EN Testes de Normas Europeias Seção 167

As normas EN são normas europeias. Essas normas especificam requisitos para um determinado item, material, componente, sistema ou serviço, ou descrevem em detalhes um método ou procedimento específico, e os testes são realizados de acordo.

• EN 129101: 1995; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificação de detalhes em branco: indutores de montagem em superfície enrolados com fio de qualidade avaliada. Nível de avaliação E.
• EN 129102: 1995; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Especificação de detalhes em branco: indutores de montagem em superfície com fio enrolado de qualidade avaliada. Nível de avaliação P.
• EN 129200: 1996; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características da seção transversal: Indutores fixos com núcleos cerâmicos ou de ferrite enrolados com fio de cobre para circuitos de RF.
• EN 129201: 1995; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Detalhe em branco: indutores enrolados com núcleos cerâmicos ou de ferrite. Nível de avaliação E.
• EN 129202: 1995; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Detalhe em branco: indutores cabeados com núcleos cerâmicos ou de ferrite. Nível de avaliação P.
• EN 130000: 1994; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características gerais: capacitores fixos.
• EN 130100: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características da seção transversal: capacitores de folha de metal dielétrico de filme de polietileno-tereftalato fixo para corrente contínua.
• EN 130101: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: capacitores de folha de metal dielétrico de filme de polietileno-tereftalato fixos para corrente contínua. Nível de avaliação E.
• EN 130102: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: capacitores de folha de metal dielétrico de filme de polietileno-tereftalato fixos para corrente contínua. Nível de avaliação EZ.
• EN 130200: 1993; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características da seção transversal: capacitores fixos de tântalo com eletrólito não sólido ou sólido.
• EN 130201: 1995; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Detalhe em branco: capacitores de tântalo fixos com eletrólito sólido, ânodo poroso (subfamília 3).
• EN 130202: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificação de detalhes em branco: capacitores de tântalo fixos com eletrólito não sólido, ânodo poroso (subfamília 2).
• EN 130300: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características da seção transversal: capacitores eletrolíticos de alumínio com eletrólito sólido e não sólido.
• EN 130500: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características da seção transversal: capacitores dielétricos de filme de policarbonato metalizado fixo para corrente contínua.
• EN 130501: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: capacitores dielétricos de filme de policarbonato metalizado fixo para corrente contínua. Nível de avaliação E.
• EN 130502: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: capacitores dielétricos de filme de policarbonato metalizado fixo para corrente contínua. Nível de avaliação EZ.
• EN 130800: 2001; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Propriedades da seção. Capacitores de montagem em superfície de tântalo.
• EN 130900: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características da seção transversal: capacitores dc de folha de metal dielétrico de filme de poliestireno fixo.
• EN 130901: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: capacitores dc de folha de metal dielétrico de filme de poliestireno fixo. Nível de avaliação E.
• EN 130902: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: capacitores dc de folha de metal dielétrico de filme de poliestireno fixo. Nível de avaliação EZ.
• EN 131700: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características da seção transversal: Capacitores fixos para corrente contínua com eletrodos de folha metálica fina e um dielétrico de filme de policarbonato.
• EN 131701: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: capacitores fixos para corrente contínua com eletrodos de folha metálica fina e um dielétrico de filme de policarbonato. Nível de avaliação E.
• EN 131702: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: capacitores fixos para corrente contínua com eletrodos de folha metálica fina e um dielétrico de filme de policarbonato. Nível de avaliação EZ.
• EN 131800: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características da seção: capacitores dc de folha de metal dielétrico de filme de polipropileno fixo.
• EN 131801: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: capacitores dc de folha de metal dielétrico de filme de polipropileno fixo. Nível de avaliação E.
• EN 131802: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: capacitores dc de folha de metal dielétrico de filme de polipropileno fixo. Nível de avaliação EZ.
• EN 132100: 1997; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características da seção transversal: capacitores fixos de montagem em superfície cerâmica multicamadas. Níveis de avaliação EZ e DZ.
• EN 132101: 1993; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Propriedade de detalhe vazia. Capacitores de chip cerâmico multicamadas fixos.
• EN 132101: 1997; Propriedade de detalhe vazia. Capacitores de montagem em superfície cerâmica multicamada fixos. Nível de avaliação EZ.
• EN 132102: 1997; Propriedade de detalhe vazia. Capacitores de montagem em superfície cerâmica multicamada fixos. Nível de avaliação DZ.
• EN 132400: 1995; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Propriedades da seção. Capacitores fixos (Rating Level D) para supressão de interferência eletromagnética e conexão à rede de alimentação.
