EN การทดสอบมาตรฐานยุโรปมาตรา 167

มาตรฐาน EN เป็นมาตรฐานยุโรป มาตรฐานเหล่านี้ระบุข้อกำหนดสำหรับสินค้าเฉพาะ วัสดุ ส่วนประกอบ ระบบ หรือบริการ หรืออธิบายรายละเอียดวิธีการหรือขั้นตอนเฉพาะ และดำเนินการทดสอบตามนั้น

• EN 129101: 1995; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดรายละเอียดเปล่า: ตัวเหนี่ยวนำการยึดพื้นผิวที่มีบาดแผลด้วยลวดที่มีคุณภาพประเมิน ระดับการประเมิน E
• EN 129102: 1995; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดรายละเอียดเปล่า: ตัวเหนี่ยวนำการยึดพื้นผิวที่มีบาดแผลด้วยลวดที่มีคุณภาพประเมิน ระดับการประเมิน ป.
• EN 129200: 1996; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ลักษณะตัดขวาง : ตัวเหนี่ยวนำแบบตายตัวที่มีแกนเซรามิกหรือแกนเฟอร์ไรท์พันด้วยลวดทองแดงสำหรับวงจร RF
• EN 129201 : 1995 ; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ตัวเหนี่ยวนำแบบมีบาดแผลพร้อมแกนเซรามิกหรือเฟอร์ไรท์ ระดับการประเมิน E
• EN 129202 : 1995 ; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ตัวเหนี่ยวนำแบบมีสายที่มีแกนเซรามิกหรือเฟอร์ไรท์ ระดับการประเมิน ป.
• EN 130000 : 1994 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ลักษณะทั่วไป: ตัวเก็บประจุแบบคงที่
• EN 130100: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ลักษณะตัดขวาง: ตัวเก็บประจุฟอยล์โลหะอิเล็กทริกฟิล์มโพลีเอทิลีนเทเรพทาเลตคงที่สำหรับกระแสตรง
• EN 130101: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ตัวเก็บประจุฟอยล์โลหะอิเล็กทริกฟิล์มโพลีเอทิลีนเทเรพทาเลตคงที่สำหรับกระแสตรง ระดับการประเมิน E
• EN 130102: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ตัวเก็บประจุฟอยล์โลหะอิเล็กทริกฟิล์มโพลีเอทิลีนเทเรพทาเลตคงที่สำหรับกระแสตรง ระดับการประเมิน EZ
• EN 130200 : 1993 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ลักษณะหน้าตัด: ตัวเก็บประจุแทนทาลัมแบบตายตัวที่มีอิเล็กโทรไลต์ที่ไม่เป็นของแข็งหรือของแข็ง
• EN 130201: 1995; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ตัวเก็บประจุแทนทาลัมคงที่พร้อมอิเล็กโทรไลต์ที่เป็นของแข็ง, แอโนดที่มีรูพรุน (อนุวงศ์ 3)
• EN 130202: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดรายละเอียดเปล่า: ตัวเก็บประจุแทนทาลัมคงที่พร้อมอิเล็กโทรไลต์ที่ไม่ใช่ของแข็ง แอโนดที่มีรูพรุน (อนุวงศ์ 2)
• EN 130300: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ลักษณะหน้าตัด: ตัวเก็บประจุอลูมิเนียมอิเล็กโทรไลต์ที่มีอิเล็กโทรไลต์ที่เป็นของแข็งและไม่ใช่ของแข็ง
• EN 130500: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ลักษณะหน้าตัด: ตัวเก็บประจุไดอิเล็กทริกฟิล์มโพลีคาร์บอเนตเคลือบโลหะคงที่สำหรับกระแสตรง
• EN 130501: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ตัวเก็บประจุไดอิเล็กทริกฟิล์มโพลีคาร์บอเนตเคลือบโลหะคงที่สำหรับกระแสตรง ระดับการประเมิน E
• EN 130502: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ตัวเก็บประจุไดอิเล็กทริกฟิล์มโพลีคาร์บอเนตเคลือบโลหะคงที่สำหรับกระแสตรง ระดับการประเมิน EZ
• EN 130800 : 2001 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติมาตรา. ตัวเก็บประจุแบบติดตั้งบนพื้นผิวแทนทาลัม
• EN 130900: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ลักษณะตัดขวาง: ตัวเก็บประจุ DC ฟอยล์โลหะอิเล็กทริกฟิล์มโพลีสไตรีนคงที่
