EN Ensayos de normas europeas, sección 167

Las normas EN son normas europeas. Estos estándares especifican los requisitos para un artículo, material, componente, sistema o servicio en particular, o describen en detalle un método o procedimiento en particular, y las pruebas se realizan en consecuencia.

• EN 129101: 1995; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificación de detalles en blanco: inductores de montaje en superficie de alambre bobinado de calidad evaluada. Nivel de evaluación E.
• EN 129102: 1995; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Especificación de detalles en blanco: inductores de montaje en superficie de alambre bobinado de calidad evaluada. Nivel de evaluación P.
• EN 129200: 1996; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características de la sección transversal: Inductores fijos con núcleos de cerámica o ferrita enrollados con alambre de cobre para circuitos de RF.
• EN 129201 : 1995 ; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: inductores de alambre bobinado con núcleos de cerámica o ferrita. Nivel de evaluación E.
• EN 129202 : 1995 ; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: inductores cableados con núcleos de cerámica o ferrita. Nivel de evaluación P.
• EN 130000: 1994; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características generales: condensadores fijos.
• EN 130100: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características de la sección transversal: condensadores fijos de lámina metálica dieléctrica de película de tereftalato de polietileno para corriente continua.
• EN 130101: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: condensadores fijos de lámina metálica dieléctrica de película de tereftalato de polietileno para corriente continua. Nivel de evaluación E.
• EN 130102: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: condensadores de lámina de metal dieléctrico de película de tereftalato de polietileno fijo para corriente continua. Nivel de evaluación EZ.
• EN 130200: 1993; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características de la sección transversal: condensadores de tantalio fijos con electrolito sólido o no sólido.
• EN 130201: 1995; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: condensadores fijos de tantalio con electrolito sólido, ánodo poroso (subfamilia 3).
• EN 130202: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificación de detalle en blanco: condensadores de tantalio fijos con electrolito no sólido, ánodo poroso (subfamilia 2).
• EN 130300: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características de la sección transversal: condensadores electrolíticos de aluminio con electrolito sólido y no sólido.
• EN 130500: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características de la sección: condensadores dieléctricos fijos de película de policarbonato metalizado para corriente continua.
• EN 130501: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: condensadores dieléctricos de película de policarbonato metalizado fijo para corriente continua. Nivel de evaluación E.
• EN 130502: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: condensadores dieléctricos de película de policarbonato metalizado fijo para corriente continua. Nivel de evaluación EZ.
• EN 130800: 2001; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Propiedades de la sección. Condensadores de montaje en superficie de tantalio.
• EN 130900: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características de la sección transversal: condensadores de CC de lámina de metal dieléctrico de película de poliestireno fija.
• EN 130901: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: condensadores de CC de lámina de metal dieléctrico de película de poliestireno fijo. Nivel de evaluación E.
• EN 130902: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: condensadores de CC de lámina de metal dieléctrico de película de poliestireno fija. Nivel de evaluación EZ.
• EN 131700: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características de la sección transversal: Condensadores fijos para corriente continua con electrodos de lámina metálica delgada y un dieléctrico de película de policarbonato.
• EN 131701: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: condensadores fijos para corriente continua con electrodos de lámina metálica delgada y un dieléctrico de película de policarbonato. Nivel de evaluación E.
• EN 131702: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: condensadores fijos para corriente continua con electrodos de lámina metálica delgada y un dieléctrico de película de policarbonato. Nivel de evaluación EZ.
• EN 131800: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características de la sección: condensadores dc de lámina metálica dieléctrica de película fija de polipropileno.
• EN 131801: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: condensadores de CC de lámina de metal dieléctrico de película de polipropileno fija. Nivel de evaluación E.
• EN 131802: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: condensadores de CC de lámina de metal dieléctrico de película de polipropileno fijo. Nivel de evaluación EZ.
• EN 132100: 1997; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características de la sección transversal: condensadores cerámicos multicapa fijos de montaje en superficie. Niveles de evaluación EZ y DZ.
• EN 132101: 1993; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Propiedad de detalle vacía. Condensadores de chip cerámico multicapa fijos.
• EN 132101: 1997; Propiedad de detalle vacía. Condensadores fijos de montaje en superficie de cerámica multicapa. Nivel de evaluación EZ.
• EN 132102: 1997; Propiedad de detalle vacía. Condensadores fijos de montaje en superficie de cerámica multicapa. Nivel de evaluación DZ.