• EN 132401: 1995; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Especificação detalhada em branco: Capacitores fixos para supressão de interferência eletromagnética e conexão à rede. Nível de avaliação D.
• EN 132421: 1997; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: capacitores fixos para supressão de interferência eletromagnética. Capacitores para os quais são necessários testes de segurança (somente testes de segurança).
• EN 133000: 1997; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificação geral: unidades de filtro passivo para supressão de interferência eletromagnética.
• EN 133100: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características seccionais: unidades de filtro passivo para supressão de interferência eletromagnética. Filtros onde os testes de segurança não são necessários.
• EN 133101: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificação de detalhes em branco: Unidades de filtro passivo para supressão de interferência eletromagnética. Filtros onde os testes de segurança não são necessários.
• EN 133200: 1995; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características seccionais: unidades de filtro passivo para supressão de interferência eletromagnética (filtros onde são necessários testes de segurança).
• EN 133200: 1999; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características seccionais: unidades de filtro passivo para supressão de interferência eletromagnética (filtros onde são necessários testes de segurança).
• EN 133201: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: Unidades de filtro passivo para supressão de interferência eletromagnética. Filtros para os quais são necessários testes de segurança.
• EN 133221: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: Unidades de filtro passivo para supressão de interferência eletromagnética. Filtra onde os testes de segurança são necessários (somente testes de segurança).
• EN 134000: 1995; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características gerais: capacitores variáveis. (Confirmação de qualificação e confirmação de talento).
• EN 134100: 1996; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características da seção transversal: capacitores variáveis ​​(aprovação de qualificação).
• EN 134101: 1995; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: capacitores de suavização de disco de uma volta (confirmação de qualificação).
• EN 134102: 1995; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: capacitores concêntricos multi-voltas (confirmação de qualificação).
• EN 134103: 1995; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: capacitores dielétricos de ar tipo palheta (confirmação de qualificação).
• EN 134104: 1995; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: capacitores trimer do tipo compressão (confirmação de qualificação).
• EN 137000: 1996; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características gerais : Capacitores eletrolíticos fixos de alumínio com eletrólito não sólido para uso com motores.
• EN 137100: 1996; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Propriedades da seção. Capacitores CA eletrolíticos fixos de alumínio com eletrólito não sólido para aplicações de partida de motor. Confirmação de qualificação.
• EN 137101: 1996; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Propriedade de detalhe vazia. Condensadores CA eletrolíticos fixos de alumínio com eletrólito não sólido para aplicações de partida de motor (aprovação de qualificação).
• EN 138000: 1997; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificação geral: indutores fixos para supressão de interferência eletromagnética (indutores para os quais são necessários testes de segurança).
• EN 138100: 1997; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características da seção: indutores fixos para supressão de interferência eletromagnética (indutores para os quais são necessários testes de segurança).
• EN 138101: 1997; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificação detalhada em branco: indutores fixos para supressão de interferência eletromagnética (indutores para os quais são necessários testes de segurança). Nível de avaliação D.
• EN 140000: 1995; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características gerais: resistores fixos.
• EN 140100: 2008; Propriedades da seção. Resistores de filme de baixa potência fixos.
• EN 140101-806: 2008+A1: 2013; Características do detalhe: Resistores de filme de baixa potência fixos. Resistores de filme metálico em cerâmica de alta qualidade, revestidos ou moldados, axiais ou pré-formados.
• EN 140101: 1997; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificação detalhada em branco: resistores de rádio de baixa potência fixos (nível de classificação S).
• EN 140101: 2008; Especificação de detalhes em branco. Resistores de filme de baixa potência fixos.
• EN 140102: 1996; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: resistores fixos sem fio de baixa potência (nível de classificação M).
• EN 140103: 1996; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Propriedade de detalhe vazia. Resistores fixos sem fio de baixa potência (nível de classificação P).
• EN 140104: 1996; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: resistores sem fio de baixa potência fixos (níveis de classificação SB e SC).
• EN 140200: 1997; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características da seção: resistores de potência constante.
• EN 140201: 1997; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: resistores de potência constante (nível de classificação S).
• EN 140202: 1997; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: resistores de potência constante (Nível de classificação M).
• EN 140203: 1997; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: resistores de potência constante (nível de classificação H).
• EN 140210: 1995; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características da seção: resistores de potência constante. Confirmação de habilidade.
• EN 140211: 1995; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: resistores de potência constante. Confirmação de habilidade.
• EN 140400: 1997; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características da seção transversal: resistores fixos de montagem em superfície de baixa potência (SMD).
