Tiêu chuẩn CISPR 16 về Thiết bị và Phương pháp Đo Nhiễu và Miễn nhiễm Vô tuyến

Tiêu chuẩn “CISPR 16 Đặc điểm kỹ thuật cho các thiết bị và phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm sóng vô tuyến” do Ủy ban quốc tế về nhiễu sóng vô tuyến (CISPR) công bố bao gồm các tiểu mục sau được công bố dưới cùng tiêu đề:

• Tiêu chuẩn "CISPR 16-1-1 Phần 1-1: Thiết bị đo nhiễu và miễn nhiễm vô tuyến - Thiết bị đo" mô tả các đặc tính và hiệu suất của thiết bị được sử dụng để đo nhiễu vô tuyến trong dải tần số từ 9 kHz đến 18 GHz. Tiêu chuẩn này cũng bao gồm các yêu cầu đối với thiết bị chuyên dụng để đo nhiễu rời rạc.

Tiêu chuẩn CISPR 16-1-1 là tiêu chuẩn cốt lõi về khả năng tương thích điện từ (EMC) được các ủy ban sản phẩm IEC sử dụng. Các ủy ban sản phẩm chịu trách nhiệm xác định khả năng áp dụng của một tiêu chuẩn EMC cốt lõi. Các thông số kỹ thuật trong tiêu chuẩn này áp dụng cho máy thu nhiễu điện từ (EMI) và máy phân tích phổ. Thuật ngữ "máy thu đo" được sử dụng trong tiêu chuẩn này đề cập đến cả máy thu EMI và máy phân tích phổ. Các yêu cầu hiệu chuẩn cho máy thu đo được thảo luận chi tiết trong phụ lục của tiêu chuẩn (Phụ lục J).

• Tiêu chuẩn “CISPR 16-1-2 Phần 1-2: Thiết bị đo nhiễu và khả năng miễn nhiễm sóng vô tuyến - Thiết bị liên kết để đo nhiễu dẫn” mô tả các đặc điểm và hiệu suất của thiết bị được sử dụng để đo điện áp và dòng điện nhiễu sóng vô tuyến trong dải tần số từ 9 kHz đến 1 GHz.

Tiêu chuẩn CISPR 16 là tiêu chuẩn EMC cốt lõi được các ủy ban sản phẩm IEC sử dụng. Các ủy ban sản phẩm chịu trách nhiệm xác định khả năng áp dụng của tiêu chuẩn EMC.

Tiêu chuẩn này bao gồm các thông số kỹ thuật cho các thiết bị phụ trợ cho mạng lưới điện nhân tạo, đầu dò dòng điện và điện áp, và các bộ phận kết nối để đưa dòng điện vào cáp. Các yêu cầu của ấn phẩm này nhằm mục đích đáp ứng ở mọi tần số và mọi mức điện áp và dòng điện nhiễu vô tuyến trong phạm vi chỉ thị CISPR của thiết bị đo.

