IEC 62321 Penentuan Bahan Tertentu dalam Produk Elektroteknikal

Piawaian "IEC 62321 Pengesanan bahan tertentu dalam produk elektroteknikal", yang dibangunkan oleh Suruhanjaya Elektroteknikal Antarabangsa (IEC), terdiri daripada banyak sub-standard di bawah tajuk yang sama.

Tujuan piawaian ini adalah untuk memperincikan amalan terbaik biasa untuk menguji peralatan elektrik dan elektronik (EEE).

• Dalam piawaian "EN 62321-1 Bahagian 1: Pengenalan dan gambaran keseluruhan", sampel dinyatakan sebagai objek yang akan diproses dan diukur. Sifat sampel dan cara ia diperoleh ditentukan oleh organisasi yang menjalankan ujian dan tidak ditakrifkan oleh piawaian ini. Pemilihan sampel boleh menjejaskan tafsiran keputusan ujian. Piawaian ini memberikan panduan tentang prosedur pembongkaran yang digunakan untuk mendapatkan sampel, tetapi tidak menyatakan:
  • Tahap prosedur pembongkaran yang diperlukan untuk mendapatkan sampel.
  • Definisi unit atau bahan homogen sebagai sampel.
  • Prosedur penilaian pematuhan.
• Piawaian "EN 62321-2 Bahagian 2: Pembongkaran, pemisahan dan penyediaan sampel mekanikal" menerangkan strategi pensampelan bersama-sama dengan penyediaan mekanikal sampel daripada produk elektroteknikal. Sampel ini digunakan dalam ujian analitik untuk menentukan tahap bahan tertentu seperti yang diterangkan dalam kaedah ujian di bahagian lain piawaian IEC 62321. Sekatan untuk bahan berbeza mengikut kawasan geografi dan boleh dikemas kini dengan kerap. Piawaian ini menerangkan proses umum untuk mendapatkan dan menyediakan sampel sebelum penentuan sebarang bahan yang membimbangkan.
• Piawaian "EN 62321-3-1 Bahagian 3-1: Pengimbasan - Plumbum, merkuri, kadmium, jumlah kromium dan jumlah bromin oleh spektrometri pendarfluor sinar-X" menerangkan analisis pengimbasan plumbum, merkuri, kadmium, jumlah kromium dan jumlah bromin dalam satu jenis bahan yang terdapat dalam produk elektroteknik menggunakan teknik analisis sinar-X spektrometri pendarfluor. Piawaian ini sah untuk polimer, logam dan bahan seramik. Kaedah ujian ini boleh digunakan untuk bahan mentah, bahan individu daripada produk, dan campuran homogen bagi pelbagai bahan. Pengimbasan sampel dilakukan menggunakan mana-mana spektrometer XRF dengan syarat ia mempunyai ciri prestasi yang dinyatakan dalam kaedah ujian ini. Tidak semua jenis spektrometer XRF sesuai untuk semua saiz dan bentuk sampel. Penjagaan mesti diambil untuk memilih reka bentuk spektrometer yang sesuai untuk tugas yang dipersoalkan.
• Piawaian "EN 62321-3-2 Bahagian 3-2: Pengimbasan - Jumlah bromin dalam polimer dan elektronik melalui kromatografi ion pembakaran" menerangkan analisis pengimbasan jumlah bromin dalam bahan homogen yang terdapat dalam polimer dan elektronik menggunakan teknik analisis kromatografi ion pembakaran. Kaedah ujian ini telah dinilai untuk akrilonitril butadiena stirena, sebatian pengacuan epoksi, polietilena dan polikarbonat) dalam julat kepekatan yang diberikan dalam piawai.
