Analisis X-Ray Fluorescence (XRF).

Pendarfluor sinar-X (XRF ) ialah teknik analisis yang menggunakan interaksi sinar-X dengan bahan untuk menentukan komposisi unsurnya. Teknik ini sesuai untuk pepejal, cecair dan serbuk dan tidak merosakkan dalam kebanyakan kes. Spektroskopi XRF ialah kaedah yang berkesan untuk analisis kualitatif dan kuantitatif komposisi bahan.

Pada asasnya terdapat dua metodologi XRF utama: XRF penyebaran tenaga dan XRF penyebaran panjang gelombang. Setiap kaedah mempunyai kelebihan dan kekurangannya sendiri.

Julat unsur yang boleh dikesan berbeza-beza mengikut konfigurasi dan persediaan instrumen, tetapi biasanya XRF penyebaran tenaga meliputi semua unsur daripada natrium ke uranium, manakala penyebaran panjang gelombang boleh memanjangkannya kepada berilium. Kepekatan boleh berkisar antara 100 peratus hingga ppm dan, dalam beberapa kes, tahap subppm. Had pengesanan bergantung pada elemen tertentu dan matriks sampel, tetapi sebagai peraturan umum, elemen yang lebih berat mempunyai had pengesanan yang lebih baik.

Pendarfluor sinar-X digunakan secara meluas sebagai alat pencirian pantas di banyak makmal analisis di seluruh dunia dalam aplikasi yang pelbagai seperti metalurgi, forensik, polimer, elektronik, arkeologi, analisis alam sekitar, geologi dan perlombongan.

X-ray adalah sebahagian daripada spektrum elektromagnet dan dicirikan oleh tenaga yang terletak di antara sinaran gamma dan ultraviolet. Panjang gelombang biasanya dalam julat 0,01 hingga 10 nm.

Apabila sinar-X dipancarkan ke dalam bahan, sebahagian daripadanya melalui bahan dan sebahagian daripadanya diserap oleh bahan. Sinar-X yang diserap berinteraksi pada tahap atom dalam jirim, menyebabkan pelbagai fenomena seperti serakan dan pancaran foton, elektron, dan sinar-X pendarfluor.

Pendarfluor sinar-X (XRF) boleh dianggap sebagai proses tiga langkah mudah yang berlaku pada peringkat atom:

• Sinar-X primer mengetuk elektron daripada salah satu orbital yang mengelilingi nukleus atom sesuatu bahan.
• Lubang dicipta dalam orbital, menghasilkan konfigurasi tenaga tinggi yang tidak stabil untuk atom.
• Untuk memulihkan keseimbangan, elektron dari tenaga yang lebih tinggi, orbital luar jatuh ke dalam lubang. Oleh kerana ini adalah lokasi tenaga yang lebih rendah, lebihan tenaga dipancarkan dalam bentuk sinar-X pendarfluor.

Perbezaan tenaga antara elektron yang dikeluarkan dan disesarkan adalah ciri atom unsur di mana proses pendarfluor berlaku. Oleh itu, tenaga sinar-X pendarfluor yang dipancarkan bergantung secara langsung pada elemen tertentu yang dianalisis. Sifat asas inilah yang menjadikan teknik pendarfluor sinar-X sebagai alat analisis pantas untuk komposisi unsur.

Spektrometer pendarfluor sinar-X (XRF) yang digunakan dalam analisis ialah instrumen sinar-X yang digunakan untuk analisis kimia rutin yang dilakukan pada sedimen, batu, mineral dan cecair. Instrumen XRF biasanya digunakan untuk analisis pukal bagi kawasan mineral dan bahan yang lebih besar.

Teknik yang digunakan oleh spektrometer XRF adalah mungkin kerana kelakuan atom apabila ia berinteraksi dengan sinaran. Jika bahan teruja oleh sinaran tenaga tinggi, panjang gelombang pendek, ia boleh menjadi terion. Jika tenaga cukup tinggi, ia mempunyai kapasiti untuk melepaskan elektron dalam yang dipegang rapat. Selepas ini, atom menjadi tidak stabil, menyebabkan elektron luar mengambil tempat elektron dalam yang hilang, melepaskan tenaga.

Spektrometer XRF terdiri daripada dua komponen utama:

• Keluaran sinar-X
• Pengesan yang cukup sensitif untuk mengesan sinar-x pendarfluor daripada cahaya kejadian.

Tatasusunan kemudiannya memancarkan sinar X-ray atau sinar gamma ke dalam sampel, elektron menarik di dalamnya. Atom dalam disesarkan dan atom yang menggantikannya diturunkan dari cangkang orbit di atas. Ini kemudian mengurangkan tenaga pengikat dan pembebasan tenaga dikenali sebagai pendarfluor.

Faedah menggunakan penganalisis XRF, seperti spektrometer, ialah mereka merekodkan letupan tenaga ini dalam masa nyata. Terdapat banyak teknik penyediaan sampel untuk analisis dengan spektrometer XRF, termasuk:

Secara ringkasnya, pendarfluor sinar-X (XR) ialah teknik analisis tidak merosakkan yang digunakan untuk menentukan komposisi unsur bahan. Penganalisis XRF menentukan kimia sampel dengan mengukur pendarfluor, atau sinar-X sekunder, yang dipancarkan daripada sampel apabila teruja oleh sumber sinar-X primer.

Teknik ini digunakan secara meluas sebagai alat pencirian pantas di banyak makmal analisis di seluruh dunia dalam aplikasi yang pelbagai seperti metalurgi, forensik, polimer, elektronik, arkeologi, analisis alam sekitar, geologi dan perlombongan.

Organisasi kami mempunyai kakitangan yang kuat yang mengikuti perkembangan dalam bidang sains dan teknologi di dunia dan sentiasa memperbaiki dirinya. Di antara pelbagai ujian, pengukuran, analisis dan kajian penilaian yang disediakan untuk perniagaan dalam pelbagai sektor, terdapat juga perkhidmatan "analisis pendarfluor sinar-X (XRF)".