• EN 132400: 1995; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Propiedades de la sección. Condensadores fijos (Nivel de clasificación D) para la supresión de interferencias electromagnéticas y la conexión a la red de suministro.
• EN 132401 : 1995 ; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad para componentes electrónicos. Especificación de detalle en blanco : Condensadores fijos para supresión de interferencias electromagnéticas y conexión a la red. Nivel de evaluación D.
• EN 132421: 1997; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Característica de detalles en blanco: condensadores fijos para la supresión de interferencias electromagnéticas. Condensadores para los que se requieren pruebas de seguridad (solo pruebas de seguridad).
• EN 133000: 1997; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificación general: unidades de filtrado pasivo para la supresión de interferencias electromagnéticas.
• EN 133100: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características seccionales: unidades de filtrado pasivo para la supresión de interferencias electromagnéticas. Filtros donde no se requieren pruebas de seguridad.
• EN 133101: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificación de detalle en blanco: unidades de filtro pasivo para la supresión de interferencias electromagnéticas. Filtros donde no se requieren pruebas de seguridad.
• EN 133200: 1995; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características seccionales: unidades de filtrado pasivo para supresión de interferencias electromagnéticas (filtros donde se requieren pruebas de seguridad).
• EN 133200: 1999; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características seccionales: unidades de filtrado pasivo para supresión de interferencias electromagnéticas (filtros donde se requieren pruebas de seguridad).
• EN 133201: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Característica de detalles en blanco: unidades de filtro pasivo para la supresión de interferencias electromagnéticas. Filtros para los que se requieren pruebas de seguridad.
• EN 133221: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Característica de detalles en blanco: unidades de filtro pasivo para la supresión de interferencias electromagnéticas. Filtros donde se requieren pruebas de seguridad (solo pruebas de seguridad).
• EN 134000: 1995; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características generales: condensadores variables. (Confirmación de calificación y confirmación de talento).
• EN 134100: 1996; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características de la sección transversal: condensadores variables (aprobación de calificación).
• EN 134101: 1995; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: condensadores de suavizado de disco de una sola vuelta (confirmación de calificación).
• EN 134102: 1995; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: condensadores concéntricos de múltiples vueltas (confirmación de calificación).
• EN 134103: 1995; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: condensadores dieléctricos de aire tipo paleta (confirmación de calificación).
• EN 134104 : 1995 ; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: condensadores de trímero de tipo compresión (confirmación de calificación).
• EN 137000: 1996; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características generales : Condensadores ac electrolíticos fijos de aluminio con electrolito no sólido para uso con motores.
• EN 137100: 1996; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Propiedades de la sección. Condensadores de CA electrolíticos fijos de aluminio con electrolito no sólido para aplicaciones de arrancadores de motor. Confirmación de calificación.
• EN 137101: 1996; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Propiedad de detalle vacía. Condensadores de CA electrolíticos fijos de aluminio con electrolito no sólido para aplicaciones de arrancadores de motor (aprobación de calificación).
• EN 138000: 1997; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificación general: inductores fijos para la supresión de interferencias electromagnéticas (inductores para los que se requieren pruebas de seguridad).
• EN 138100: 1997; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características de la sección: inductores fijos para la supresión de interferencias electromagnéticas (inductores para los que se requieren pruebas de seguridad).
• EN 138101: 1997; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificación de detalle en blanco: inductores fijos para supresión de interferencias electromagnéticas (inductores para los que se requieren pruebas de seguridad). Nivel de evaluación D.
• EN 140000: 1995; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características generales: resistencias fijas.
• EN 140100: 2008; Propiedades de la sección. Resistencias de película fijas de baja potencia.
• EN 140101-806: 2008 + A1: 2013; Características del detalle: Resistencias de película fijas de baja potencia. Resistencias de película metálica en cerámica de alta calidad, con revestimiento o moldeado conformado, extremos axiales o preformados.
• EN 140101: 1997; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificación detallada en blanco: resistencias bobinadas de radio fijas de baja potencia (nivel de clasificación S).
• EN 140101: 2008; Especificación de detalles en blanco. Resistencias de película fijas de baja potencia.
• EN 140102: 1996; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: resistencias fijas sin bobinado de baja potencia (nivel de clasificación M).
• EN 140103: 1996; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Propiedad de detalle vacía. Resistencias fijas de baja potencia sin bobinado (nivel de clasificación P).
