XPS-analyse (elementtype og oxidationsnummer)

XPS er et akronym afledt af røntgenfotoelektronspektroskopi, som står for røntgenfotoelektronspektroskopi. Med denne metode udføres XPS overfladeanalyse af materialer lige fra metaller til polymerer.

Efterhånden som efterspørgslen efter højtydende materialer stiger, stiger betydningen af ​​overfladeteknik også. Materialets overflade er interaktionspunktet med det ydre miljø og andre materialer og påvirker faktorer som korrosionshastigheder, katalytisk aktivitet, adhæsive egenskaber, befugtningsevne, kontaktpotentiale og svigtmekanismer. Overflademodifikation bruges til at ændre eller forbedre disse egenskaber. Overfladeanalyse bruges til at forstå overfladekemi og forbedre effektiviteten af ​​overfladeteknik. Fra non-stick belægninger til kogegrej til tyndfilmselektronik og bioaktive overflader er røntgenfotoelektronspektroskopi (XPS) et af standardværktøjerne til overfladekarakterisering.

Røntgenfotoelektronspektroskopi (XPS), også kendt som elektronspektroskopi til kemisk analyse, er en teknik til at analysere overfladekemien af ​​et materiale. Med denne metode måles den kemiske og elektroniske tilstand af atomer i et materiale samt grundstofsammensætningen.

Overfladeanalyse bidrager til forståelsen af ​​følgende områder: slid, udbrændthed, korngrænseseparation, belægninger, smøring, oxidation, træthed, halvleder/mikroelektronik, mikrokredsløb.

Generelt observeres ændringer i oxidationsantallet af atomer i hver forbindelse under en reaktion, og deres kemiske reaktioner følges. Oxidationstal spiller også en vigtig rolle i den systematiske navngivning af kemiske forbindelser. Per definition er oxidationstallet for et atom den ladning, atomet ville have, hvis forbindelsen var sammensat af ioner. I et neutralt stof, der kun indeholder atomer af ét grundstof, er oxidationstallet for et atom nul. Således har atomerne i O2, O3, P4, S8 og aluminiummetal alle oxidationsnummer 0. Oxidationstallet for simple ioner er lig med ladningen på ionen. For eksempel er oxidationstallet for natrium i Na+-ionen +1, og oxidationstallet for chlor i Cl-ionen er -1.

Kort sagt er XPS en analytisk metode. Med denne metode måles den kinetiske energi af fotoelektroner udsendt fra en prøve udsat for monokromatisk røntgenstråler. Energierne af de udsendte elektroner er karakteristiske for de tilstedeværende grundstoffer og disse grundstoffers oxidationstilstand.

Vores organisation leverer også XPS-analyse (elementtype og oxidationsnummer) testtjenester med sit uddannede og ekspert personale og avanceret teknologisk udstyr, blandt de talrige test-, måling-, analyse- og evalueringsundersøgelser, som den tilbyder for virksomheder i forskellige sektorer.