Un dispositivo eléctrico o electrónico genera energía electromagnética y parte de ella se transmite al cable de alimentación. Para limitar la cantidad de interferencia que el dispositivo puede volver a conectar a una fuente de alimentación, los laboratorios avanzados generalmente miden estas emisiones en el rango de 150 kHz a 30 MHz y verifican que cumplan con los límites especificados. Esto ayuda a garantizar que la fuente de alimentación local permanezca relativamente limpia y que los dispositivos cercanos no se vean afectados por ella.
-emisyon-testi.jpg "Prueba de emisiones conducidas")
Las pruebas de emisiones conducidas generalmente se realizan en dispositivos conectados a una fuente de alimentación de CA. Esto es independiente de si se utiliza un adaptador de fuente de alimentación CA-CC aprobado previamente. Para algunos estándares, también existen limitaciones de espacio en los dispositivos que funcionan con una fuente de alimentación de CC.
Un rango de frecuencia muy común especificado por los estándares de emisión obligatorios es de 150 kHz a 30 MHz. Sin embargo, este rango puede ser mayor o menor para ciertos estándares. Diferentes estándares requieren diferentes rangos de frecuencia y diferentes impedancias.
Se han determinado los límites de emisión realizados para los dispositivos de Clase A y Clase B. En general, los límites de clase B (para entornos domésticos) son más estrictos, probablemente porque la cantidad de dispositivos que se espera que estén presentes en un hogar es grande y los usuarios quieren asegurarse de que los dispositivos no interfieran entre sí a través del ruido transmitido en la alimentación de CA. suministro.
Es común que los dispositivos no superen las pruebas de emisiones. Incluso si un equipo utiliza un adaptador de corriente CA/CC externo preaprobado, esto no garantiza que lo apruebe. Esto se debe a que la fuente de alimentación puede no ser compatible o a que el adaptador de corriente original se probó con una carga de CC.
Las emisiones conducidas (conducidas) son los efectos sobre la calidad de la energía que se producen a través del acoplamiento eléctrico y magnético, el interruptor electrónico de los dispositivos semiconductores, que forman parte de los problemas de compatibilidad electromagnética en la ingeniería eléctrica. Estos afectan la capacidad de todos los dispositivos del sistema interconectado en el entorno electromagnético al restringir o limitar la generación, propagación y recepción deliberadas de energía electromagnética.
Las pruebas de emisión conducida se ocupan de probar la porción de energía electromagnética generada por un dispositivo electrónico que se transmite al cable de alimentación. El objetivo es limitar la cantidad de interferencia que el dispositivo puede volver a conectar a una fuente de alimentación.
Nuestra organización también brinda servicios de pruebas de emisiones conducidas con su personal capacitado y experto y equipos de tecnología avanzada, entre los numerosos estudios de prueba, medición, análisis y evaluación que brinda a las empresas de diversos sectores.
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