Kaedah Ujian Umum TSC3000G untuk Ujian Peranti Pencahayaan

"Ujian kaedah ujian umum TSC3000G untuk peranti pencahayaan" standard yang dibangunkan oleh Pertubuhan Piawaian Perindustrian Jepun (JIS) menerangkan prosedur untuk menyediakan keadaan simulasi yang paling serupa untuk keadaan pengabusan lampu kereta, mod siang dan malam pemanduan pada hari hujan, dan mod siang dan malam mencuci kereta yang menyejukkan cepat.

Ruang ujian fogging dwi-suhu untuk lampu kereta mempunyai keupayaan untuk mensimulasikan dua situasi berbeza: memandu pada hari hujan dan memadamkan cucian kereta, serta mensimulasikan musim yang berbeza.

Ruang ujian fogging dwi-suhu untuk lampu kereta menyediakan persekitaran suhu dan kelembapan yang diperlukan untuk lampu kereta. Air suhu malar yang dibekalkan oleh tangki air suhu malar disembur sama rata ke permukaan cermin lampu kereta oleh muncung. Gabungan hos dan cahaya inframerah menyerupai persekitaran cucian kereta yang menyejukkan cepat.

Apabila menggunakan prosedur ini, selepas pelarasan kelembapan awal, produk ujian diletakkan di dalam mesin ujian dalam keadaan penghantaran biasa. Permukaan badan lampu dilaraskan kepada 20, bahagian belakang lampu (sebelah asas) dilaraskan kepada 23, dan kelembapan relatif ialah 55 peratus, dan lampu dimatikan selama 1 jam. Bahagian belakang lampu dilaraskan kepada 80, dan kemudian rasuk rendah dihidupkan (termasuk lampu dengan fungsi lampu rasuk rendah) (voltan mentol ialah 13 Volt). Suhu di belakang lampu dikawal antara 23 darjah dan 80 darjah. Suhu meningkat secara linear selama 30 minit tambah/tolak 5 minit, tetapi kelembapan di bawah 80 peratus kelembapan relatif pada 10 darjah. Selepas kilat, pembentukan kabus diperhatikan setiap 10 minit dan masa yang diperlukan untuk kabus terbentuk diukur. Sekiranya tiada kabus selama satu jam berturut-turut, pemerhatian perlu dilanjutkan setiap 1 minit selama 30 jam dan 2 minit dan setiap 30 minit selama XNUMX jam. Perhatikan bahagian tepi perumah lampu dan gunakan lampu untuk mengesahkan pembentukan kabus (lampu hendaklah padam apabila terdapat kabus).

Ujian ini menentukan sama ada kabus akan terbentuk pada lampu kenderaan semasa hujan atau mencuci kereta, dan sama ada ini akan menjejaskan prestasi pencahayaan.

Ujian sinaran suria (IR) menggunakan lampu haba (inframerah) dalam ruang ujian alam sekitar untuk mensimulasikan kesan pemanasan pendedahan matahari jangka panjang. Makmal lanjutan menggunakan gabungan pelbagai sumber haba sinaran proprietari yang boleh mencapai kawalan suhu yang tepat, sistem kelembapan, pelarasan kelajuan angin dan pelbagai sudut kejadian untuk melaksanakan ujian seperti yang diperlukan. Tatasusunan suria haba sinaran diletakkan pada sudut tertentu di atas sampel ujian sambil mengawal sinaran. Tahap sinaran dikawal kepada suhu panel hitam, suhu permukaan sampel, atau keamatan sinaran tertentu yang diukur dengan pyrometer.

Tujuan ujian ini adalah untuk menyiasat sejauh mana peralatan atau komponen terjejas oleh sinaran suria simulasi dan elemen pemanasan yang berkaitan. Kesan pendedahan matahari adalah penting untuk memahami keteguhan reka bentuk dan pengurangan risiko. Kesan pemanasan sumber haba sinaran seperti matahari adalah berbeza daripada kesan suhu udara yang tinggi sahaja. Penyerapan haba dipengaruhi oleh warna, pemantulan dan ketidakteraturan permukaan (cth. kelicinan). Bagaimana haba diserap oleh dua bahan berbeza boleh memburukkan lagi degradasi mekanikal atau kerosakan.

Dua jenis ujian sinaran suria (IR) yang paling biasa ialah pendedahan keadaan mantap dan pendedahan kitaran. Untuk pendedahan keadaan mantap, suhu udara bilik ditetapkan pada suhu ambien yang ditentukan sebelum penyinaran, manakala pendedahan kitaran boleh meningkatkan atau menurunkan suhu dan sinaran seperti yang diramalkan.

Keputusan yang dilaporkan daripada ujian IR selalunya merupakan penilaian selepas pendedahan atau ujian berfungsi. Pemeriksaan pasca ujian biasa memeriksa pudar, meleding, menggelegak atau mengelupas. Pemeriksaan fungsional biasanya termasuk ukuran kekerasan, ukuran dimensi, pemeriksaan fotometri dan/atau pemeriksaan operasi mudah. Memantau suhu komponen dalaman semasa pendedahan juga adalah perkara biasa.

Ujian ini penting untuk mana-mana sampel yang mungkin terdedah kepada cahaya matahari terik semasa digunakan. Pengujian boleh dilakukan pada pemasangan lengkap, komponen, atau wafer atau sampel.

Organisasi kami, yang telah cuba menyokong perniagaan dari setiap sektor dengan pelbagai ujian, pengukuran, analisis dan kajian penilaian yang telah dijalankan selama bertahun-tahun, mempunyai kakitangan yang kukuh yang mengikuti perkembangan dunia dalam bidang sains dan teknologi dan sentiasa memperbaiki dirinya. Dalam konteks ini, perkhidmatan ujian juga disediakan kepada perniagaan mengikut piawaian "Ujian kaedah ujian Am TSC3000G untuk peranti pencahayaan".