• EN 130901: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ตัวเก็บประจุแบบ DC ฟอยล์โลหะอิเล็กทริกฟิล์มโพลีสไตรีนคงที่ ระดับการประเมิน E
• EN 130902: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ตัวเก็บประจุแบบ DC ฟอยล์โลหะอิเล็กทริกฟิล์มโพลีสไตรีนคงที่ ระดับการประเมิน EZ
• EN 131700: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ลักษณะหน้าตัด: ตัวเก็บประจุคงที่สำหรับกระแสตรงที่มีอิเล็กโทรดฟอยล์โลหะบางและไดอิเล็กทริกฟิล์มโพลีคาร์บอเนต
• EN 131701: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ตัวเก็บประจุคงที่สำหรับกระแสตรงที่มีอิเล็กโทรดฟอยล์โลหะบางและไดอิเล็กทริกฟิล์มโพลีคาร์บอเนต ระดับการประเมิน E
• EN 131702: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ตัวเก็บประจุคงที่สำหรับกระแสตรงที่มีอิเล็กโทรดฟอยล์โลหะบางและไดอิเล็กทริกฟิล์มโพลีคาร์บอเนต ระดับการประเมิน EZ
• EN 131800: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ลักษณะส่วน: ตัวเก็บประจุ DC ฟอยล์โลหะอิเล็กทริกฟิล์มโพลีโพรพิลีนคงที่
• EN 131801: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ตัวเก็บประจุ DC ฟอยล์โลหะอิเล็กทริกฟิล์มโพลีโพรพิลีนคงที่ ระดับการประเมิน E
• EN 131802: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ตัวเก็บประจุ DC ฟอยล์โลหะอิเล็กทริกฟิล์มโพลีโพรพิลีนคงที่ ระดับการประเมิน EZ
• EN 132100: 1997; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ลักษณะหน้าตัด: ตัวเก็บประจุแบบยึดกับพื้นผิวเซรามิกหลายชั้นคงที่ ระดับการประเมิน EZ และ DZ
• EN 132101: 1993; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดว่างเปล่า แก้ไขตัวเก็บประจุชิปเซรามิกหลายชั้น
• EN 132101: 1997; คุณสมบัติรายละเอียดว่างเปล่า ตัวเก็บประจุแบบยึดพื้นผิวเซรามิกหลายชั้นแบบตายตัว ระดับการประเมิน EZ
• EN 132102: 1997; คุณสมบัติรายละเอียดว่างเปล่า ตัวเก็บประจุแบบยึดพื้นผิวเซรามิกหลายชั้นแบบตายตัว ระดับการประเมิน DZ
• EN 132400 : 1995 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติมาตรา. ตัวเก็บประจุคงที่ (ระดับ D) สำหรับการปราบปรามการรบกวนทางแม่เหล็กไฟฟ้าและการเชื่อมต่อกับเครือข่ายอุปทาน
• EN 132401 : 1995 ; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อมูลจำเพาะรายละเอียดเปล่า : ตัวเก็บประจุแบบตายตัวสำหรับการปราบปรามการรบกวนทางแม่เหล็กไฟฟ้าและการเชื่อมต่อกับแหล่งจ่ายไฟหลัก ระดับการประเมิน D
• EN 132421 : 1997 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ตัวเก็บประจุคงที่สำหรับการปราบปรามการรบกวนทางแม่เหล็กไฟฟ้า ตัวเก็บประจุที่ต้องการการทดสอบความปลอดภัย (การทดสอบความปลอดภัยเท่านั้น)
• EN 133000: 1997; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดทั่วไป : หน่วยกรองแบบพาสซีฟสำหรับการปราบปรามการรบกวนทางแม่เหล็กไฟฟ้า
• EN 133100: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ลักษณะตัดขวาง: หน่วยกรองแบบพาสซีฟสำหรับการปราบปรามการรบกวนทางแม่เหล็กไฟฟ้า ตัวกรองที่ไม่ต้องการการทดสอบความปลอดภัย
• EN 133101: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อมูลจำเพาะรายละเอียดเปล่า : หน่วยกรองแบบพาสซีฟสำหรับการปราบปรามการรบกวนทางแม่เหล็กไฟฟ้า ตัวกรองที่ไม่ต้องการการทดสอบความปลอดภัย
• EN 133200 : 1995 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ลักษณะตัดขวาง: หน่วยกรองแบบพาสซีฟสำหรับการปราบปรามการรบกวนทางแม่เหล็กไฟฟ้า (ตัวกรองที่ต้องการการทดสอบความปลอดภัย)
