EN IEC 50147-1 Komory bezechowe – Część 1: Pomiar tłumienia ekranu

EN IEC 50147-1 Komory bezechowe – Część 1: Pomiar tłumienia ekranu

Norma „EN IEC 50147-1 Komory bezechowe – Część 1: Pomiar tłumienności ekranowania”, oparta na normie europejskiej, a następnie opublikowana przez Międzynarodową Komisję Elektrotechniczną (IEC), opisuje procedurę pomiaru tłumienności ekranowania w ekranowanych obudowach (pomieszczeniach) w zakresie częstotliwości od 9 kHz do 40 GHz. Celem tej normy jest ustanowienie wspólnej procedury pomiarowej w celu weryfikacji skuteczności ekranowania ekranowanej obudowy.

EN IEC 50147-1 Komory bezechowe – Część 1: Pomiar tłumienia ekranu

Pomiar zazwyczaj wykonuje się z zamontowanymi wszystkimi elementami ekranującymi, a w przypadku filtrów – z podłączonymi wszystkimi przewodami i kablami. Procedura ta wywodzi się ze specyfikacji Agencji Bezpieczeństwa Narodowego „NSA 65-6 Osłony RF dla urządzeń komunikacyjnych”.

Podczas przeprowadzania testu tłumienia ekranu, w zależności od zakresu częstotliwości określonego w specyfikacji obudowy, zostaną użyte następujące rodzaje sprzętu. Sprzęt pomiarowy musi mieć wystarczający zakres dynamiczny, aby wykonać test:

  • Źródła sygnału fali ciągłej obejmujące pasmo od 9 kHz do 40 GHz o wystarczającej stabilności częstotliwości. Jeśli nie są one dostępne w zakresie mikrofal (1-40 GHz), można zastosować źródła impulsowe. Jeśli sprzęt pomiarowy nie oferuje innej alternatywy, częstotliwość początkowa dla pomiarów tłumienia ekranu może wynosić 10 kHz.
  • Anteny pętlowe do pomiaru pola magnetycznego.
  • Możliwe jest dostrojenie dipoli szerokopasmowych, monopoli uziemiających do pomiarów pola elektrycznego i fal płaskich oraz anten tubowych do fal płaskich o częstotliwościach mikrofalowych.
  • Sondy do badania szczelności połączeń.
  • Odbiorniki o wystarczającej czułości.

Podczas testów odbiorczych pomiary należy wykonywać w różnych punktach obudowy, zgodnie ze specyfikacją obudowy. Pomiary te zazwyczaj wykonuje się przed instalacją absorbera. Jeśli poziom hałasu otoczenia jest wystarczająco niski, wszystkie testy należy przeprowadzać z odbiornikiem na zewnątrz obudowy, a nadajnikiem wewnątrz obudowy.

Przed testami odbiorczymi należy przeprowadzić testy szczelności w ościeżnicy, dostępnych przyłączach, wokół filtrów oraz w kanałach wentylacyjnych. Dodatkowo, należy określić natężenie i lokalizację maksymalnego poziomu sygnału emitowanego z obudowy, przesuwając anteny w co najmniej cztery miejsca, najlepiej na różnych ścianach.

Pomiary tłumienia pola elektrycznego i magnetycznego (pomiary referencyjne) należy wykonywać, umieszczając anteny naprzeciwko siebie w odległości określonej przez producenta, proporcjonalnej do grubości ścianki.

Pomiary pól magnetycznych należy wykonywać, umieszczając pętle równolegle do panelu ściennego, naprzeciwko siebie. Zalecane częstotliwości pomiarowe dla pól magnetycznych to 10 kHz, 100 kHz, 1 MHz, 10 MHz i 30 MHz, a dla pól elektrycznych 10 MHz i 30 MHz.

Pomiary fal płaskich należy wykonywać co najmniej dla częstotliwości 100 MHz, 400 MHz, 1 GHz, 10 GHz i 40 GHz, w zależności od zakresu częstotliwości określonego w specyfikacji obudowy.

Tłumienie ekranu można obliczyć tylko w warunkach idealnych. Najważniejsze jest, aby obudowa ekranowana była jednorodna i wykonana z materiałów o określonych właściwościach pod każdym względem. W praktyce odchylenia od tych warunków mogą być tak znaczne, że obliczenia dają jedynie wartości przybliżone.

EN IEC 50147-1 to europejska norma określająca ogólne wymagania dotyczące obudów ekranowanych i komór bezechowych stosowanych w badaniach kompatybilności elektromagnetycznej (EMC). Norma ta odgrywa kluczową rolę w zapewnieniu niezawodności, dokładności i powtarzalności badań EMC, które są kluczowe dla oceny zgodności urządzeń elektronicznych z limitami zakłóceń elektromagnetycznych (EMI).

Głównym celem niniejszej normy jest określenie ogólnych wymagań konstrukcyjnych i eksploatacyjnych dla obudów ekranowanych, w szczególności tych stosowanych do badań emisji promieniowania i odporności na promieniowanie. Obudowy te muszą tworzyć kontrolowane środowisko, izolujące badane urządzenie od zewnętrznych pól elektromagnetycznych i odbić.

