
Printed Circuits Institute (IPC) မှထုတ်ဝေသော “IPC-A-24 Surface insulation resistance” စံနှုန်းသည် ပုံနှိပ်ဆားကစ်ဘုတ်များပေါ်တွင် solder flux နှင့် solder paste residue တို့၏ အပြန်အလှန်အကျိုးသက်ရောက်မှုကို အကဲဖြတ်ရန်အသုံးပြုသည့် တစ်ဖက်တည်း (quadruple) ပုံစံကို သတ်မှတ်ပေးသည်။

ဤတစ်ဖက်သတ် (လေးဖက်မြင်) ပုံစံကို ပုံနှိပ်ဆားကစ်ဘုတ်များပေါ်ရှိ ဂဟေဆက်အရည်နှင့် ဂဟေဆက်ငါးပိအကြွင်းအကျန်တို့၏ အပြန်အလှန်အကျိုးသက်ရောက်မှုကို အကဲဖြတ်ရန်အသုံးပြုသည်။ ဤဘုတ်ကို ပုံနှိပ်ဆားကစ်ဘုတ်တပ်ဆင်ခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်များတွင် ကလိုရိုဖလိုရိုကာဗွန်များကို ဖယ်ရှားရန်အသုံးပြုသည့် အခြားနည်းပညာများကို အကဲဖြတ်သည့် စမ်းသပ်မှုအစီအစဉ်၏ တတိယအဆင့်တွင် အသုံးပြုခဲ့သည်။ ဘုတ်တွင် ၀.၄ မီလီမီတာမျဉ်းကြောင်းများနှင့် ၀.၅ မီလီမီတာအကွာအဝေးပါသော လေးဖက်ထောက်ပုံစံပါရှိသည်။ စတန်းဆယ်ပုံစံကိုလည်း ပေးထားသည် (၂ x ၃၀ x ၄၅ စင်တီမီတာ ၁:၁)။ ဤပုံအတွက် အစိတ်အပိုင်းများ မပေးပါ။ အဓိကပုံ IPC-100024 နှင့် သတ်မှတ်ချက်များစာရင်းကို ထည့်သွင်းထားသည်။
IPC-A-24 စံနှုန်းသည် မျက်နှာပြင်လျှပ်ကာခံနိုင်ရည်စမ်းသပ်မှုအတွက် အဓိကအသုံးပြုသည့် တစ်ဖက်သတ်စမ်းသပ်ကတ်အတွက် ပုံများနှင့် သတ်မှတ်ချက်များကို ပံ့ပိုးပေးသည့် စံနှုန်းတစ်ခုဖြစ်သည်။ ဂဟေဆက်ပစ္စည်း၊ ဂဟေဆက်အကြွင်းအကျန်များနှင့် ပုံနှိပ်ဆားကစ်ဘုတ်မျက်နှာပြင်အကြား အပြန်အလှန်အကျိုးသက်ရောက်မှုကို အကဲဖြတ်ရန်အတွက် ကတ်ကို ပုံစံ ၄ မျိုး (တူညီသော ဘီးလေးခု သို့မဟုတ် ကတ်တစ်ခုပေါ်ရှိ အထပ်ထပ်ပုံစံများ) အဖြစ် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသည်။ ၎င်းသည် စိုထိုင်းဆ သို့မဟုတ် ပတ်ဝန်းကျင်ဖိအားအောက်တွင် လျှပ်စစ်ယိုစိမ့်မှု သို့မဟုတ် သံချေးတက်ခြင်းကို မည်မျှခံနိုင်ရည်ရှိကြောင်း ထုတ်လုပ်သူများနှင့် ပစ္စည်းပေးသွင်းသူများအား အကဲဖြတ်ရန် ကူညီပေးသည်။
IPC-A-24 စံနှုန်း၏ အဓိကအသုံးပြုမှုမှာ ဂဟေဆက်အရည်များ၊ ဂဟေဆက်အနှစ်များနှင့် သန့်ရှင်းရေးလုပ်ငန်းစဉ်များကို လက္ခဏာရပ်ဖော်ပြရန် မျက်နှာပြင်လျှပ်ကာခုခံမှုစမ်းသပ်မှုကို သတ်မှတ်ရန်ဖြစ်သည်။ ဤစံနှုန်းသည် ဘုတ်ကို စီမံဆောင်ရွက်ပြီးနောက် (ဥပမာ၊ ဂဟေဆက်အနှစ်ကို လိမ်းပြီးနောက်၊ ပြန်စီးဆင်းပြီးနောက်၊ တစ်ခါတစ်ရံ သန့်ရှင်းရေးလုပ်ပြီးနောက် သို့မဟုတ် မသန့်ရှင်းသောအကြွင်းအကျန်များ ကျန်ခဲ့ပြီးနောက်) အနီးကပ်အကွာအဝေးရှိသော လျှပ်ကာများအကြား လျှပ်ကာခုခံမှုကိုလည်း တိုင်းတာသည်။