• EN 133200 : 1999 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ลักษณะตัดขวาง: หน่วยกรองแบบพาสซีฟสำหรับการปราบปรามการรบกวนทางแม่เหล็กไฟฟ้า (ตัวกรองที่ต้องการการทดสอบความปลอดภัย)
• EN 133201: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: หน่วยกรองแบบพาสซีฟสำหรับการปราบปรามการรบกวนทางแม่เหล็กไฟฟ้า ตัวกรองที่ต้องการการทดสอบความปลอดภัย
• EN 133221: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: หน่วยกรองแบบพาสซีฟสำหรับการปราบปรามการรบกวนทางแม่เหล็กไฟฟ้า ตัวกรองที่จำเป็นต้องมีการทดสอบความปลอดภัย (การทดสอบความปลอดภัยเท่านั้น)
• EN 134000: 1995; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติทั่วไป: ตัวเก็บประจุแบบแปรผัน (การยืนยันคุณสมบัติและการยืนยันความสามารถ)
• EN 134100: 1996; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ลักษณะหน้าตัด: ตัวเก็บประจุแบบแปรผัน (การอนุมัติคุณสมบัติ)
• EN 134101: 1995; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ตัวเก็บประจุปรับให้เรียบแบบแผ่นเดียว (การยืนยันคุณสมบัติ)
• EN 134102: 1995; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ตัวเก็บประจุแบบรวมศูนย์หลายรอบ (การยืนยันคุณสมบัติ)
• EN 134103: 1995; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ตัวเก็บประจุไดอิเล็กทริกอากาศชนิดใบพัด (การยืนยันคุณสมบัติ)
• EN 134104 : 1995 ; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ตัวเก็บประจุแบบทริมเมอร์แบบบีบอัด (การยืนยันคุณสมบัติ)
• EN 137000: 1996; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ลักษณะทั่วไป : ตัวเก็บประจุอลูมิเนียมอิเล็กโทรไลต์แบบตายตัวที่มีอิเล็กโทรไลต์ชนิดไม่แข็งตัวสำหรับใช้กับมอเตอร์
• EN 137100: 1996; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติมาตรา. ตัวเก็บประจุอลูมิเนียมอิเล็กโทรไลต์ ac แบบตายตัวพร้อมอิเล็กโทรไลต์ที่ไม่เป็นของแข็งสำหรับสตาร์ทมอเตอร์ การยืนยันคุณสมบัติ
• EN 137101: 1996; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดว่างเปล่า ตัวเก็บประจุอลูมิเนียมอิเล็กโทรไลต์ ac แบบตายตัวพร้อมอิเล็กโทรไลต์ที่ไม่ใช่ของแข็งสำหรับการใช้งานสตาร์ทมอเตอร์ (การอนุมัติคุณสมบัติ)
• EN 138000: 1997; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดทั่วไป : ตัวเหนี่ยวนำคงที่สำหรับการปราบปรามการรบกวนทางแม่เหล็กไฟฟ้า (ตัวเหนี่ยวนำที่จำเป็นต้องมีการทดสอบความปลอดภัย)
• EN 138100: 1997; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ลักษณะตัดขวาง : ตัวเหนี่ยวนำคงที่สำหรับการปราบปรามการรบกวนทางแม่เหล็กไฟฟ้า (ตัวเหนี่ยวนำที่จำเป็นต้องมีการทดสอบความปลอดภัย)
• EN 138101: 1997; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดรายละเอียดเปล่า: ตัวเหนี่ยวนำคงที่สำหรับการปราบปรามการรบกวนทางแม่เหล็กไฟฟ้า (ตัวเหนี่ยวนำที่จำเป็นต้องมีการทดสอบความปลอดภัย) ระดับการประเมิน D
• EN 140000 : 1995 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติทั่วไป: ตัวต้านทานคงที่
• EN 140100 : 2008 ; คุณสมบัติมาตรา. แก้ไขตัวต้านทานฟิล์มพลังงานต่ำ
• EN 140101-806 : 2008+A1 : 2013 ; รายละเอียดคุณสมบัติ : แก้ไขตัวต้านทานฟิล์มพลังงานต่ำ ตัวต้านทานแบบฟิล์มโลหะบนเซรามิกคุณภาพสูง ปลายเคลือบหรือขึ้นรูปตามรูปแบบ แกนหรือขึ้นรูป
