Transmissionselektronmikroskopet er et meget kraftfuldt værktøj til materialevidenskab. En højenergi-elektronstråle passerer gennem en meget tynd prøve, og interaktionerne mellem elektroner og atomer bruges til at observere egenskaber såsom krystalstruktur og egenskaber såsom dislokationer og korngrænser i strukturen. Kemiske analyser kan også udføres med denne metode.
TEM (transmissionselektronmikroskopi) er en analytisk metode, der bruges til at undersøge lagvækst, sammensætning og defekter i halvledere. Høj opløsning bruges til at analysere materialers kvalitet, form, størrelse og densitet.
TEM-transmissionselektronmikroskopi-analyse fungerer efter de samme grundlæggende principper som lysmikroskopi, men bruger elektroner i stedet for lys. Fordi elektronernes bølgelængde er meget mindre end lysets bølgelængde, er den optimale opløsning opnået for disse analysebilleder en størrelsesorden bedre end for et lysmikroskop. Således kan denne analysemetode afsløre de mindste detaljer i den indre struktur, i nogle tilfælde så små som individuelle atomer.
Under billeddannelsesprocessen fokuseres elektronstrålen fra elektronkanonen til en lille, tynd, sammenhængende stråle ved hjælp af en kondensatorlinse. Denne stråle er begrænset af kondensatoråbningen, som udelukker højvinklede elektroner. Strålen rammer derefter prøven og transmitterer fragmenter afhængigt af prøvens tykkelse og elektrongennemsigtighed. Denne transmitterede del fokuseres af objektivlinsen på et billede på en fosforskærm eller et opladningsforbundet enhedskamera. Valgfri linseåbninger bruges til at øge kontrasten ved at blokere højvinklede diffraktionselektroner. Billedet er derefter fuldstændigt forstørret. Billedet rammer fosforskærmen, og der produceres lys, så brugeren kan se billedet. Mørkere områder af billedet repræsenterer områder af prøven, hvor færre elektroner transmitteres, mens lysere områder af billedet repræsenterer områder af prøven, hvor flere elektroner transmitteres.
En testprøve skal være tynd nok til at transmittere nok elektroner til at danne et billede med minimalt energitab. Derfor er prøveforberedelse et vigtigt aspekt af TEM-analyseprocessen.
Vores organisation leverer også TEM-transmissionselektronmikroskopanalysetjenester med sit uddannede og ekspert personale og avanceret teknologisk udstyr, blandt de talrige test-, måling-, analyse- og evalueringsundersøgelser, den leverer til virksomheder i forskellige sektorer.
Du kan bede os om at udfylde vores formular for at få en aftale, for at få mere detaljerede oplysninger eller for at anmode om en evaluering.