• Tiêu chuẩn “CISPR 16-1-3 Phần 1-3: Thiết bị đo nhiễu và khả năng miễn nhiễm sóng vô tuyến - Thiết bị phụ trợ - Công suất nhiễu” đã được thiết lập như một tiêu chuẩn cơ bản chỉ định các đặc tính và hiệu chuẩn của kẹp hấp thụ để đo công suất nhiễu sóng vô tuyến trong dải tần từ 30 MHz đến 1 GHz.
• "CISPR 16-1-4 Phần 1-4: Thiết bị đo nhiễu và miễn nhiễm vô tuyến - Ăng-ten và vị trí thử nghiệm để đo nhiễu bức xạ" mô tả các đặc tính và hiệu suất của thiết bị được sử dụng để đo nhiễu bức xạ trong dải tần số từ 9 kHz đến 18 GHz. Tiêu chuẩn này bao gồm các thông số kỹ thuật cho ăng-ten và vị trí thử nghiệm. CISPR 16-1-4 là tiêu chuẩn EMC cốt lõi được các ủy ban sản phẩm IEC sử dụng. Các yêu cầu của tiêu chuẩn này áp dụng cho tất cả các tần số và tất cả các mức nhiễu bức xạ trong phạm vi chỉ thị CISPR của thiết bị đo.
• Tiêu chuẩn "CISPR 16-1-5 Phần 1-5: Thiết bị đo nhiễu và miễn nhiễm vô tuyến - Vị trí hiệu chuẩn ăng-ten và vị trí thử nghiệm tham chiếu cho dải tần từ 5 MHz đến 18 GHz" mô tả các yêu cầu đối với vị trí hiệu chuẩn trong dải tần từ 5 MHz đến 18 GHz được sử dụng để thực hiện hiệu chuẩn ăng-ten theo CISPR 16-1-6. Tiêu chuẩn này cũng bao gồm các yêu cầu đối với vị trí thử nghiệm tham chiếu được sử dụng để xác minh các vị trí thử nghiệm tuân thủ trong dải tần từ 30 MHz đến 1000 MHz theo CISPR 16-1-4. Thông số kỹ thuật của thiết bị đo lường được nêu trong CISPR 16-1-1 và CISPR 16-14. Thông tin chi tiết và bối cảnh về độ không đảm bảo nói chung được nêu trong CISPR 16-4, điều này cũng có thể hữu ích trong việc thiết lập ước tính độ không đảm bảo cho quy trình hiệu chuẩn ăng-ten và các phép đo kiểm tra thực địa.
• Tiêu chuẩn "CISPR 16-1-6 Phần 1-6: Thiết bị đo nhiễu và miễn nhiễm vô tuyến - Hiệu chuẩn ăng-ten EMC" mô tả các quy trình hiệu chuẩn ăng-ten và thông tin hỗ trợ để xác định các hệ số ăng-ten áp dụng cho ăng-ten được thiết kế để sử dụng trong các phép đo nhiễu bức xạ. Các hệ số ăng-ten bị ảnh hưởng bởi môi trường xung quanh và vị trí của nó trong không gian so với nguồn bức xạ. Tiêu chuẩn này tập trung vào các hiệu chuẩn ăng-ten cung cấp các hệ số ăng-ten trong môi trường không gian tự do theo hướng nhìn thẳng của ăng-ten. Dải tần số được áp dụng là từ 9 kHz đến 18 GHz. Các loại ăng-ten liên quan được đề cập trong tiêu chuẩn này là ăng-ten đơn cực, vòng lặp, lưỡng cực, hình nón đôi, mảng lưỡng cực tuần hoàn logarit, lai và loa. Hướng dẫn cũng được cung cấp về các độ không đảm bảo đo lường liên quan đến từng phương pháp và cấu hình hiệu chuẩn, cũng như về thiết bị thử nghiệm được sử dụng.
• Tiêu chuẩn "CISPR 16-2-1 Phần 2-1: Phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm - Đo nhiễu dẫn" được thiết lập làm tiêu chuẩn cơ bản, quy định các phương pháp đo hiện tượng nhiễu trong dải tần số từ 9 kHz đến 18 GHz nói chung và hiện tượng nhiễu dẫn trong dải tần số từ 9 kHz đến 30 MHz nói riêng. Mạng kết nối/ngắt kết nối phát xạ mở rộng dải tần số đo nhiễu dẫn lên đến 300 MHz.
• Tiêu chuẩn "CISPR 16-2-2 Phần 2-2: Phương pháp đo nhiễu và khả năng miễn nhiễm - Đo công suất nhiễu" mô tả các phương pháp đo công suất nhiễu sử dụng kẹp hấp thụ trong dải tần số từ 30 MHz đến 1000 MHz. Tiêu chuẩn này phân loại các loại nhiễu khác nhau và mô tả các bộ dò phù hợp để đo lường chúng. Tiêu chuẩn này bao gồm một phương pháp sử dụng kỹ thuật kẹp hấp thụ để đo công suất nhiễu (một loại phát xạ dẫn) phát ra từ thiết bị điện và điện tử qua đường dây điện. Điều này rất quan trọng để hiểu được lượng năng lượng điện từ lan truyền dọc theo cáp điện và cách nó có thể ảnh hưởng đến các thiết bị khác.
• Tiêu chuẩn "CISPR 16-2-3 Phần 2-3: Phương pháp đo nhiễu và khả năng miễn nhiễm - Đo nhiễu bức xạ" mô tả các yêu cầu về đặc điểm của địa điểm thử nghiệm, chi tiết về thiết lập và quy trình đo lường, hiệu chuẩn địa điểm thử nghiệm và ăng-ten, cũng như ước tính độ không đảm bảo. Tiêu chuẩn này cung cấp hướng dẫn về cách đảm bảo kết quả có thể lặp lại và tái tạo. Tiêu chuẩn này bao gồm các phương pháp chuẩn hóa để đo nhiễu bức xạ trong dải tần số từ 9 kHz đến 18 GHz. Các phép đo này thường được thực hiện trong các môi trường sau: địa điểm thử nghiệm ngoài trời, buồng bán phản xạ và buồng hoàn toàn phản xạ (với một số hạn chế nhất định).
• Tiêu chuẩn "CISPR 16-2-4 Phần 2-4: Phương pháp đo nhiễu và miễn nhiễm - Đo lường miễn nhiễm" được thiết kế như một tiêu chuẩn cơ bản, quy định các phương pháp đo khả năng miễn nhiễm với hiện tượng tương thích điện từ (EMC) trong dải tần số từ 9 kHz đến 18 GHz. Tiêu chuẩn này xác định các phương pháp chuẩn hóa để thực hiện các thử nghiệm miễn nhiễm trên thiết bị điện và điện tử. Cụ thể, tiêu chuẩn này quy định:
  • Phương pháp đo khả năng miễn nhiễm với nhiễu tần số vô tuyến (RF)
  • Các thủ tục đánh giá hiệu suất thiết bị dưới ứng suất RF
  • Hướng dẫn cho các xét nghiệm miễn dịch có thể lặp lại và tái tạo