ဤစံနှုန်းကို flux အရည်အချင်းစစ်စံနှုန်းများနှင့် လုပ်ငန်းစဉ်ယုံကြည်စိတ်ချရမှုစမ်းသပ်မှုများတွင် အများအားဖြင့် ရည်ညွှန်းလေ့ရှိသည်။ အထူးသဖြင့် စိုထိုင်းဆမြင့်မားသောပတ်ဝန်းကျင်များတွင် အကြွင်းအကျန်များသည် အီလက်ထရွန်းနစ်အစိတ်အပိုင်းများတွင် ယုံကြည်စိတ်ချရမှုပြဿနာများဖြစ်စေရန် လုံလောက်သော သံချေးတက်ခြင်း သို့မဟုတ် လျှပ်ကူးနိုင်ခြင်းရှိမရှိ ဆုံးဖြတ်ရာတွင် အထူးသဖြင့် အထောက်အကူဖြစ်စေပါသည်။
ဤကတ်ကို IPC-B-24 စမ်းသပ်ကတ် (သို့မဟုတ် ပုံစံ) နှင့် တွဲဖက်ဆွေးနွေးလေ့ရှိသည်။ IPC-B-24 သည် မျက်နှာပြင်လျှပ်ကာခံနိုင်ရည်စမ်းသပ်မှုအတွက် အသုံးပြုသည့် သီးခြားကတ်ဒီဇိုင်း သို့မဟုတ် အပြင်အဆင်ကို ရည်ညွှန်းပြီး IPC-A-24 သည် ပုံဆွဲ/Gerber ဖိုင်များကို ပံ့ပိုးပေးသည်။
IPC-A-24 ကတ်၏ အဓိကအင်္ဂါရပ်များမှာ အောက်ပါအတိုင်းဖြစ်သည်။
IPC-A-24 စံနှုန်းနှင့် ဆက်စပ်သော စံနှုန်းများနှင့် စမ်းသပ်နည်းလမ်းများမှာ အောက်ပါအတိုင်းဖြစ်သည်။
စမ်းသပ်မှုတွင် ဂဟေဆက်အနှစ်ကို ဖိခြင်း/ပြန်လည်အရည်ပျော်ခြင်း (သို့မဟုတ် လိမ်းခြင်း)၊ ရွေးချယ်နိုင်သော သန့်ရှင်းရေးလုပ်ခြင်း၊ ထို့နောက် ဘုတ်ကို ၈၅ ဒီဂရီစင်တီဂရိတ် အပူချိန်နှင့် ၈၅ ရာခိုင်နှုန်း စိုထိုင်းဆ သို့မဟုတ် အလားတူအခြေအနေများတွင် ထားခြင်းနှင့် ခုခံမှုကို တိုင်းတာခြင်းတို့ ပါဝင်သည်။
IPC-A-24 စံနှုန်းအတွက် အဓိကအသုံးချနယ်ပယ်များမှာ အောက်ပါအတိုင်းဖြစ်သည်။
ဤစမ်းသပ်ဘုတ်သည် အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များ၏ ရေရှည်ယုံကြည်စိတ်ချရမှုကို သေချာစေရန်အတွက် စီမံဆောင်ရွက်သည့် အကြွင်းအကျန်များသည် ၎င်းတို့၏ လျှပ်စစ်လျှပ်ကာဂုဏ်သတ္တိများကို မထိခိုက်စေကြောင်း အတည်ပြုခြင်းဖြင့် အရေးကြီးသော အခန်းကဏ္ဍမှ ပါဝင်သည်။
အတိုချုပ်ပြောရလျှင် IPC-A-24 စံနှုန်းသည် ညစ်ညမ်းမှု၊ အိုင်းယွန်းအကြွင်းအကျန်များ၊ ဂဟေဆက်အကြွင်းအကျန်များ၊ ဂဟေဆက်ခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်အကျိုးသက်ရောက်မှုများနှင့် ပစ္စည်းလိုက်ဖက်ညီမှုကို အကဲဖြတ်ရန်အတွက် တသမတ်တည်းရှိသော ဆားကစ်ဘုတ်ဒီဇိုင်းနှင့် စမ်းသပ်ခြင်းနည်းလမ်းကို ပံ့ပိုးပေးခြင်းဖြင့် အီလက်ထရွန်းနစ်လုပ်ငန်းကို ပံ့ပိုးပေးပါသည်။
မျက်နှာပြင်လျှပ်ကာခံနိုင်ရည်သည် အီလက်ထရွန်းနစ် assembly တစ်ခုသည် အပူ၊ စိုထိုင်းဆနှင့် အသုံးချဗို့အားကဲ့သို့သော ပတ်ဝန်းကျင်ဆိုင်ရာဖိစီးမှုများအောက်တွင် လျှပ်ကာမျက်နှာပြင်များတစ်လျှောက် မလိုလားအပ်သော လျှပ်စီးကြောင်းယိုစိမ့်မှုကို မည်မျှကောင်းမွန်စွာ ခုခံနိုင်သည်ကို ဖော်ပြသည့် အရေးကြီးသော အညွှန်းကိန်းတစ်ခုဖြစ်သည်။