• EN 140101: 1997; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดรายละเอียดเปล่า: ตัวต้านทานบาดแผลแบบคลื่นวิทยุกำลังต่ำคงที่ (ระดับเรต S)
• EN 140101 : 2008 ; ข้อกำหนดรายละเอียดเปล่า แก้ไขตัวต้านทานฟิล์มพลังงานต่ำ
• EN 140102: 1996; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ตัวต้านทานแบบไม่มีลวดพันกันกำลังต่ำแบบคงที่ (ระดับเรต M)
• EN 140103: 1996; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดว่างเปล่า ตัวต้านทานแบบไม่มีบาดแผลแบบใช้พลังงานต่ำคงที่ (ระดับพิกัด P)
• EN 140104: 1996; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดที่ว่างเปล่า: ตัวต้านทานการพันแบบไม่ใช้สายกำลังต่ำแบบคงที่ (ระดับเรตติ้ง SB และ SC)
• EN 140200: 1997; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ลักษณะส่วน: ตัวต้านทานกำลังคงที่
• EN 140201: 1997; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ตัวต้านทานกำลังคงที่ (ระดับพิกัด S)
• EN 140202: 1997; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ตัวต้านทานกำลังคงที่ (ระดับพิกัด M)
• EN 140203: 1997; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ตัวต้านทานกำลังคงที่ (ระดับพิกัด H)
• EN 140210 : 1995 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ลักษณะส่วน: ตัวต้านทานกำลังคงที่ การยืนยันความสามารถ
• EN 140211: 1995; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ตัวต้านทานกำลังคงที่ การยืนยันความสามารถ
• EN 140400 : 1997 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ลักษณะหน้าตัด: ตัวต้านทานแบบยึดติดบนพื้นผิวพลังงานต่ำ (SMD) แบบตายตัว
• EN 140401-801 : 2007+A1 : 2013 ; รายละเอียดคุณสมบัติ: แก้ไขตัวต้านทาน SMD แบบฟิล์มพลังงานต่ำ สี่เหลี่ยมผืนผ้า. คลาสความเสถียร 0,1 ; 0,25 ; 0,5 ; หนึ่ง ;
• EN 140401-802 : 2007+A2 : 2013 ; ข้อมูลจำเพาะโดยละเอียด: ตัวต้านทาน SMD แบบฟิล์มพลังงานต่ำแบบคงที่ สี่เหลี่ยมผืนผ้า. ชั้นความมั่นคง 1 ; ที่ 2 ;
• EN 140401-803 : 2007+A2 : 2013 ; ข้อมูลจำเพาะโดยละเอียด: ตัวต้านทาน SMD แบบฟิล์มพลังงานต่ำแบบคงที่ ทรงกระบอก. ระดับความเสถียร 0,05 ; 0,1 ; 0,25 ; 0,5 ; หนึ่ง ; ที่ 1 ;
• EN 140401-804 : 2005 ; ข้อกำหนดรายละเอียด แก้ไขตัวต้านทานแบบติดบนพื้นผิวที่มีความเสถียรสูง (SMD) แบบใช้พลังงานต่ำ และไม่มีลวดพัน สี่เหลี่ยมผืนผ้า. คลาสความเสถียร 0,1;0,25 ;
• EN 140401-804 : 2011+A1 : 2013 ; รายละเอียดข้อมูลจำเพาะ: ตัวต้านทาน SMD แบบฟิล์มพลังงานต่ำแบบถาวรที่มีความเสถียรสูง สี่เหลี่ยมผืนผ้า. คลาสความเสถียร 0,1 ; 0,25 ;
• EN 140401: 1997; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดว่างเปล่า แก้ไขตัวต้านทานแบบติดพื้นผิวด้วยคลื่นวิทยุ (SMD) พลังงานต่ำ
• EN 140401: 2009; ข้อกำหนดรายละเอียดเปล่า ตัวต้านทานแบบยึดติดบนพื้นผิวฟิล์มพลังงานต่ำ (SMD) แบบตายตัว
• EN 140402-801 : 2005 ; ข้อมูลจำเพาะโดยละเอียด : ตัวต้านทานแบบติดที่พื้นผิวแบบติดที่พื้นผิวลวดกำลังต่ำ (SMD) สี่เหลี่ยมผืนผ้า. ชั้นความมั่นคง 0,5 ; หนึ่ง ; ที่ 1 ;
• EN 140402-801 : 2015 ; ข้อมูลจำเพาะโดยละเอียด : ตัวต้านทานตัวยึดพื้นผิวแบบมีสายพลังงานต่ำแบบคงที่ (SMD) สี่เหลี่ยมผืนผ้า. ชั้นความมั่นคง 0,5 ; หนึ่ง ; ที่ 1 ;
• EN 140402: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ตัวต้านทานตัวยึดพื้นผิวที่มีบาดแผลลวดต่ำ (SMD) แบบคงที่
• EN 140402: 2015; Blank Detail Specification : ตัวต้านทานแบบติดที่พื้นผิวลวดพันกันแบบใช้พลังงานต่ำ (SMD)