• Piawaian “EN 62321-3-3 Bahagian 3-3: Penyaringan - Penyaringan bifenil polibrominasi, eter difenil polibrominasi dan ftalat dalam polimer melalui pirolisis atau kromatografi gas desorpsi terma-spektrometri jisim” menerangkan analisis penyaringan bagi bifenil polibrominat, ebutiliterisolasi, diftelinat. di-n-butil phthalate, benzylbutyl phthalate, di-(2-ethylhexyl) phthalate, di-n-octyl phthalate, di-isononyl phthalate dan di-isodeacyl phthalate dalam polimer produk elektroteknik melalui teknik analitik kromatografi gas/aksestrometri jisim aorisorptrometri
• Dalam piawaian "EN 62321-3-4 Bahagian 3-4: Penyaringan - Phthalates dalam polimer produk elektroteknik dengan kromatografi cecair berprestasi tinggi dengan pengesan ultraviolet (HPLC-UV), kromatografi lapisan nipis (TLC) dan spektrometri jisim desorpsi haba (TD-MS)", Prosedur untuk menyaring di-isobutyl phthalate, di-n-buyl phthalate, benzyl butyl phthalate, di-(2-ethylhexyl) phthalate dalam polimer produk elektroteknik menggunakan kromatografi cecair berprestasi tinggi dengan pengesan ultraungu (HPLC-UV), kromatografi lapisan nipis (TLC desorption mass) dan spektrometri terma (TLC).
• Piawaian "EN 62321-4 Bahagian 4: Merkuri dalam polimer, logam dan elektronik oleh CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES dan ICP-MS" menerangkan empat kaedah ujian untuk merkuri dalam polimer, logam dan elektronik, iaitu CV-AAS (spektrometri penyerapan atom wap sejuk), CV-AFS (coldence ICP-vaporic fluorescent) spektrometri pelepasan optik plasma gandingan) dan ICP-MS (spektrometri jisim plasma gandingan secara induktif). Piawaian ini juga termasuk pelbagai prosedur untuk menyediakan penyelesaian sampel yang mana kaedah analisis yang paling sesuai boleh dipilih.
• Piawaian "EN 62321-5 Bahagian 5: Kadmium, plumbum dan kromium dalam polimer dan elektronik dan kadmium dan plumbum dalam logam oleh AAS, AFS, ICP-OES dan ICP-MS" menerangkan empat kaedah ujian untuk plumbum, kadmium dan kromium dalam polimer, logam dan elektronik, iaitu AAS (spektrometri serapan atom (spektrometri fluoresens) (spektrometri pelepasan optik plasma gandingan secara induktif) dan ICP-MS (spektrometri jisim plasma gandingan secara induktif). Piawaian ini juga termasuk pelbagai prosedur untuk menyediakan penyelesaian sampel yang mana kaedah analisis yang paling sesuai boleh dipilih.
• Piawaian “EN 62321-6 Bahagian 6: Bifenil polibrominasi dan eter difenil polibrominasi dalam polimer melalui spektrometri jisim kromatografi gas (GC-MS)” menerangkan satu teknik normatif dan dua teknik bermaklumat untuk penentuan bifenil polibrominasi (PBB) dan eter difenil polimer elektroteknik (PBDE) Kaedah ujian ini termasuk:
  • Kromatografi gas-spektrometri jisim (GC-MS)
  • Teknik spektrometri jisim lampiran ion (IAMS).
  • Teknik kromatografi cecair tekanan tinggi.
• Piawaian "EN 62321-7-1 Bahagian 7-1: Kromium heksavalen - Kehadiran kromium heksavalen dalam salutan perlindungan kakisan tidak berwarna dan berwarna pada logam dengan kaedah kolorimetrik" menerangkan prosedur pengekstrakan air mendidih yang bertujuan untuk memberikan penentuan kualitatif kehadiran kromium perlindungan heksavalen dalam sampel logam yang tidak berwarna dan bersalut berwarna. Dalam prosedur ini, apabila kromium heksavalen dalam sampel dikesan di bawah had kuantifikasi 0,10 g/cm2, sampel dianggap negatif untuk kromium heksavalen.
• Piawaian "EN 62321-7-2 Bahagian 7-2: Kromium heksavalen - Penentuan kromium heksavalen (Cr(VI)) dalam polimer dan elektronik melalui kaedah kolorimetrik" menerangkan prosedur untuk mengukur kromium heksavalen secara kuantitatif dalam sampel polimer dan elektronik. Kaedah ini menggunakan pelarut organik untuk melarutkan atau membengkak matriks sampel dan kemudian mengikut prosedur penghadaman beralkali untuk mengekstrak kromium heksavalen daripada sampel.
