MIL-STD-883F 国防部测试方法标准：微电路、测试标准

MIL-STD-883F 是美国军事防御标准，提供基本的环境测试、机械和电气测试、劳动和培训程序，以确定对围绕军事和太空行动的自然元素和条件的有害影响的抵抗力，并且是唯一的一种适用于这些设备的预期应用。描述了为确保这种质量和可靠性水平所必需的任何其他控制和限制。

就本标准而言，术语设备包括单片、多芯片、薄膜和混合微电路、微电路阵列以及构建电路和阵列的元件等项目。 本标准仅适用于微电子设备。

本标准中描述的测试方法、控制和程序的主要目的是服务于：

• 确定可以在实验室和设备级别获得的适当条件，从而给出与现场可用的实际使用条件相似的测试结果，并获得测试结果的可重复性。 这里描述的测试是它不应被解释为在任何地理或外层空间位置的实际服务操作的准确表示，因为已知在给定应用和位置的唯一真实操作测试是相同条件下的真实服务测试。
• 在单一标准中描述目前出现在各种联合服务和 NASA 微电子设备标准中的所有具有相似特征的测试方法。 因此，这些方法保持统一，从而保护设备、工作时间和测试设施。 为了实现这一目标，每个通用测试都需要适用于各种设备。
• 确保物理、电气和环境测试、制造控制以及工艺和材料的一致性水平，以确保根据此标准扫描的所有设备的质量和可靠性一致。

根据本标准进行的测试分为四类：

• 环境测试
• 机械测试
• 电气测试
• 测试程序

在为各行各业的企业提供的众多测试、测量、分析和评估研究中，我们的组织还提供MIL-STD-883F标准范围内的军用微电路测试服务，拥有训练有素的专家员工和先进的技术设备.