Tiêu chuẩn này đảm bảo rằng các sản phẩm vẫn hoạt động chính xác và đáng tin cậy khi tiếp xúc với nhiễu điện từ.

• Tiêu chuẩn "CISPR 16-3 Phần 3: Báo cáo kỹ thuật CISPR" là tập hợp các báo cáo kỹ thuật đóng vai trò là thông tin nền tảng và hỗ trợ cho nhiều tiêu chuẩn và báo cáo kỹ thuật khác trong loạt tiêu chuẩn CISPR 16. Tiêu chuẩn này cũng cung cấp thông tin nền tảng về lịch sử của CISPR và tài liệu tham khảo lịch sử về việc đo lường nhiễu từ các thiết bị gia dụng và các thiết bị tương tự trong dải tần VHF.
• Tiêu chuẩn CISPR 16-4-2 Phần 4-2: Độ không đảm bảo, thống kê và mô hình giới hạn - Độ không đảm bảo của thiết bị đo lường" mô tả phương pháp áp dụng độ không đảm bảo của thiết bị đo lường để xác định sự tuân thủ các giới hạn suy thoái CISPR. Tiêu chuẩn này cũng áp dụng khi kết quả và việc diễn giải kết quả thu được bị ảnh hưởng bởi độ không đảm bảo của thiết bị đo lường được sử dụng trong quá trình thử nghiệm.

Tiêu chuẩn CISPR 16-4-2 là tiêu chuẩn EMC cốt lõi được các ủy ban sản phẩm IEC sử dụng. Các ủy ban sản phẩm chịu trách nhiệm xác định khả năng áp dụng của tiêu chuẩn EMC. Các phụ lục của tiêu chuẩn này chứa thông tin cơ bản được sử dụng để định lượng độ bất định của thiết bị đo lường vốn có trong việc thiết lập các giá trị CISPR, do đó cung cấp thông tin cơ bản có giá trị cho những người cần kiến ​​thức cơ bản và nâng cao về độ bất định của thiết bị đo lường, cũng như cách tính toán các độ bất định riêng lẻ trong chuỗi đo lường.

• Tiêu chuẩn "CISPR 16-4-3 Độ bất định, thống kê và mô hình giới hạn - Những cân nhắc thống kê trong việc xác định sự tuân thủ EMC của các sản phẩm sản xuất hàng loạt" đề cập đến các đánh giá thống kê trong việc xác định sự tuân thủ EMC của các sản phẩm sản xuất hàng loạt. Cơ sở lý luận cho các đánh giá thống kê này như sau:
  • Giảm nhiễu nhằm mục đích đảm bảo rằng hầu hết các thiết bị được chấp thuận đều không gây nhiễu.
  • Giới hạn CISPR phải phù hợp với mục đích phê duyệt loại thiết bị sản xuất hàng loạt và phê duyệt thiết bị sản xuất đơn lẻ.
  • Nên áp dụng các kỹ thuật thống kê để đảm bảo rằng các thiết bị sản xuất hàng loạt tuân thủ các giới hạn CISPR.
  • Đối với thương mại quốc tế, điều quan trọng là các giới hạn phải được giải thích theo cùng một cách ở mọi quốc gia.
  • Các Ủy ban quốc gia IEC hợp tác về công việc CISPR phải xin phép các cơ quan có thẩm quyền tại quốc gia của họ.