• Piawaian “EN 62321-8 Bahagian 8: Phthalates dalam polimer oleh kromatografi gas-spektrometri jisim (GC-MS), kromatografi gas-spektrometri jisim menggunakan pyrolyzer/aksesori desorpsi terma (Py/TD-GC-MS)” menerangkan dua teknik normatif dan dua teknik bermaklumat untuk penentuan diphthalate-isolate dibutyl-isolate. (DBP), benzylbutyl phthalate (BBP), di-(2-ethylhexyl) phthalate (DEHP), di-n-octyl phthalate (DNOP), di-isononyl phthalate (DINP) dan di-iso-decyl phthalate (DIDP) dalam polimer produk elektroteknikal.
• Dalam standard "EN IEC 62321-9 Bahagian 9: Hexabromocyclododecane dalam polimer oleh kromatografi gas-spektrometri jisim (GC-MS)", dua teknik diterangkan untuk penentuan hexabromocyclododecane (HBCDD) dalam polimer produk elektroteknikal. Kaedah ujian kromatografi gas-spektrometri jisim (GC-MS) diterangkan dalam bahagian normatif piawaian ini. Kaedah ini sesuai untuk penentuan hexabromocyclododecane (HBCDD). Kaedah menggunakan spektrometri jisim kromatografi cecair tekanan tinggi (HPLC-MS) disertakan dalam lampiran piawai (Lampiran A).
• Piawaian "IEC 62321-10 Bahagian 10: Hidrokarbon aromatik polisiklik (PAH) dalam polimer dan elektronik oleh kromatografi gas-spektrometri jisim (GC-MS)" menerangkan teknik untuk penentuan hidrokarbon aromatik polisiklik (PAH) dalam polimer produk elektroteknikal. PAH ini boleh didapati secara khusus dalam bahagian plastik dan getah bagi pelbagai jenis produk pengguna. Ia didapati sebagai kekotoran dalam beberapa bahan mentah yang digunakan dalam pengeluaran produk tersebut, terutamanya minyak extender dan karbon hitam. Mereka tidak sengaja ditambahkan pada produk dan tidak berfungsi apa-apa fungsi khusus sebagai komponen bahagian plastik atau getah.
• Dalam piawaian “EN IEC 62321-11 Bahagian 11: Tris(2-chloroethyl) fosfat (TCEP) dalam plastik dengan kromatografi gas-spektrometri jisim (GC-MS) dan kromatografi cecair-spektrometri jisim (LC-MS)”, dua teknik berbeza untuk penentuan TCEP tris(2-kloroetil) fosfat diterangkan dalam GCEP (XNUMX-kloroetil) fosfat. Kaedah LC-MS. Kedua-duanya sesuai untuk analisis kuantitatif.
• Piawaian "IEC 62321-12 Bahagian 12: Penentuan serentak - Bifenil polibrominasi, eter difenil polibrominasi dan ftalat dalam polimer melalui spektrometri jisim kromatografi gas" menerangkan kaedah ujian rujukan untuk penentuan serentak bagi bifenil polibrominated dan empat difenil polibrominat phthalate (DIBP), di-n-butyl phthalate (DBP), benzylbutyl phthalate (BBP), di-(2-ethylhexyl) phthalate (DEHP) dalam polimer produk elektroteknikal Teknik pengekstrakan yang diterangkan dalam piawaian ini ialah pengekstrakan berbantu ultrasonik, yang digunakan dalam pengekstrakan serentak untuk penyediaan sampel.
• Piawaian “IEC 62321-13 Bahagian 13: Bisphenol A dalam plastik dengan pengesanan tatasusunan kromatografi-diod cecair (LC-DAD), kromatografi cecair-spektrometri jisim (LC-MS) dan spektrometri jisim kromatografi-tandem cecair (LC-MS/MS)” menerangkan tiga teknik untuk penentuan produk bifenol plastik B (B) bebas Bifenol plastik.
  • Kromatografi cecair - pengesan tatasusunan diod (LC-DAD)
  • Spektrometri jisim kromatografi cecair (LC-MS)
  • Spektrometri jisim tandem kromatografi cecair (LC-MS/MS).

Organisasi kami mempunyai kakitangan yang kuat yang mengikuti perkembangan dalam bidang sains dan teknologi di dunia dan sentiasa memperbaiki dirinya. Di antara pelbagai ujian, pengukuran, analisis dan kajian penilaian yang disediakan untuk perniagaan dalam pelbagai sektor, terdapat juga perkhidmatan ujian mengikut piawaian "IEC 62321 Penentuan bahan tertentu dalam produk elektroteknikal".