• EN 140401-801: 2007+A1: 2013; Especificações detalhadas: Resistores SMD de filme de baixa potência fixos. retângulo. Classes de estabilidade 0,1; 0,25; 0,5; 1 ;
• EN 140401-802: 2007+A2: 2013; Especificações detalhadas: Resistores SMD de filme de baixa potência fixos. retângulo. Classes de estabilidade 1 ; 2º;
• EN 140401-803: 2007+A2: 2013; Especificações detalhadas: Resistores SMD de filme de baixa potência fixos. Cilíndrico. Classes de estabilidade 0,05; 0,1; 0,25; 0,5; 1 ; 2º;
• EN 140401-804: 2005; Especificações de detalhes. Resistores fixos de montagem em superfície de alta estabilidade (SMD) de baixa potência, sem fio enrolado. retângulo. Classes de estabilidade 0,1;0,25 ;
• EN 140401-804: 2011+A1: 2013; Especificação do detalhe: Resistores SMD de alta estabilidade de filme de baixa potência fixa. retângulo. Classes de estabilidade 0,1; 0,25;
• EN 140401: 1997; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Propriedade de detalhe vazia. Resistores de montagem em superfície (SMD) de baixa potência fixa.
• EN 140401: 2009; Especificação de detalhes em branco. Resistores fixos de montagem em superfície de filme de baixa potência (SMD).
• EN 140402-801: 2005; Especificações detalhadas : Resistores de montagem em superfície (SMD) de fio de baixa potência fixos. retângulo. Classes de estabilidade 0,5; 1 ; 2º;
• EN 140402-801: 2015; Especificações detalhadas : Resistores fixos de montagem em superfície (SMD) com fio de baixa potência. retângulo. Classes de estabilidade 0,5; 1 ; 2º;
• EN 140402: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: resistores fixos de montagem em superfície (SMD) de fio enrolado de baixa potência.
• EN 140402: 2015; Especificação de detalhes em branco: Resistores de montagem em superfície (SMD) de fio de baixa potência fixos.
• EN 141101: 1992; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Propriedade de detalhe vazia. Parafuso de avanço e potenciômetros rotativos predefinidos.
• EN 143000: 1992; Sistema harmonizado de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos : características gerais : termistores de coeficiente de temperatura negativa aquecidos diretamente.
• EN 143001: 1992; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe vazio: termistores de coeficiente de temperatura negativa aquecidos diretamente (vidro cheio ou contas de esmalte vítreo).
• EN 143002: 1992; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Característica de detalhe vazio: termistores de coeficiente de temperatura negativa aquecidos diretamente (esferas em envelopes).
• EN 143003: 1992; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Característica de detalhe vazio: termistores de coeficiente de temperatura negativa aquecidos diretamente (tipo de disco).
• EN 143004: 1992; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe vazio: termistores de coeficiente de temperatura negativa aquecidos diretamente (tipo haste).
• EN 144000: 1994; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características gerais: termistores de coeficiente de temperatura positiva aquecidos diretamente, normalmente feitos de materiais ferroelétricos modificados.
• EN 144001: 1995; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: termistores de coeficiente de temperatura positiva aquecidos diretamente projetados principalmente para limitação de corrente.
• EN 144002: 1995; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: termistores de coeficiente de temperatura positivo aquecidos diretamente projetados principalmente para o elemento de aquecimento.
• EN 144003: 1995; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe vazio: termistores de coeficiente de temperatura positiva aquecidos diretamente projetados principalmente para corrente de partida.
• EN 144004: 1995; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: termistores de coeficiente de temperatura positivo aquecidos diretamente projetados principalmente para detecção de temperatura.
• EN 147000: 1995; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificação geral. Tomadas para uso com relés elétricos de qualidade nominal.
• EN 147100: 1995; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características da seção transversal: tomadas de relé de qualidade avaliada.
• EN 147101: 1995; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe vazio: soquetes de relé de qualidade avaliada.
• EN 150001: 1993; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: diodos semicondutores de uso geral.
• EN 150008: 1993; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: diodos retificadores de nível ambiente.
• EN 150009: 1993; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe vazio: diodos retificadores de grau de estado.
• EN 150010: 1993; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe nulo: tiristores de nível ambiente.
• EN 150011: 1993; Especificação do sistema de avaliação de qualidade harmonizado para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: tiristores tipo case.
• EN 150013: 1993; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe vazio: regulador de corrente e diodos de referência de corrente.
• EN 150014: 1997; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe vazio: diodos tiristor, supressores de sobretensão transitória.
• EN 150015: 1993; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: diodos supressores de sobretensão transitória unidirecional.
• EN 153000: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificação geral: dispositivos semicondutores de potência de contato de pressão discreta (confirmação de qualificação).
• EN 160000: 1993; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características gerais: unidades eletrônicas modulares.