Do đó, tiêu chuẩn này quy định các yêu cầu và cung cấp hướng dẫn dựa trên các kỹ thuật thống kê. Việc tuân thủ EMC của các thiết bị sản xuất hàng loạt phải dựa trên việc áp dụng các kỹ thuật thống kê, đảm bảo cho người tiêu dùng mức độ tin cậy 80% rằng 80% các thiết bị thuộc loại được nghiên cứu tuân thủ các yêu cầu về phát xạ hoặc miễn nhiễm.

• Khuyến nghị về cách xử lý số liệu thống kê khiếu nại về nhiễu sóng vô tuyến được đưa ra trong tiêu chuẩn "CISPR 16-4-4 Phần 4-4: Độ không chắc chắn, số liệu thống kê và mô hình ranh giới - Mô hình tính toán số liệu thống kê khiếu nại và ranh giới để bảo vệ dịch vụ vô tuyến". Tiêu chuẩn này cũng mô tả cách tính cường độ trường nhiễu và ranh giới điện áp để đo tại địa điểm thử nghiệm dựa trên các mô hình phân phối nhiễu thông qua ghép nối bức xạ và dẫn.
• Tiêu chuẩn CISPR 16-4-5 Phần 4-5: Độ bất định, thống kê và mô hình giới hạn - Điều kiện sử dụng các phương pháp thử nghiệm thay thế mô tả một phương pháp cho phép các ủy ban sản phẩm xây dựng giới hạn cho các phương pháp thử nghiệm thay thế bằng cách sử dụng các phép biến đổi từ các giới hạn đã được thiết lập. Mặc dù phương pháp này thường áp dụng cho tất cả các loại phép đo suy thoái, nhưng nó tập trung vào các phép đo suy thoái bức xạ (tức là cường độ trường và tổng công suất bức xạ) mà một số phương pháp thay thế đã được chỉ định. Các phương pháp xây dựng giới hạn này dành cho các ủy ban sản phẩm và các nhóm khác chịu trách nhiệm xác định giới hạn phát xạ trong các trường hợp quyết định sử dụng các phương pháp thử nghiệm thay thế và các giới hạn tương ứng trong tiêu chuẩn sản phẩm được đưa ra.
• Tiêu chuẩn "CISPR 16-4-6 Phần 4-6: Độ bất định, thống kê và mô hình giới hạn - Thống kê và xác minh nhiễu tần số vô tuyến (RFI) bằng phép đo thực địa" áp dụng cho việc thu thập, xử lý và chuẩn bị dữ liệu thống kê về các sự kiện nhiễu vô tuyến nhằm tạo điều kiện thuận lợi cho việc đánh giá hiệu quả của các tiêu chuẩn CISPR liên quan đến tiềm năng ngăn ngừa nhiễu tần số vô tuyến (RFI). Tiêu chuẩn này cũng cung cấp phương pháp phân tích và đánh giá rủi ro của sự kiện RFI xảy ra trong môi trường điện từ. Tiêu chuẩn này cũng hướng dẫn cách thức một bên quan tâm có thể xác minh nguyên nhân gốc rễ của một RFI. Việc thu thập dữ liệu thống kê theo tiêu chuẩn này chỉ bao gồm các sự kiện RFI ảnh hưởng đến khả năng thu sóng vô tuyến của máy thu vô tuyến hoặc các thành phần máy thu liên quan.

Tổ chức của chúng tôi, với nhiều năm kinh nghiệm hỗ trợ các doanh nghiệp trên mọi lĩnh vực với đa dạng các hoạt động thử nghiệm, đo lường, phân tích và đánh giá, sở hữu đội ngũ nhân viên hùng hậu, luôn theo sát sự phát triển khoa học công nghệ toàn cầu và không ngừng cải thiện năng lực. Trong bối cảnh này, chúng tôi cũng cung cấp dịch vụ thử nghiệm theo tiêu chuẩn CISPR 16 về Thiết bị và Phương pháp Đo lường Nhiễu loạn và Miễn nhiễm Vô tuyến.