ဤစံနှုန်း၏ အဓိကရည်ရွယ်ချက်မှာ အောက်ခံပေါ်ရှိ လျှပ်ကူးနိုင်သော ပုံစံများအကြား ခုခံမှုကို တိုင်းတာသည့် စမ်းသပ်ကူပွန်များ သို့မဟုတ် ကတ်များ၏ ဒီဇိုင်းနှင့် အသုံးပြုမှုကို စံသတ်မှတ်ရန်ဖြစ်သည်။ ဤစမ်းသပ်ဘုတ်များသည် လက်တွေ့ကမ္ဘာပုံနှိပ်ဆားကစ်ဘုတ်အခြေအနေများကို တုပပြီး အကြွင်းအကျန်များ သို့မဟုတ် ညစ်ညမ်းပစ္စည်းများသည် အောက်ပါတို့ကို ဖြစ်စေနိုင်ခြင်း ရှိ၊ မရှိ ဆုံးဖြတ်ရန် အသုံးပြုသည်-
ဤစံနှုန်းသည် စမ်းသပ်နည်းလမ်းကို စံသတ်မှတ်ပေးပြီး၊ မတူညီသောဓာတ်ခွဲခန်းများနှင့် ထုတ်လုပ်သူများအား နှိုင်းယှဉ်နိုင်သော မျက်နှာပြင်လျှပ်ကာခံနိုင်ရည်ဒေတာများကို ထုတ်လုပ်နိုင်စေပါသည်။
IPC-A-24 စံနှုန်းသည် မျက်နှာပြင်လျှပ်ကာခံနိုင်ရည်စမ်းသပ်ပြားများ၏ ရုပ်ပိုင်းဆိုင်ရာဒီဇိုင်း၊ လျှပ်ကူးပစ္စည်းအကွာအဝေး၊ ပစ္စည်းထည့်သွင်းစဉ်းစားမှုများနှင့် ပုံစံဂျီသြမေတြီတို့ကို အာရုံစိုက်သည်။ ဤစံနှုန်းကို အောက်ပါစမ်းသပ်နည်းလမ်းများနှင့် တွဲဖက်အသုံးပြုလေ့ရှိသည်။
IPC-A-24 စံနှုန်းတွင် အောက်ပါတို့ကို သတ်မှတ်ထားသည်-
ဤဂျီသြမေတြီများသည် အိုင်းယွန်းညစ်ညမ်းမှု သို့မဟုတ် အစိုဓာတ်က လျှပ်စီးကြောင်းစီးဆင်းမှုကို မြှင့်တင်ပေးနိုင်သည့် ကျဉ်းမြောင်းသောနေရာများကို ဖန်တီးပေးသည်။
အောက်ခံဂုဏ်သတ္တိများသည် အစိုဓာတ်စုပ်ယူမှုနှင့် အိုင်းယွန်းရွေ့လျားနိုင်မှုအပေါ် သက်ရောက်မှုရှိသောကြောင့် ပစ္စည်း၏ ညီညွတ်မှုသည် အလွန်အရေးကြီးပါသည်။
၎င်းက ကတ်တစ်ခုနှင့်တစ်ခု ကွဲပြားမှုကို ဖယ်ရှားရန် ကူညီပေးသည်။
ဖော်ထုတ်ထားသော ပုံမှန်ပျက်ကွက်မှု ယန္တရားများတွင် အောက်ပါတို့ ပါဝင်သည်-
IPC-A-24 စံနှုန်းကို အောက်ပါနယ်ပယ်များတွင် ကျယ်ကျယ်ပြန့်ပြန့် အသုံးပြုကြသည်။
နှစ်ပေါင်းများစွာ ကျွန်ုပ်တို့၏အဖွဲ့အစည်းသည် ၎င်း၏ အရည်အချင်းပြည့်ဝပြီး အတွေ့အကြုံရှိသောအဖွဲ့နှင့်အတူ ၎င်း၏ဖောက်သည်များ၏ လိုအပ်ချက်များကို နားလည်ခြင်း၊ ၎င်းတို့လိုအပ်သော အဆင့်မြင့်စမ်းသပ်ခြင်းဝန်ဆောင်မှုများကို ပေးအပ်ခြင်းနှင့် စီမံခန့်ခွဲမှုစနစ်များ တည်ထောင်ခြင်း၊ အကောင်အထည်ဖော်ခြင်းနှင့် တိုးတက်ကောင်းမွန်အောင်လုပ်ဆောင်ခြင်းတို့တွင် ၎င်းတို့အား ကူညီပေးခဲ့ပါသည်။ ဤမူဘောင်အတွင်း၊ ကျွန်ုပ်တို့သည် IPC-A-24 စံနှုန်းနှင့်ကိုက်ညီသော စမ်းသပ်ခြင်းဝန်ဆောင်မှုများကိုလည်း ပေးဆောင်ပါသည်။
