Phương pháp tiêu chuẩn ASTM E810-20 để kiểm tra hệ số phản xạ gương của tấm phản quang bằng hình học đồng phẳng

Tiêu chuẩn “Phương pháp tiêu chuẩn ASTM E810-20 để kiểm tra hệ số phản quang của các tấm phản quang sử dụng hình học đồng phẳng” do Hiệp hội Thử nghiệm và Vật liệu Hoa Kỳ (ASTM) xuất bản mô tả một phương pháp thử nghiệm bao gồm một thiết bị đo lường hiệu suất phản quang của các tấm phản quang.

Người sử dụng phương pháp thử nghiệm này phải xác định góc tiếp cận, góc quan sát và góc quay sẽ được sử dụng. Phương pháp thử nghiệm này được thiết kế như một thử nghiệm trong phòng thí nghiệm và yêu cầu một cơ sở có thể đủ tối để ánh sáng lạc không ảnh hưởng đến kết quả thử nghiệm. Thiết bị thử nghiệm phải có khả năng đạt được hình học đồng phẳng.

Có thể sử dụng thiết bị đo phản xạ ngược di động và để bàn để xác định các giá trị hệ số phản quang (RA) nếu hình học được đo theo phương pháp thử nghiệm này và sử dụng các tấm tham chiếu tiêu chuẩn thay thế thích hợp. Trong trường hợp này, áp dụng các phương pháp của Quy trình B được mô tả trong “ASTM E809-21 Tiêu chuẩn thực hành để đo các đặc tính trắc quang của vật phản quang”. Thông tin bổ sung về việc sử dụng máy đo độ phản quang cầm tay có trong tiêu chuẩn “Phương pháp thử nghiệm tiêu chuẩn ASTM E1709-09 để đo các vết phản quang bằng máy đo độ phản quang cầm tay có góc nhìn 0,2 độ”.

Với mục đích của tiêu chuẩn này, ngoài các thuật ngữ và định nghĩa được đưa ra trong “Thuật ngữ tiêu chuẩn về bề ngoài của ASTM E284-22” và “Thực hành tiêu chuẩn ASTM E808-01 để mô tả sự phản xạ ngược”, các định nghĩa sau đây được áp dụng:

• Hệ số phản xạ ngược (RA) biểu thị tỷ lệ giữa hệ số cường độ ánh sáng của bề mặt phản xạ phẳng với diện tích. RA là đại lượng kỹ thuật hữu ích để xác định hiệu suất trắc quang của các bề mặt phản xạ ngược như vạch phân giới đường cao tốc hoặc thiết bị cảnh báo. RA cũng có thể được sử dụng để xác định diện tích tấm phản quang tối thiểu cần thiết để đạt được mức hiệu suất trắc quang mong muốn. RA đã được sử dụng rộng rãi trong đặc điểm kỹ thuật của tấm phản quang.
• Hình học đồng phẳng là hình học phản xạ ngược trong đó trục phản xạ ngược, trục chiếu sáng và trục quan sát nằm trong cùng một mặt phẳng. Trong hình học đồng phẳng, thành phần góc chèn thứ hai bằng 0 độ, góc trình bày bằng 0 độ hoặc 180 độ, góc định hướng là góc quay bằng cộng 180 độ hoặc trừ 180 độ.
• Trục tham chiếu đề cập đến một nửa đường thẳng được xác định vuông góc từ tâm vật phản quang đến trục vật phản xạ.
• Dấu tham chiếu là một chỉ báo trên vật phản quang, xác định hướng của trục tham chiếu, bên ngoài trục phản quang.
• Góc vào là góc giữa trục chiếu sáng và trục phản xạ ngược. Góc vào thường không lớn hơn 90 độ, nhưng để hoàn thiện, phạm vi đầy đủ của nó được xác định là 0-180 độ.
• Máy đo góc là một dụng cụ dùng để đo hoặc đặt góc.
• Trục chiếu sáng là nửa đường từ tâm của vật phản xạ tới điểm nguồn.
• Góc quan sát là góc giữa trục chiếu sáng và trục quan sát. Góc quan sát không bao giờ âm và hầu như luôn nhỏ hơn 10 độ và thường không quá 2 độ. Phạm vi đầy đủ được xác định là 0-180 độ.

Phương pháp thử nghiệm này bao gồm việc sử dụng nguồn chiếu ánh sáng, máy thu, thiết bị để định vị máy thu so với nguồn và giá đỡ mẫu thử trong khu vực tối thích hợp. Giá đỡ mẫu cách nguồn sáng 15 m. Quy trình chung là xác định tỷ lệ ánh sáng phản xạ từ bề mặt thử nghiệm và ánh sáng tới trên bề mặt thử nghiệm. Đại lượng trắc quang, hệ số phản xạ ngược, được tính toán từ các phép đo này.

Các phép đo được thực hiện bằng phương pháp thử nghiệm này liên quan đến quan sát trực quan các tấm phản quang mà mắt người nhìn thấy khi được chiếu sáng bởi các nguồn sáng dây tóc vonfram như đèn pha xe cơ giới.

Các giá trị được chỉ định liên quan đến hiệu ứng hình ảnh đối với một cấu hình hình học cụ thể do người dùng phương pháp thử nghiệm chỉ định. Phương pháp thử nghiệm này rất hữu ích để thử nghiệm ở các góc quan sát trong khoảng từ 0,1 đến 2,0 độ (có thể đạt được góc quan sát trong khoảng từ 0,1 đến 0,2 độ bằng cách thiết kế cẩn thận cấu hình khẩu độ nguồn và máy thu) và góc vào lên tới 60 độ đã được tìm thấy.

Quy trình lấy mẫu được sử dụng cho phương pháp thử này phải mang tính đại diện cho cuộn hoặc mẻ vật liệu thử. Khi thử nghiệm một cuộn tấm phản quang, phải lấy ít nhất ba mẫu 0,2 x 0,2 m từ cuộn. Chúng đại diện cho các biến thể mạng chéo và mạng xuống, nếu có. Giá trị trung bình của ba mẫu này được báo cáo.

Trong số rất nhiều nghiên cứu thử nghiệm, đo lường, phân tích và đánh giá mà tổ chức của chúng tôi cung cấp cho các doanh nghiệp trong nhiều lĩnh vực khác nhau, với đội ngũ nhân viên được đào tạo chuyên nghiệp và thiết bị công nghệ tiên tiến, chúng tôi cũng cung cấp các dịch vụ thử nghiệm được xác định trong tiêu chuẩn "Phương pháp thử nghiệm tiêu chuẩn ASTM E810-20 về phản quang phản quang". hệ số của các tấm phản quang sử dụng hình học đồng phẳng”.