Podstawowe wymagania niniejszej normy są następujące:

  • Skuteczność ekranowania: Norma ta określa minimalną skuteczność ekranowania obudowy. Zapewnia ona, że ​​zewnętrzny szum elektromagnetyczny nie wpłynie na dokładność testu.
  • Powłoka absorbująca: Komory bezechowe powinny być pokryte powłokami absorbującymi fale radiowe (RF), które minimalizują odbicia wewnętrzne i symulują środowisko wolnej przestrzeni.
  • Konstrukcja mechaniczna: Norma ta określa wymagania dotyczące materiałów, połączeń, uszczelnień i konstrukcji drzwi w celu zapewnienia długotrwałego ekranowania elektromagnetycznego i integralności mechanicznej.
  • Dostęp i wprowadzanie kabli: Określa specyfikacje dotyczące sposobu, w jaki kable zasilające i sygnałowe mogą wchodzić do pomieszczenia, nie pogarszając parametrów ekranowania, zazwyczaj poprzez przepusty filtrowane lub falowody.
  • Testowanie wydajności: Norma EN IEC 50147-1 określa szczegółowe procedury testowe w celu sprawdzenia, czy pomieszczenie spełnia wymagane parametry ekranowania i odbicia elektromagnetycznego. Mogą one obejmować:
    • Testy tłumienia przy określonych częstotliwościach
    • Badania jednorodności pola w celu określenia odporności na promieniowanie
    • Znormalizowane testy tłumienia pola dla emisji
  • Konserwacja i dokumentacja: Regularne kontrole, protokoły konserwacyjne i właściwa dokumentacja są niezbędne do utrzymania długoterminowej wydajności i zgodności z przepisami.

Norma EN IEC 50147-1 ma zastosowanie do:

  • Obiekty do testowania kompatybilności elektromagnetycznej (EMC) dla elektroniki użytkowej, podzespołów samochodowych, urządzeń medycznych i maszyn przemysłowych
  • Rządowe i wojskowe laboratoria badawcze wymagające oznakowania CE i zgodności z międzynarodowymi normami EMC
  • Akredytowane organizacje testujące EMC

Norma ta jest ważna, ponieważ zapewnia dokładność, niezawodność i powtarzalność testów kompatybilności elektromagnetycznej (EMC), które mają kluczowe znaczenie dla rozwoju i certyfikacji urządzeń elektronicznych. Oto kilka kluczowych powodów, dla których norma ta jest tak ważna:

  • Zapewnia kontrolowane środowisko testowe: Norma ta definiuje sposób konstruowania ekranowanych obudów i komór bezechowych, które eliminują lub redukują niepożądane zakłócenia elektromagnetyczne (EMI) i odbicia. Zapewnia to spójne i niezawodne warunki testowania EMC. Bez odpowiednich ekranów i absorberów wyniki testów mogą być zniekształcone przez szum zewnętrzny lub odbicia wewnętrzne, co prowadzi do nieprawidłowej zgodności lub nieoczekiwanej awarii w warunkach rzeczywistych.
  • Wspiera zgodność z przepisami EMC: Produkty elektroniczne i elektryczne sprzedawane w Europie muszą być zgodne z dyrektywą EMC 2014/30/UE. Norma EN IEC 50147-1 stanowi część infrastruktury do standaryzowanej weryfikacji tej zgodności. Korzystając z komór pomiarowych zgodnych z tą normą, producenci mogą:
    • Mogą udowodnić, że ich testy zostały wykonane prawidłowo
    • Mogą uzyskać oznakowanie CE
    • Mogą uniknąć kar pieniężnych lub wycofań z rynku za nieprzestrzeganie przepisów
  • Zapewnia bezpieczeństwo i wydajność: Niska wydajność EMC może skutkować:
    • Wadliwy sprzęt medyczny
    • Niebezpieczna ingerencja w pojazdy lub samoloty
    • Przerwy w systemach komunikacyjnych

Norma ta pomaga zapobiegać tego typu krytycznym dla bezpieczeństwa awariom, umożliwiając dokładne testowanie EMC.

  • Ułatwia globalny handel i standaryzację: Norma ta jest zgodna z normami międzynarodowymi, takimi jak IEC i CISPR. Dzięki temu środowisko testowe zgodne z tą normą jest powszechnie akceptowane na całym świecie. Wspierane jest wzajemne uznawanie wyników testów EMC między krajami i laboratoriami.
  • Buduje zaufanie do wyników testów EMC: Regulatorzy, klienci i jednostki certyfikujące muszą ufać wynikom testów EMC. Norma EN IEC 50147-1 określa jasne kryteria ustalania i walidacji środowisk testowych wykorzystywanych do uzyskiwania tych wyników.

W związku z tym norma EN IEC 50147-1 ma fundamentalne znaczenie dla wszystkich osób zajmujących się testowaniem kompatybilności elektromagnetycznej w Europie. Gwarantuje ona, że ​​bezechowe i ekranowane środowiska testowe zapewniają dokładne, powtarzalne i wolne od zakłóceń warunki, gwarantując spełnienie przez produkty rygorystycznych wymagań EMC. W obliczu rosnącego zagrożenia związanego z zanieczyszczeniem elektromagnetycznym w cyfrowym świecie, zgodność z normą EN IEC 50147-1 i podobnymi normami jest ważniejsza niż kiedykolwiek.

Nasza organizacja, która od lat wspiera przedsiębiorstwa z wszystkich sektorów, oferując szeroki zakres usług testowania, pomiarów, analiz i ewaluacji, dysponuje silnym zespołem pracowników, którzy uważnie śledzą światowe osiągnięcia w dziedzinie nauki i technologii oraz stale się rozwijają. W tym kontekście świadczymy również usługi testowe zgodnie z normą „EN IEC 50147-1 Komory bezechowe – Część 1: Pomiar tłumienia ekranu”.

WhatsApp