Analisis X-Ray Difraction (XRD).

Pembelauan sinar-X (XRD ) ialah teknik yang digunakan untuk menentukan struktur atom dan molekul bahan kristal. Dalam teknik ini, struktur kristal menyebabkan pancaran sinar-X datang terbelau dalam pelbagai arah tertentu. XRD serbuk biasanya digunakan untuk mengenal pasti fasa dengan mengukur sudut pembelauan dan keamatan pancaran pembelauan ini dan membandingkan corak pembelauan yang terhasil dengan pangkalan data rujukan data pembelauan.

Pembelauan sinar-X (XRD) ialah kaedah saintifik untuk menentukan lokasi atau susunan atom yang tepat dalam bahan hablur atau amorfus di mana pancaran sinar-X menyerang hablur, menyebabkan pancaran cahaya difraksi dalam banyak arah tertentu.

Pembelauan sinar-X ialah teknik utama untuk mendapatkan maklumat tentang struktur atom pepejal kristal dan merupakan salah satu teknik makmal piawai asas. Teknik ini berdasarkan gangguan gelombang sinar-X yang dihamburkan secara elastik oleh set atom yang berorientasikan arah tertentu dalam kristal. Gelombang yang dihamburkan oleh dua atom a dan b mengganggu secara konstruktif antara satu sama lain apabila perbezaan laluannya adalah sama dengan satu bilangan keseluruhan panjang gelombang.

Pembelauan sinar-X ialah alat penting untuk mengkaji kedua-dua polimer amorfus dan semikristalin. Ia digunakan untuk menganalisis banyak sifat struktur mikro bahan, termasuk parameter kekisi, kehadiran kecacatan, orientasi kristalografi (tekstur), dan tahap kehabluran.

Dalam penyelidikan bahan, saintis mempunyai banyak soalan analisis yang berkaitan dengan komposisi kimia dan struktur kristal bahan. Pembelauan sinar-X (XRD) adalah satu-satunya teknik makmal yang tidak merosakkan dan tepat mendapatkan maklumat seperti komposisi kimia, struktur kristal, orientasi kristal, saiz kristal, ketegangan kekisi, orientasi pilihan dan ketebalan lapisan. Itulah sebabnya penyelidik bahan menggunakan teknik ini untuk menganalisis pelbagai jenis bahan, daripada serbuk kepada pepejal, filem nipis dan bahan nano.

Belauan sinar-X (XRD) ialah teknik analisis bukan musnah serba boleh yang digunakan untuk menganalisis sifat fizikal seperti komposisi fasa, struktur kristal dan orientasi serbuk, sampel pepejal dan cecair.

Banyak bahan terdiri daripada kristalit kecil. Komposisi kimia dan jenis struktur kristal ini dipanggil fasa. Bahan mungkin campuran fasa tunggal atau berbilang fasa dan mungkin mengandungi komponen kristal dan bukan kristal. Pada difraktometer sinar-X, fasa kristal yang berbeza memberikan corak pembelauan yang berbeza. Pengenalpastian fasa boleh dilakukan dengan membandingkan corak pembelauan sinar-X yang diperoleh daripada sampel yang tidak diketahui dengan corak dalam pangkalan data rujukan.

Instrumen sinar-X terdiri daripada tiga elemen utama: sumber sinar-X, pemegang sampel dan pengesan XRD. X-ray yang dihasilkan oleh sumber menerangi sampel. Ia kemudiannya dibelaukan oleh fasa sampel dan memasuki pengesan. Dengan menggerakkan tiub atau sampel dan pengesan untuk menukar sudut pembelauan (sudut antara kejadian dan pancaran difraksi), keamatan diukur dan data pembelauan direkodkan. Bergantung pada geometri difraktometer dan jenis sampel, sudut antara rasuk kejadian dan sampel boleh ditetapkan atau berubah-ubah dan biasanya dipadankan dengan sudut rasuk difraksi.

Ramai penyelidik dalam kedua-dua makmal perindustrian dan saintifik bergantung pada analisis pembelauan sinar-X (XRD) sebagai alat untuk membangunkan bahan baharu atau meningkatkan kecekapan pembuatan. Inovasi dalam pembelauan sinar-X mengikuti penyelidikan mengenai bahan baharu, seperti teknologi semikonduktor atau penyelidikan farmaseutikal. Penyelidikan industri menjurus kepada kelajuan dan kecekapan proses pengeluaran yang semakin meningkat. Analisis pembelauan sinar-X automatik sepenuhnya di tapak pengeluaran bahan binaan dan perlombongan menghasilkan penyelesaian yang lebih kos efektif untuk kawalan pengeluaran.

Kegunaan utama pembelauan sinar-X ialah: analisis fasa kualitatif dan kuantitatif bahan dan campuran tulen. Kaedah yang paling biasa untuk analisis fasa biasanya dipanggil pembelauan serbuk sinar-X. Selain itu, teknik ini digunakan dalam analisis perubahan fasa di bawah keadaan khusus lain seperti suhu, kelembapan dan tekanan yang dikenakan. Begitu juga, teknik ini digunakan untuk menganalisis sifat fizikal seperti saiz kristal (diameter), orientasi kristal dan tegasan sisa (bersama-sama ini dipanggil struktur mikro bahan polihablur).

Banyak teknik ini juga boleh digunakan untuk bahan berlapis polihablur seperti salutan dan filem nipis. Kajian kawasan kecil dalam bahan polihablur menggunakan kaedah yang dipanggil mikrodifraksi.

Organisasi kami mempunyai kakitangan yang kuat yang mengikuti perkembangan dalam bidang sains dan teknologi di dunia dan sentiasa memperbaiki dirinya. Di antara pelbagai kajian ujian, pengukuran, analisis dan penilaian yang disediakan untuk perniagaan dalam pelbagai sektor, terdapat juga perkhidmatan "analisis pembelauan sinar-X (XRD)".