• EN 140104: 1996; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: resistencias de bobinado sin cable de baja potencia fijas (niveles de calificación SB y SC).
• EN 140200: 1997; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características de la sección: resistencias de potencia constante.
• EN 140201: 1997; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: resistencias de potencia constante (nivel de clasificación S).
• EN 140202: 1997; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: resistencias de potencia constante (nivel de clasificación M).
• EN 140203: 1997; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: resistencias de potencia constante (nivel de clasificación H).
• EN 140210: 1995; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características de la sección: resistencias de potencia constante. Confirmación de habilidad.
• EN 140211: 1995; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: resistencias de potencia constante. Confirmación de habilidad.
• EN 140400 : 1997 ; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características de la sección transversal: resistencias fijas de montaje en superficie de baja potencia (SMD).
• EN 140401-801 : 2007+A1 : 2013 ; Características detalladas: resistencias SMD de película fija de baja potencia. rectángulo. Clases de estabilidad 0,1 ; 0,25; 0,5; una ;
• EN 140401-802 : 2007+A2 : 2013 ; Especificaciones detalladas: Resistencias SMD de película fija de baja potencia. rectángulo. Clases de estabilidad 1; 2º;
• EN 140401-803 : 2007+A2 : 2013 ; Especificaciones detalladas: Resistencias SMD de película fija de baja potencia. Cilíndrico. Clases de estabilidad 0,05; 0,1; 0,25; 0,5; una ; 1º;
• EN 140401-804: 2005; Especificaciones detalladas. Resistencias fijas de montaje en superficie (SMD) de alta estabilidad sin alambre enrollado de baja potencia. rectángulo. Clases de estabilidad 0,1; 0,25;
• EN 140401-804: 2011 + A1: 2013; Especificación detallada: Resistencias SMD de alta estabilidad de película de baja potencia fija. rectángulo. Clases de estabilidad 0,1; 0,25;
• EN 140401: 1997; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Propiedad de detalle vacía. Resistencias fijas de montaje en superficie (SMD) de herida de radio de baja potencia.
• EN 140401: 2009; Especificación de detalles en blanco. Resistencias fijas de montaje en superficie de película de baja potencia (SMD).
• EN 140402-801: 2005; Especificaciones detalladas: Resistencias de montaje en superficie (SMD) de alambre enrollado de baja potencia fijas. rectángulo. Clases de estabilidad 0,5; una ; 1do;
• EN 140402-801: 2015; Especificaciones detalladas: resistencias fijas de montaje en superficie con cable (SMD) de baja potencia. rectángulo. Clases de estabilidad 0,5; una ; 1º;
• EN 140402: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: resistencias de montaje en superficie (SMD) de alambre enrollado de baja potencia fijas.
• EN 140402: 2015; Especificación detallada en blanco: resistencias fijas de montaje en superficie bobinado (SMD) de baja potencia.
• EN 141101: 1992; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Propiedad de detalle vacía. Tornillo de avance y potenciómetros rotativos preestablecidos.
• EN 143000: 1992; Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos: características generales: termistores de coeficiente de temperatura negativo calentados directamente.
• EN 143001: 1992; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Característica de detalle vacío: termistores de coeficiente de temperatura negativo calentados directamente (vidrio relleno o perlas de esmalte vítreo).
• EN 143002: 1992; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Característica de detalle vacío: termistores de coeficiente de temperatura negativo calentados directamente (cuentas en sobres).
• EN 143003: 1992; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Característica de detalle vacío: termistores de coeficiente de temperatura negativo calentados directamente (tipo de disco).
• EN 143004: 1992; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Característica de detalle vacío: termistores de coeficiente de temperatura negativo calentados directamente (tipo varilla).
• EN 144000: 1994; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características generales: termistores de coeficiente de temperatura positivo calentados directamente, típicamente hechos de materiales ferroeléctricos modificados.
• EN 144001 : 1995 ; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: termistores de coeficiente de temperatura positiva calentados directamente diseñados principalmente para limitación de corriente.
• EN 144002: 1995; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Característica de detalles en blanco: termistores de coeficiente de temperatura positivo calentados directamente diseñados principalmente para el elemento calefactor.
• EN 144003: 1995; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Característica de detalle vacío: termistores de coeficiente de temperatura positivo calentados directamente diseñados principalmente para la corriente de entrada.
• EN 144004: 1995; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: termistores de coeficiente de temperatura positiva calentados directamente diseñados principalmente para la detección de temperatura.