• EN 141101 : 1992 ; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดว่างเปล่า ลีดสกรูและโพเทนชิโอมิเตอร์แบบหมุนที่ตั้งไว้ล่วงหน้า
• EN 143000 : 1992 ; ระบบการประเมินคุณภาพแบบฮาร์โมไนซ์สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ : ลักษณะทั่วไป : เทอร์มิสเตอร์ค่าสัมประสิทธิ์อุณหภูมิเชิงลบที่ให้ความร้อนโดยตรง
• EN 143001 : 1992 ; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดที่ว่างเปล่า: เทอร์มิสเตอร์ค่าสัมประสิทธิ์อุณหภูมิเชิงลบที่ให้ความร้อนโดยตรง (แก้วที่เติมหรือลูกปัดเคลือบแก้ว)
• EN 143002: 1992; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดว่างเปล่า: เทอร์มิสเตอร์ค่าสัมประสิทธิ์อุณหภูมิเชิงลบ (ลูกปัดในซองจดหมาย) ที่ได้รับความร้อนโดยตรง
• EN 143003: 1992; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดที่ว่างเปล่า: เทอร์มิสเตอร์ค่าสัมประสิทธิ์อุณหภูมิเชิงลบที่ให้ความร้อนโดยตรง (ประเภทดิสก์)
• EN 143004: 1992; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดที่ว่างเปล่า: เทอร์มิสเตอร์ค่าสัมประสิทธิ์อุณหภูมิเชิงลบที่ให้ความร้อนโดยตรง (ชนิดแท่ง)
• EN 144000 : 1994 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ลักษณะทั่วไป: เทอร์มิสเตอร์ค่าสัมประสิทธิ์อุณหภูมิบวกที่ให้ความร้อนโดยตรง โดยทั่วไปทำจากวัสดุเฟอร์โรอิเล็กทริกดัดแปลง
• EN 144001 : 1995 ; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดว่างเปล่า: เทอร์มิสเตอร์ค่าสัมประสิทธิ์อุณหภูมิบวกที่ให้ความร้อนโดยตรง ออกแบบมาสำหรับข้อจำกัดในปัจจุบันเป็นหลัก
• EN 144002: 1995; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: เทอร์มิสเตอร์ค่าสัมประสิทธิ์อุณหภูมิบวกที่ให้ความร้อนโดยตรง ออกแบบมาสำหรับองค์ประกอบความร้อนเป็นหลัก
• EN 144003: 1995; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดว่างเปล่า: เทอร์มิสเตอร์ค่าสัมประสิทธิ์อุณหภูมิบวกที่ให้ความร้อนโดยตรง ออกแบบมาสำหรับกระแสไหลเข้าโดยเฉพาะ
• EN 144004: 1995; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: เทอร์มิสเตอร์ค่าสัมประสิทธิ์อุณหภูมิบวกที่ให้ความร้อนโดยตรง ออกแบบมาสำหรับการตรวจจับอุณหภูมิโดยเฉพาะ
• EN 147000 : 1995 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดทั่วไป เต้ารับสำหรับใช้กับรีเลย์ไฟฟ้าที่มีคุณภาพที่กำหนด
• EN 147100 : 1995 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ลักษณะตัดขวาง: ซ็อกเก็ตรีเลย์ที่มีคุณภาพที่ประเมิน
• EN 147101: 1995; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดว่างเปล่า: ซ็อกเก็ตรีเลย์ที่มีคุณภาพที่ประเมินแล้ว
• EN 150001: 1993; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ไดโอดเซมิคอนดักเตอร์เอนกประสงค์
• EN 150008 : 1993 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ไดโอดเรียงกระแสระดับบรรยากาศ
• EN 150009 : 1993 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดว่างเปล่า: ไดโอดเรียงกระแสระดับรัฐ
• EN 150010 : 1993 ; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเป็นโมฆะ: ไทริสเตอร์ระดับบรรยากาศ
• EN 150011 : 1993 ; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ไทริสเตอร์เกรดเคส
• EN 150013 : 1993 ; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดว่างเปล่า: ตัวควบคุมกระแสและไดโอดอ้างอิงปัจจุบัน
