နည်းပါးစေပြီး ရလဒ်ကို phosphor စခရင် သို့မဟုတ် အထူးကင်မရာပေါ်တွင် ချဲ့ထွင်ရန် လျှပ်စစ်သံလိုက်မှန်ဘီလူးများနှင့် အလင်းဝင်ပေါက်များကို အဏုကြည့်မှန်ပြောင်း၏ကော်လံတစ်လျှောက်တွင် ထားရှိထားပါသည်။
TEM သည် ပုံစံအမျိုးမျိုးဖြင့် ရောက်ရှိလာသော်လည်း ၎င်းတို့အားလုံးသည် တူညီသော အခြေခံမူများနှင့် အစိတ်အပိုင်းများကို မျှဝေပါသည်။ TEM တူရိယာ၏ အဓိက အမျိုးအစား နှစ်မျိုးမှာ- သမားရိုးကျ TEM နှင့် STEM (စကင်န်ထုတ်ထားသော အီလက်ထရွန် အဏုစကုပ်)။
လျင်မြန်စွာ ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်လာသော ဤနည်းပညာသည် TEM သည် ပစ္စည်းများနှင့် ဘဝသိပ္ပံဆိုင်ရာ အသုံးချမှုနှစ်ခုလုံးအတွက် မရှိမဖြစ်လိုအပ်သော နည်းပညာတစ်ခု ဖြစ်စေခဲ့သည်။ ယနေ့ခေတ်၏ အစွမ်းထက်ဆုံး TEMs များတွင် အဏုကြည့်မှန်ပြောင်း၏ စွမ်းဆောင်ရည်နှင့် တည်ငြိမ်မှုကို တိုးမြှင့်ပေးရုံသာမက ဓာတုနှင့် အီလက်ထရွန်နစ် အချက်အလက်များကို မြောက်များစွာသော ပစ္စည်းအမျိုးမျိုးမှ subnanometer အရှည်စကေးများတွင် စုဆောင်းနိုင်သည့် စွမ်းဆောင်ရည်နှင့် ဓာတုနှင့် အီလက်ထရွန်းနစ် အချက်အလက်များကို စုဆောင်းနိုင်သည့် စွမ်းရည်ကို ပေးစွမ်းနိုင်သော ပြုပြင်မွမ်းမံမှုများနှင့် အပို detector များ တပ်ဆင်ထားပါသည်။
အက်တမ်စကေးကို ချဲ့ကြည့်ခြင်းဖြင့် သိပ္ပံပညာရှင်များအား ဓာတ်ကူနာနိုအမှုန်များ၊ ဘက်ထရီများနှင့် ဆီမီးကွန်ဒတ်တာ ကိရိယာများကဲ့သို့သော လုပ်ငန်းသုံးပစ္စည်းများ၏ အခြေခံအဆောက်အဦတုံးများကို မြင်နိုင်စေပါသည်။ အာရုံစူးစိုက်ထားသော အီလက်ထရွန်အလင်းတန်းများကို စက်ရုံအတွင်းရှိ ပစ္စည်းများကို စီမံဆောင်ရွက်ရာတွင်လည်း အသုံးပြုနိုင်သည်။ ဤစကေး၏အသေးစိတ်အဆင့်သည် အံ့ဩစရာဖြစ်ပြီး၊ တည်ဆောက်ပုံ၊ ဂုဏ်သတ္တိများနှင့် စွမ်းဆောင်ရည်တို့အကြား ချိတ်ဆက်မှုများကို နားလည်နိုင်စေရန်အတွက် အင်ဂျင်နီယာများအား အောက်ခြေမှ နာနိုပစ္စည်းများကို ဒီဇိုင်းထုတ်နိုင်စေမည့် နည်းလမ်းကို ပေးဆောင်သည်။
Transmission electron microscopes (TEMs) တွင် အခြေခံ အစိတ်အပိုင်း ငါးခု ပါဝင်သည်-
အတိုချုပ်အားဖြင့်၊ transmission electron microscopy သည် ရုပ်ပုံတစ်ခုဖန်တီးရန် ပါးလွှာသောနမူနာတစ်ခုမှတဆင့် အီလက်ထရွန်အလင်းတန်းတစ်ခုဖြတ်သန်းသွားသည့် ကြည်လင်ပြတ်သားသောပုံရိပ်ဖော်နည်းပညာတစ်ခုဖြစ်သည်။ အီလက်ထရွန်အလင်းတန်းသည် နမူနာ၏အထူ သို့မဟုတ် သိပ်သည်းဆ၊ ၎င်း၏ဖွဲ့စည်းမှုနှင့် အချို့ကိစ္စများတွင် ၎င်း၏ပုံဆောင်ခဲကြောင့် ထိခိုက်သည်။