• EN 147000 : 1995 ; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificación general. Zócalos para uso con relés eléctricos de calidad nominal.
• EN 147100 : 1995 ; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características de la sección transversal: enchufes de relé de calidad evaluada.
• EN 147101: 1995; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Característica de detalle vacío: tomas de relé de calidad evaluada.
• EN 150001: 1993; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: diodos semiconductores de uso general.
• EN 150008 : 1993 ; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: diodos rectificadores de grado ambiental.
• EN 150009 : 1993 ; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Característica de detalle vacío: diodos rectificadores de grado estatal.
• EN 150010: 1993; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Característica de detalle nulo: tiristores de grado ambiental.
• EN 150011 : 1993 ; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: tiristores de grado de caja.
• EN 150013 : 1993 ; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad para componentes electrónicos. Característica de detalle vacío: regulador de corriente y diodos de referencia de corriente.
• EN 150014: 1997; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Característica de detalle vacío: diodos de tiristores, supresores de sobretensiones transitorias.
• EN 150015 : 1993 ; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: diodos supresores de sobretensión transitoria unidireccional.
• EN 153000: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificación general: dispositivos semiconductores de potencia de contacto de presión discretos (confirmación de calificación).
• EN 160000: 1993; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características generales: unidades electrónicas modulares.
• EN 160100: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificación transversal: validación de la capacidad de los fabricantes de ensamblajes de cartón impreso de calidad evaluada.
• EN 160101: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: conjunto de placa impresa, unidades electrónicas modulares de calidad evaluada. Confirmación de habilidad.
• EN 160200-1: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Propiedades de la sección. Unidades electrónicas modulares de microondas de calidad evaluada. Procedimiento de aprobación de talentos
• EN 160200-2: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Propiedades de la sección. Unidades electrónicas modulares de microondas de calidad evaluada. Directorio de métodos de prueba
• EN 160201: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Propiedad de detalle vacía. Unidades electrónicas modulares de microondas de calidad evaluada. Confirmación de habilidad.
• EN 165000-1: 1996; Circuitos integrados de película e híbridos. Especificación general. Procedimiento de aprobación de talentos
• EN 165000-2: 1996; Cine y circuitos integrados híbridos. Inspección visual interna y pruebas especiales
• EN 165000-3: 1996; Circuitos integrados de película e híbridos. Lista de verificación e informe de autoauditoría para fabricantes de películas y circuitos integrados híbridos
• EN 165000-4: 1996; Cine y circuitos integrados híbridos. Información del cliente, programas de nivel de evaluación de productos y especificación de detalles en blanco
• EN 165000-5: 1998; Circuitos integrados de película e híbridos. Procedimiento de aprobación de la calificación
• EN 166000: 1996; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificación general. Filtros de ondas acústicas de superficie (SAW).
• EN 166100: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Propiedades de la sección: filtros de ondas acústicas de superficie (SAW).
• EN 166101: 1999; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: filtros de ondas acústicas de superficie (SAW). Confirmación de habilidad.
• EN 167000: 1993; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características generales: filtros piezoeléctricos.
• EN 167100: 1996; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características de la pieza: filtros piezoeléctricos (aprobación de talento).
• EN 167101: 1996; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Característica de detalle vacío: filtros piezoeléctricos (confirmación de capacidad).
• EN 168000: 1996; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Propiedades generales: unidades de cristal de cuarzo.
• EN 168100 : 1995 ; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características de la sección: unidades de cristal de cuarzo (capacidad de confirmación).
• EN 168101: 1997; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Atributo de detalle vacío: unidades de cristal de cuarzo (confirmación de habilidad).
• EN 168201: 1996; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Propiedad de detalle vacía. Unidades de cristal de cuarzo. (Confirmación de calificación).
• EN 169000: 1993; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificación general. Osciladores controlados por cristal de cuarzo.
• EN 169100 : 1993 ; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características de la sección: osciladores controlados por cristal de cuarzo (capacidad de confirmación).
• EN 169101 : 1995 ; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad para componentes electrónicos. Característica de detalle vacío: osciladores controlados por cristal de cuarzo (confirmación de habilidad).
• EN 169200 : 1996 ; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características de la sección transversal: Osciladores controlados por cristal de cuarzo (confirmación de calificación).
• EN 169201 : 1996 ; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Propiedad de detalle vacía. Osciladores controlados por cristal de cuarzo (confirmación de calificación).