• EN 150014: 1997; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดว่างเปล่า: ไทริสเตอร์ไดโอด, ตัวป้องกันแรงดันไฟเกินชั่วคราว
• EN 150015 : 1993 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ไดโอดต้านแรงดันไฟเกินชั่วคราวแบบทิศทางเดียว
• EN 153000: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดทั่วไป : อุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์กำลังสัมผัสแรงดันแบบไม่ต่อเนื่อง (การยืนยันคุณสมบัติ)
• EN 160000 : 1993 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติทั่วไป: หน่วยอิเล็กทรอนิกส์แบบแยกส่วน
• EN 160100: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อมูลจำเพาะของภาคตัดขวาง: การตรวจสอบความสามารถของผู้ผลิตส่วนประกอบกล่องพิมพ์ที่มีคุณภาพที่ประเมิน
• EN 160101: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ชุดประกอบบอร์ดอิเล็กทรอนิกส์แบบแยกส่วนซึ่งได้รับการประเมินคุณภาพ การยืนยันความสามารถ
• EN 160200-1: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติมาตรา. หน่วยอิเล็กทรอนิกส์โมดูลาร์ไมโครเวฟคุณภาพที่ประเมินแล้ว ขั้นตอนการอนุมัติความสามารถ
• EN 160200-2: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติมาตรา. หน่วยอิเล็กทรอนิกส์โมดูลาร์ไมโครเวฟคุณภาพที่ประเมินแล้ว ไดเรกทอรีวิธีการทดสอบ
• EN 160201: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดว่างเปล่า หน่วยอิเล็กทรอนิกส์โมดูลาร์ไมโครเวฟคุณภาพที่ประเมินแล้ว การยืนยันความสามารถ
• EN 165000-1: 1996; วงจรรวมแบบฟิล์มและไฮบริด ข้อกำหนดทั่วไป ขั้นตอนการอนุมัติความสามารถ
• EN 165000-2: 1996; วงจรรวมแบบฟิล์มและไฮบริด การตรวจสอบด้วยสายตาภายในและการทดสอบพิเศษ
• EN 165000-3: 1996; วงจรรวมแบบฟิล์มและไฮบริด รายการตรวจสอบและรายงานการตรวจสอบตนเองสำหรับผู้ผลิตฟิล์มและวงจรรวมไฮบริด
• EN 165000-4: 1996; วงจรรวมแบบฟิล์มและไฮบริด ข้อมูลลูกค้า กำหนดการระดับการประเมินผลิตภัณฑ์ และข้อกำหนดรายละเอียดเปล่า
• EN 165000-5: 1998; วงจรรวมแบบฟิล์มและไฮบริด ขั้นตอนการอนุมัติคุณสมบัติ
• EN 166000: 1996; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดทั่วไป ตัวกรองคลื่นเสียงสำหรับพื้นผิว (SAW)
• EN 166100: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติของส่วน: ตัวกรองคลื่นเสียงพื้นผิว (SAW)
• EN 166101 : 1999 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดที่ว่างเปล่า: ฟิลเตอร์คลื่นอะคูสติกพื้นผิว (SAW) การยืนยันความสามารถ
• EN 167000 : 1993 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติทั่วไป: ตัวกรองเพียโซอิเล็กทริก
• EN 167100: 1996; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติชิ้นส่วน : ตัวกรองเพียโซอิเล็กทริก (การอนุมัติ Talent)
• EN 167101: 1996; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดว่างเปล่า : ตัวกรองเพียโซอิเล็กทริก (การยืนยันความสามารถ)
• EN 168000: 1996; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติทั่วไป: หน่วยคริสตัลควอตซ์
• EN 168100 : 1995 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ลักษณะส่วน: หน่วยคริสตัลควอตซ์ (ยืนยันความสามารถ)
• EN 168101: 1997; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ แอตทริบิวต์รายละเอียดที่ว่างเปล่า : หน่วยคริสตัลควอตซ์ (ยืนยันทักษะ)
• EN 168201: 1996; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดว่างเปล่า หน่วยคริสตัลควอตซ์ (ยืนยันคุณสมบัติ).
