Mengimbas mikroskop elektron (SEM) menghasilkan imej yang terperinci dan diperbesarkan objek dengan mengimbas permukaan objek untuk mencipta imej resolusi tinggi. SEM melakukan ini dengan menggunakan pancaran elektron terfokus. Imej yang terhasil menunjukkan maklumat tentang apa objek itu dibuat dan sifat fizikalnya. Instrumen yang mendapatkan maklumat tentang komposisi dan topografi ini ialah mikroskop elektron pengimbasan. Sebagai alat yang praktikal dan berguna, SEM mempunyai pelbagai aplikasi dalam pelbagai industri dan sektor. Ia boleh menganalisis kedua-dua bahan buatan manusia dan bahan semula jadi.
Mikroskop elektron pengimbasan berfungsi dengan mengimbas sampel dengan pancaran elektron. Senapang elektron menembakkan rasuk ini, yang kemudiannya dipercepatkan melalui lajur mikroskop elektron pengimbasan. Semasa tindakan ini, pancaran elektron melalui satu siri kanta dan apertur yang bertindak untuk memfokuskannya. Ini berlaku di bawah keadaan vakum yang menghalang molekul atau atom yang sudah ada dalam lajur mikroskop daripada berinteraksi dengan pancaran elektron. Ini memastikan pengimejan berkualiti tinggi. Vakum juga melindungi sumber elektron daripada getaran dan bunyi. Rasuk elektron mengimbas sampel dalam corak raster, mengimbas kawasan permukaan dalam garisan dari sisi ke sisi dan atas ke bawah. Dalam grafik komputer dan fotografi digital, grafik raster mewakili imej dua dimensi sebagai matriks segi empat tepat atau grid piksel dan boleh dipaparkan pada skrin komputer, kertas atau media paparan lain.
Elektron berinteraksi dengan atom pada permukaan sampel. Interaksi ini menghasilkan isyarat dalam bentuk elektron sekunder, elektron berselerak belakang, dan sinar yang menjadi ciri sampel. Pengesan dalam mikroskop mengambil isyarat ini dan mencipta imej resolusi tinggi yang dipaparkan pada skrin komputer.
Mikroskop elektron pengimbasan mengandungi komponen berikut:
Sumber elektron menghasilkan elektron di bahagian atas lajur mikroskop. Plat anod mempunyai cas positif yang menarik elektron, menghasilkan rasuk. Kanta pemeluwapan mengawal saiz rasuk dan menentukan bilangan elektron dalam rasuk. Saiz pancaran menentukan resolusi imej. Selain itu, apertur boleh digunakan untuk mengawal saiz rasuk. Gegelung pengimbasan memesongkan rasuk di sepanjang paksi x dan y, membolehkan ia diimbas dalam corak raster di atas permukaan sampel. Kanta objektif ialah kanta terakhir dalam siri kanta yang membentuk pancaran elektron. Sebagai kanta yang paling hampir dengan sampel, ia memfokuskan rasuk ke titik yang sangat kecil pada sampel.
Elektron tidak boleh melalui kaca, jadi kanta SEM adalah elektromagnet. Ia terdiri daripada gegelung dawai di dalam tiang logam. Apabila arus melalui gegelung ini, ia mewujudkan medan magnet. Elektron sangat sensitif terhadap medan magnet ini, jadi kanta dalam mikroskop boleh mengawalnya.
Jenis analisis utama yang boleh dilakukan oleh mikroskop elektron pengimbasan ialah:
Kebolehsuaian mikroskop elektron pengimbasan menjadikannya sesuai untuk pelbagai jenis aplikasi saintifik, penyelidikan, industri dan komersial. Imej SEM memberikan maklumat tentang:
Penggunaan SEM dalam sains biologi termasuk mengenal pasti strain bakteria dan menguji vaksin. Ia juga digunakan dalam genetik. SEM juga boleh membantu mengukur kesan perubahan iklim terhadap spesies yang berbeza dan mendedahkan spesies baharu.
Dalam perubatan forensik, SEM ialah kaedah yang boleh dipercayai untuk menganalisis sisa tembakan dan untuk menganalisis zarah cat dan gentian di tempat kejadian. Ia boleh menganalisis tulisan tangan dan percetakan dan merupakan satu cara untuk memeriksa ketulenan wang kertas. Digunakan untuk menganalisis mentol filamen di tempat kejadian kemalangan jalan raya.
Dalam bidang persampelan geologi, mikroskop elektron pengimbasan boleh menentukan perbezaan komposisi dalam sampel tanah dan batu dan menentukan kesan luluhawa pada bahan. Ia digunakan untuk mengenal pasti alat dan artifak awal di tapak arkeologi dan sehingga kini tinggalan sejarah. Boleh mengukur kualiti tanah untuk pertanian dan perladangan.
Dalam elektronik, SEM menyokong pemasangan mikrocip dengan membolehkan pemeriksaan terperinci reka bentuk dan membantu dalam pembangunan kaedah pengeluaran dan pembuatan baharu. Apabila bahan pemasangan mikrocip menjadi semakin kecil, keupayaan resolusi tinggi SEM telah menjadi sangat diperlukan dalam proses reka bentuk, penyelidikan dan pembangunan. Maklumat topografi yang disediakan oleh SEM juga penting untuk memeriksa dan menguji semikonduktor untuk kebolehpercayaan dan prestasi. Mengimbas mikroskop elektron adalah penting dalam proses kawalan kualiti. Ia juga menyokong pembangunan wayar nano dengan menambah baik kaedah pengeluaran.
Dalam sains bahan, SEM digunakan dalam pelbagai bidang dan disiplin, daripada aeroangkasa dan kimia kepada tenaga dan elektronik. Aplikasi termasuk penyelidikan tentang aloi, seni bina mesopori, tiub nano dan gentian nano.
Dalam bidang perubatan, SEM digunakan sebagai teknik untuk membandingkan sampel darah dan tisu dalam kumpulan ujian pesakit dan kawalan. Ia boleh membantu mengenal pasti virus dan penyakit serta menguji ubat baharu.
Ringkasnya, pengimbasan mikroskop elektron (SEM) adalah penting dalam sains dan industri yang memerlukan pengimejan permukaan yang beresolusi tinggi dan terperinci. SEM boleh membesarkan objek sehingga lebih kurang 1.000.000 kali. Ia jauh mengatasi mikroskop optik dari segi perincian dan kejelasan. Ia perlu untuk menggambarkan struktur pada skala mikro dan nano. Ia memberikan permukaan rupa tiga dimensi. Ia bagus untuk memahami tekstur, retak, liang dan salutan. Ia adalah alat yang berkuasa untuk meneroka struktur dan komposisi bahan yang sangat halus, yang penting untuk penyelidikan, kawalan kualiti dan diagnostik dalam pelbagai bidang.
Organisasi kami, yang telah cuba menyokong perniagaan dari setiap sektor dengan pelbagai ujian, pengukuran, analisis dan kajian penilaian yang telah dijalankan selama bertahun-tahun, mempunyai kakitangan yang kukuh yang mengikuti perkembangan dunia dalam bidang sains dan teknologi dan sentiasa memperbaiki dirinya. Dalam konteks ini, perkhidmatan "SEM - Mengimbas analisis mikroskop elektron" juga disediakan kepada perniagaan.
Anda boleh meminta kami mengisi borang kami untuk mendapatkan temujanji, mendapatkan maklumat terperinci atau meminta penilaian.