TEM ဒေတာကို ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းသည် အဓိပ္ပာယ်ပြည့်ဝသော အချက်အလက်များကို ထုတ်ယူရန် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာနည်းမျိုးစုံကို အသုံးပြုသည်။ အသုံးအများဆုံးအချို့မှာ diffraction pattern analysis နှင့် electron tomography များဖြစ်ပြီး၊ နမူနာ၏ဖွဲ့စည်းပုံနှင့် ဓာတုသဘောသဘာဝကိုပင် ပုံဖော်နိုင်သည်။
အဓိက ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာနည်းများမှာ-
TEM ဒေတာခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှု၏ စွမ်းအားသည် ကွဲလွဲမှုပုံစံကို စစ်ဆေးခြင်းတွင် တည်ရှိသည်။ ၎င်းသည် နမူနာ၏ ပုံဆောင်ခဲဖွဲ့စည်းပုံနှင့် ပတ်သက်သော အချက်အလက်ကို ပေးသည်။ ထိုပုံစံများသည် ပစ္စည်း၏ အက်တမ်အစီအစဉ်ကို ထိုးထွင်းသိမြင်နိုင်စေရန်နှင့် ၎င်း၏ဂုဏ်သတ္တိများကို နားလည်ရန်အတွက် အရေးကြီးပါသည်။
ကြည်လင်ပြတ်သားမှုမြင့်မားသော ပုံရိပ်သည် နမူနာအသေးစိတ်အချက်အလက်များကို အသေးစိတ်မြင်ယောင်နိုင်စေပါသည်။ ၎င်းသည် နာနိုမီတာစကေးအထိ အင်္ဂါရပ်များကိုပင် မြင်တွေ့နိုင်သည်။ ထို့နောက် အမှုန်အမွှားအရွယ်အစား၊ ပုံသဏ္ဍာန်နှင့် ဖြန့်ဖြူးမှုတို့ကို တိုင်းတာခြင်းအားဖြင့် ဂုဏ်သတ္တိများကို အရေအတွက်အားဖြင့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာနိုင်သည်။
TEM ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုကို အသုံးပြုသည့် အဓိကနယ်ပယ်များမှာ-
TEM ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းဖြင့် အောက်ပါတို့ကို ရရှိနိုင်ပါသည်။
အာရုံခံနိုင်စွမ်း၊ ကြည်လင်ပြတ်သားမှုနှင့် နက်နဲသောအရာကို နားလည်မှုလိုအပ်သောအခါတွင် TEM ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာရန် လိုအပ်ပါသည်။ အဆင့်မြင့်ပစ္စည်းများ သို့မဟုတ် ဇီဝဗေဒဆိုင်ရာလေ့လာမှုများစွာတွင် မှန်ကန်သောအဖြေများကို ပေးသည့်တစ်ခုတည်းသောကိရိယာဖြစ်သည်။
နှစ်ပေါင်းများစွာ လုပ်ဆောင်ခဲ့သော စမ်းသပ်ခြင်း၊ တိုင်းတာခြင်း၊ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းနှင့် အကဲဖြတ်ခြင်းဆိုင်ရာ နယ်ပယ်အသီးသီးမှ စီးပွားရေးလုပ်ငန်းများကို ကဏ္ဍအသီးသီးမှ စီးပွားရေးလုပ်ငန်းများကို ပံ့ပိုးကူညီရန် ကြိုးပမ်းနေသည့် ကျွန်ုပ်တို့၏အဖွဲ့အစည်းသည် သိပ္ပံနှင့်နည်းပညာနယ်ပယ်တွင် ကမ္ဘာ၏တိုးတက်မှုများကို အနီးကပ်လိုက်လံလုပ်ဆောင်ပေးနေသော သန်မာသောဝန်ထမ်းများရှိသည်။ ဤအခြေအနေတွင်၊ "TEM - Transmission electron microscopy analysis" ဝန်ဆောင်မှုများကို စီးပွားရေးလုပ်ငန်းများကို ပံ့ပိုးပေးပါသည်။
ရက်ချိန်းယူရန်၊ အသေးစိတ်အချက်အလက်ရယူရန်သို့မဟုတ်အကဲဖြတ်ရန်တောင်းဆိုရန်ကျွန်ုပ်တို့၏ပုံစံကိုဖြည့်ရန်ကျွန်ုပ်တို့အားသင်တောင်းဆိုနိုင်သည်။