• EN 169000 : 1993 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดทั่วไป ออสซิลเลเตอร์ควบคุมคริสตัลควอตซ์
• EN 169100 : 1993 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ลักษณะส่วน : ออสซิลเลเตอร์ควบคุมคริสตัลควอตซ์ (ยืนยันความสามารถ)
• EN 169101 : 1995 ; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดว่างเปล่า : ออสซิลเลเตอร์ควบคุมคริสตัลควอตซ์ (ยืนยันทักษะ)
• EN 169200 : 1996 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ลักษณะตัดขวาง: ออสซิลเลเตอร์ควบคุมด้วยคริสตัลควอตซ์ (การยืนยันคุณสมบัติ)
• EN 169201 : 1996 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดว่างเปล่า ออสซิลเลเตอร์ควบคุมด้วยคริสตัลควอตซ์ (การยืนยันคุณสมบัติ)
• EN 170000 : 1999 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติทั่วไป: เรโซเนเตอร์ไดอิเล็กทริกชนิดท่อนำคลื่น
• EN 175100 : 1993 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติมาตรา. ขั้วต่อซ็อกเก็ตแบบสองชิ้นและแบบมีขอบสำหรับการใช้งานบนบอร์ดที่พิมพ์
• EN 175101-802: 2000; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดรายละเอียด คอนเน็กเตอร์สองชิ้นสำหรับบอร์ดที่พิมพ์สำหรับหน้าสัมผัสจำนวนมากด้วยกริดพื้นฐาน 3 มม. ในแถว 4 หรือ 2,54
• EN 175101-809: 2000; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดรายละเอียด รายละเอียดข้อกำหนด : ขั้วต่อสองชิ้นสำหรับการ์ดที่พิมพ์ด้วยกริด 2,54 มม. รุ่นสั้นที่สอดคล้องกับ CECC 75101-801 ด้วยคุณภาพที่กำหนด
• EN 175200 : 1992 ; ระบบฮาร์โมไนซ์สำหรับการประเมินคุณภาพชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ : ลักษณะหน้าตัด : ขั้วต่อแบบวงกลม
• EN 175200 : 1997 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติส่วน: ขั้วต่อแบบวงกลม
• EN 175201-804 : 2000 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดรายละเอียด ตัวเชื่อมต่อแบบวงกลม หน้าสัมผัสกลม เส้นผ่านศูนย์กลาง 1,6 มม. คัปปลิ้งแบบเกลียว
• EN 175300 : 1992 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ลักษณะหน้าตัด: ขั้วต่อสี่เหลี่ยมสำหรับความถี่ที่ต่ำกว่า 3 MHz
• EN 175300 : 1997 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ลักษณะหน้าตัด: ขั้วต่อสี่เหลี่ยมสำหรับความถี่ที่ต่ำกว่า 3 MHz
• EN 175301-801: 2000; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดรายละเอียด คอนเนคเตอร์สี่เหลี่ยมความหนาแน่นสูง หน้าสัมผัสการย้ำแบบถอดได้แบบกลม
• EN 175301-801: 2006; ข้อกำหนดรายละเอียด คอนเนคเตอร์สี่เหลี่ยมความหนาแน่นสูง หน้าสัมผัสการย้ำแบบถอดได้แบบกลม
• EN 175301-803: 2000; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดรายละเอียด ขั้วต่อสี่เหลี่ยม หน้าสัมผัสแบนหนา 0,8 มม. สกรูล็อคถอดไม่ได้
• EN 175301-803: 2006; ข้อมูลจำเพาะโดยละเอียด: ขั้วต่อสี่เหลี่ยม หน้าสัมผัสแบนหนา 0,8 มม. ไม่สามารถถอดสกรูล็อคได้
• EN 180000: 1996; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติทั่วไป: ตัวลดทอนสัญญาณไฟเบอร์ออปติก
• EN 180101 : 1995 ; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: ตัวลดทอนใยแก้วนำแสงคงที่
• EN 181000 : 1995 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดทั่วไป อุปกรณ์แยกแขนงใยแก้วนำแสง
• EN 181101 : 1995 ; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: อุปกรณ์แยกสายใยแก้วนำแสง ประเภท : ดาวฤกษ์ที่ดูดกลืนแสงได้โดยไม่มีความยาวคลื่น
• EN 181102 : 1995 ; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: อุปกรณ์แยกสายใยแก้วนำแสง ประเภท : ดาวส่งสัญญาณเลือกความยาวคลื่น
• EN 181103: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: อุปกรณ์แยกสายใยแก้วนำแสง ประเภท : ดาวที่ดูดซึมได้เฉพาะความยาวคลื่นที่ไม่มีความยาวคลื่นสำหรับการใช้งานโทรคมนาคม
• EN 181104: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดเปล่า: อุปกรณ์แยกสายใยแก้วนำแสง ประเภท : ดาวที่ดูดกลืนความยาวคลื่นได้สำหรับการประยุกต์ใช้งานโทรคมนาคม
• EN 186000-1 : 1994 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดทั่วไป ชุดเชื่อมต่อไฟเบอร์ออปติกและสายเคเบิล ข้อกำหนด วิธีการทดสอบ และขั้นตอนการอนุมัติความชำนาญ
• EN 186001 : 1994 ; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดว่างเปล่า คอนเนคเตอร์สำหรับไฟเบอร์ออปติกและสายเคเบิล หมวดสิ่งแวดล้อม I.
• EN 186002: 1994; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดว่างเปล่า คอนเนคเตอร์สำหรับไฟเบอร์ออปติกและสายเคเบิล หมวดสิ่งแวดล้อม II.