• EN 160100: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificação transversal: validação da capacidade de fabricantes de conjuntos de caixas impressas de qualidade avaliada.
• EN 160101: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: unidades eletrônicas modulares de montagem de placa impressa de qualidade avaliada. Confirmação de habilidade.
• EN 160200-1: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Propriedades da seção. Unidades eletrônicas modulares de micro-ondas de qualidade avaliada. Procedimento de aprovação de talentos
• EN 160200-2: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Propriedades da seção. Unidades eletrônicas modulares de microondas de qualidade avaliada. Diretório de métodos de teste
• EN 160201: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Propriedade de detalhe vazia. Unidades eletrônicas modulares de microondas de qualidade avaliada. Confirmação de habilidade.
• EN 165000-1: 1996; Filme e circuitos integrados híbridos. Especificação geral. Procedimento de aprovação de talentos
• EN 165000-2: 1996; Filme e circuitos integrados híbridos. Inspeção visual interna e testes especiais
• EN 165000-3: 1996; Filme e circuitos integrados híbridos. Lista de verificação e relatório de auto-auditoria para fabricantes de filmes e circuitos integrados híbridos
• EN 165000-4: 1996; Filme e circuitos integrados híbridos. Informações do cliente, cronogramas de nível de avaliação do produto e especificação de detalhes em branco
• EN 165000-5: 1998; Filme e circuitos integrados híbridos. Procedimento de aprovação de qualificação
• EN 166000: 1996; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificação geral. Filtros de ondas acústicas de superfície (SAW).
• EN 166100: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Propriedades da seção: filtros de ondas acústicas de superfície (SAW).
• EN 166101: 1999; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe vazio: filtros de onda acústica de superfície (SAW). Confirmação de habilidade.
• EN 167000: 1993; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características gerais: filtros piezoelétricos.
• EN 167100: 1996; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características da peça: filtros piezoelétricos (aprovação de talentos).
• EN 167101: 1996; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe vazio: filtros piezoelétricos (confirmação de capacidade).
• EN 168000: 1996; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Propriedades gerais: unidades de cristal de quartzo.
• EN 168100: 1995; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características da seção: unidades de cristal de quartzo (confirmação de capacidade).
• EN 168101: 1997; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Atributo de detalhe vazio: unidades de cristal de quartzo (confirmação de habilidade).
• EN 168201: 1996; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Propriedade de detalhe vazia. Unidades de cristal de quartzo. (confirmação de qualificação).
• EN 169000: 1993; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificação geral. Osciladores controlados por cristal de quartzo.
• EN 169100: 1993; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características da seção: osciladores controlados por cristal de quartzo (confirmação de capacidade).
• EN 169101: 1995; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe vazio: osciladores controlados por cristal de quartzo (confirmação de habilidade).
• EN 169200: 1996; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características da seção transversal: Osciladores controlados por cristal de quartzo (confirmação de qualificação).
• EN 169201: 1996; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Propriedade de detalhe vazia. Osciladores controlados por cristal de quartzo (confirmação de qualificação).
• EN 170000: 1999; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Propriedades gerais: ressonadores dielétricos do tipo guia de onda.
• EN 175100: 1993; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Propriedades da seção. Conectores de soquete de duas peças e com arestas para aplicações de placa impressa.
• EN 175101-802: 2000; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificações de detalhes. Conectores de duas peças para placas impressas para um grande número de contatos com uma grade básica de 3 mm em 4 ou 2,54 linhas
• EN 175101-809: 2000; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificações de detalhes. Especificação de detalhes : Conectores de duas peças para cartões impressos com grade de 2,54 mm, versão curta em conformidade com CECC 75101-801, com qualidade nominal
• EN 175200: 1992; Sistema harmonizado de avaliação da qualidade de componentes eletrônicos : características da seção transversal : conectores circulares.
• EN 175200: 1997; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características de seção: conectores circulares.
• EN 175201-804: 2000; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificações de detalhes. conectores circulares. Contatos redondos, diâmetro 1,6 mm, acoplamento roscado
• EN 175300: 1992; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características da seção transversal: Conectores retangulares para frequências abaixo de 3 MHz.
• EN 175300: 1997; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características da seção transversal: Conectores retangulares para frequências abaixo de 3 MHz.
• EN 175301-801: 2000; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificações de detalhes. Conectores retangulares de alta densidade, contatos de crimpagem removíveis redondos
• EN 175301-801: 2006; Especificações de detalhes. Conectores retangulares de alta densidade, contatos de crimpagem removíveis redondos.