• EN 186003: 1994; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดว่างเปล่า คอนเนคเตอร์สำหรับไฟเบอร์ออปติกและสายเคเบิล หมวดสิ่งแวดล้อม III.
• EN 186004: 1994; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดว่างเปล่า คอนเนคเตอร์สำหรับไฟเบอร์ออปติกและสายเคเบิล หมวดสิ่งแวดล้อม IV.
• EN 186005 : 1994 ; ข้อกำหนดระบบการประเมินคุณภาพที่กลมกลืนกันสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดว่างเปล่า คอนเนคเตอร์สำหรับไฟเบอร์ออปติกและสายเคเบิล หมวดสิ่งแวดล้อม V.
• EN 186006-1: 1996; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติรายละเอียดว่างเปล่า คอนเนคเตอร์สำหรับไฟเบอร์ออปติกและสายเคเบิลสำหรับการใช้งานทางทหาร หมวดสิ่งแวดล้อม VI
• EN 186100: 1995; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดเฉพาะส่วน: ชุดคอนเนคเตอร์สำหรับไฟเบอร์ออปติกและสายเคเบิล ประเภท F-SMA
• EN 186110 : 1995 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดเฉพาะส่วน: ชุดคอนเนคเตอร์สำหรับไฟเบอร์ออปติกและสายเคเบิล ประเภท เอฟซี
• EN 186130: 1996; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติมาตรา. ชุดเชื่อมต่อไฟเบอร์ออปติกและสายเคเบิล พิมพ์ LSA
• EN 186150 : 1997 ; ชุดเชื่อมต่อไฟเบอร์ออปติกและสายเคเบิล พิมพ์ OCCA-BU
• EN 186160: 1997; ชุดเชื่อมต่อไฟเบอร์ออปติกและสายเคเบิล พิมพ์ OCCA-PC
• EN 186170: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดเฉพาะส่วน: ชุดคอนเนคเตอร์สำหรับไฟเบอร์ออปติกและสายเคเบิล ชนิด RCC
• EN 186180 : 1996 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ คุณสมบัติมาตรา. ชุดเชื่อมต่อไฟเบอร์ออปติกและสายเคเบิล พิมพ์ LSB
• EN 186210: 1996; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดเฉพาะส่วน: ชุดคอนเนคเตอร์สำหรับไฟเบอร์ออปติกและสายเคเบิล พิมพ์ CF08 ;
• EN 186220: 1996; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดส่วน: ชุดเชื่อมต่อสำหรับไฟเบอร์ออปติกและสายเคเบิล พิมพ์ กศน.
• EN 186230: 1996; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดเฉพาะส่วน: ชุดคอนเนคเตอร์สำหรับไฟเบอร์ออปติกและสายเคเบิล พิมพ์ LSF
• EN 186240: 1996; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดเฉพาะส่วน: ชุดคอนเนคเตอร์สำหรับไฟเบอร์ออปติกและสายเคเบิล ชนิด มท.
• EN 186260: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดเฉพาะส่วน: ชุดคอนเนคเตอร์สำหรับไฟเบอร์ออปติกและสายเคเบิล ประเภท สค.
• EN 186270: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดเฉพาะส่วน: ชุดคอนเนคเตอร์สำหรับไฟเบอร์ออปติกและสายเคเบิล พิมพ์ LSH
• EN 186290: 1998; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ชุดเชื่อมต่อไฟเบอร์ออปติกและสายเคเบิล พิมพ์ สพฐ.
• EN 186300 : 1999 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดเฉพาะส่วน: ชุดคอนเนคเตอร์สำหรับไฟเบอร์ออปติกและสายเคเบิลชนิด MSC
• EN 186310 : 1999 ; ระบบการประเมินคุณภาพที่เข้ากันได้สำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดเฉพาะส่วน: ชุดคอนเนคเตอร์สำหรับไฟเบอร์ออปติกและสายเคเบิล ประเภท MF

มาตรฐานช่วยอำนวยความสะดวกในการค้าระหว่างประเทศโดยรับประกันความเข้ากันได้และความสามารถในการทำงานร่วมกันของส่วนประกอบ ผลิตภัณฑ์ และบริการ มาตรฐานยุโรป (EN) เป็นเอกสารที่รับรองโดยองค์กรมาตรฐานยุโรป (ESO), CEN, CENELEC หรือ ETSI สามแห่ง ได้รับการยอมรับว่ามีความสามารถในด้านมาตรฐานทางเทคนิคโดยสมัครใจสำหรับกฎระเบียบของสหภาพยุโรป 1025/2012