• EN 175301-803: 2000; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificações de detalhes. conectores retangulares. Contatos planos, 0,8 mm de espessura, parafuso de trava não pode ser removido
• EN 175301-803: 2006; Especificações do detalhe: conectores retangulares. Contatos planos, espessura de 0,8 mm, parafuso de trava não pode ser removido.
• EN 180000: 1996; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Características gerais: Atenuadores de fibra óptica.
• EN 180101: 1995; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: atenuadores de fibra óptica fixos.
• EN 181000: 1995; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificação geral. Dispositivos de ramificação de fibra óptica.
• EN 181101: 1995; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: dispositivos de ramificação de fibra óptica. Tipo: estrela seletivamente permeável sem comprimento de onda.
• EN 181102: 1995; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: dispositivos de ramificação de fibra óptica. Tipo: estrela de transmissão seletiva de comprimento de onda.
• EN 181103: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: dispositivos de ramificação de fibra óptica. Tipo: estrela seletivamente permeável sem comprimento de onda para aplicação em telecomunicações.
• EN 181104: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Recurso de detalhe em branco: dispositivos de ramificação de fibra óptica. Tipo: estrela permeável seletiva de comprimento de onda para aplicação em telecomunicações.
• EN 186000-1: 1994; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificação geral. Conjuntos de conexão para fibras ópticas e cabos. Requisitos, métodos de teste e procedimentos de aprovação de proficiência
• EN 186001: 1994; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Propriedade de detalhe vazia. Conectores para fibras ópticas e cabos. Categoria ambiental I.
• EN 186002: 1994; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Propriedade de detalhe vazia. Conector para fibras ópticas e cabos. Categoria ambiental II.
• EN 186003: 1994; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Propriedade de detalhe vazia. Conector para fibras ópticas e cabos. Categoria ambiental III.
• EN 186004: 1994; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Propriedade de detalhe vazia. Conector para fibras ópticas e cabos. Categoria ambiental IV.
• EN 186005: 1994; Especificação harmonizada do sistema de avaliação de qualidade para componentes eletrônicos. Propriedade de detalhe vazia. Conector para fibras ópticas e cabos. Categoria ambiental V.
• EN 186006-1: 1996; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Propriedade de detalhe vazia. Conectores para fibras ópticas e cabos para uso militar. Categoria ambiental VI
• EN 186100: 1995; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificações seccionais: conjuntos de conectores para fibras ópticas e cabos. Tipos de F-SMA.
• EN 186110: 1995; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificações seccionais: conjuntos de conectores para fibras ópticas e cabos. Tipo FC.
• EN 186130: 1996; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Propriedades da seção. Conjuntos de conexão para fibras ópticas e cabos. Digite LSA.
• EN 186150: 1997; Conjuntos de conexão para fibras ópticas e cabos. Digite OCCA-BU.
• EN 186160: 1997; Conjuntos de conexão para fibras ópticas e cabos. Digite OCCA-PC.
• EN 186170: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificações seccionais: conjuntos de conectores para fibras ópticas e cabos. Tipo RCC.
• EN 186180: 1996; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Propriedades da seção. Conjuntos de conexão para fibras ópticas e cabos. Digite LSB.
• EN 186210: 1996; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificações seccionais: conjuntos de conectores para fibras ópticas e cabos. Tipo CF08 ;
• EN 186220: 1996; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificações da seção: Conjuntos de conexão para fibras ópticas e cabos. Digite LSC.
• EN 186230: 1996; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificações seccionais: conjuntos de conectores para fibras ópticas e cabos. Tipo LSF.
• EN 186240: 1996; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificações seccionais: conjuntos de conectores para fibras ópticas e cabos. Digite MT.
• EN 186260: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificações seccionais: conjuntos de conectores para fibras ópticas e cabos. Tipo SC.
• EN 186270: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificações seccionais: conjuntos de conectores para fibras ópticas e cabos. Digite LSH.
• EN 186290: 1998; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Conjuntos de conexão para fibras ópticas e cabos. Digite MPO.
• EN 186300: 1999; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificações seccionais: conjuntos de conectores para fibras ópticas e cabos do tipo MSC.
• EN 186310: 1999; Sistema de avaliação de qualidade compatível para componentes eletrônicos. Especificações seccionais: conjuntos de conectores para fibras ópticas e cabos. Tipo MF.

As normas facilitam o comércio internacional, garantindo a compatibilidade e interoperabilidade de componentes, produtos e serviços. As Normas Europeias (ENs) são documentos aprovados por três Organizações Europeias de Normalização (ESO), CEN, CENELEC ou ETSI; Reconhecido como competente no domínio da normalização técnica voluntária pelo Regulamento da UE 1025/2012.