• EN 170000 : 1999 ; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Propiedades generales: resonadores dieléctricos de tipo guía de ondas.
• EN 175100 : 1993 ; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Propiedades de la sección. Conectores hembra de dos piezas y canteados para aplicaciones de placas impresas.
• EN 175101-802: 2000; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificaciones detalladas. Conectores de dos piezas para placas impresas para un elevado número de contactos con rejilla básica de 3 mm en 4 o 2,54 filas
• EN 175101-809: 2000; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificaciones detalladas. Especificación detallada: Conectores de dos piezas para tarjetas impresas con rejilla de 2,54 mm, versión corta conforme a CECC 75101-801, con calidad nominal
• EN 175200: 1992; Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos: características de la sección transversal: conectores circulares.
• EN 175200 : 1997 ; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características de la sección: conectores circulares.
• EN 175201-804 : 2000 ; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificaciones detalladas. conectores circulares. Contactos redondos, diámetro 1,6 mm, acoplamiento roscado
• EN 175300 : 1992 ; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características de la sección: Conectores rectangulares para frecuencias inferiores a 3 MHz.
• EN 175300 : 1997 ; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características de la sección: Conectores rectangulares para frecuencias inferiores a 3 MHz.
• EN 175301-801: 2000; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificaciones detalladas. Conectores rectangulares de alta densidad, contactos de crimpado extraíbles redondos
• EN 175301-801: 2006; Especificaciones detalladas. Conectores rectangulares de alta densidad, contactos de crimpado redondos extraíbles.
• EN 175301-803: 2000; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificaciones detalladas. conectores rectangulares. Contactos planos, 0,8 mm de grosor, tornillo de bloqueo no extraíble
• EN 175301-803: 2006; Especificaciones de detalle: conectores rectangulares. Contactos planos, 0,8 mm de espesor, tornillo de bloqueo no extraíble.
• EN 180000: 1996; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Características generales: Atenuadores de fibra óptica.
• EN 180101: 1995; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: atenuadores fijos de fibra óptica.
• EN 181000 : 1995 ; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificación general. Dispositivos de ramificación de fibra óptica.
• EN 181101: 1995; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: dispositivos de ramificación de fibra óptica. Tipo: estrella selectivamente permeable sin longitud de onda.
• EN 181102: 1995; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: dispositivos de ramificación de fibra óptica. Tipo: estrella de transmisión selectiva de longitud de onda.
• EN 181103: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: dispositivos de ramificación de fibra óptica. Tipo: estrella selectivamente permeable sin longitud de onda para aplicaciones de telecomunicaciones.
• EN 181104: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Característica de detalle en blanco: dispositivos de ramificación de fibra óptica. Tipo: estrella permeable selectiva de longitud de onda para aplicaciones de telecomunicaciones.
• EN 186000-1: 1994; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificación general. Juegos de conexión para fibras ópticas y cables. Requisitos, métodos de prueba y procedimientos de aprobación de competencia
• EN 186001 : 1994 ; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad para componentes electrónicos. Propiedad de detalle vacía. Conectores para fibras ópticas y cables. Categoría ambiental I.
• EN 186002: 1994; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad para componentes electrónicos. Propiedad de detalle vacía. Conector para fibras ópticas y cables. Categoría ambiental II.
• EN 186003: 1994; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Propiedad de detalle vacía. Conector para fibras ópticas y cables. Categoría ambiental III.
• EN 186004: 1994; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad para componentes electrónicos. Propiedad de detalle vacía. Conector para fibras ópticas y cables. Categoría ambiental IV.
• EN 186005: 1994; Especificación del sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Propiedad de detalle vacía. Conector para fibras ópticas y cables. Categoría ambiental V.
• EN 186006-1: 1996; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Propiedad de detalle vacía. Conectores para fibras ópticas y cables de uso militar. Categoría ambiental VI
• EN 186100: 1995; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificaciones seccionales: juegos de conectores para fibras ópticas y cables. Tipos F-SMA.
• EN 186110 : 1995 ; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificaciones seccionales: juegos de conectores para fibras ópticas y cables. Tipo FC.
• EN 186130: 1996; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Propiedades de la sección. Juegos de conexión para fibras ópticas y cables. Escriba LSA.
• EN 186150: 1997; Juegos de conexión para fibras ópticas y cables. Escriba OCCA-BU.
• EN 186160: 1997; Juegos de conexión para fibras ópticas y cables. Escriba OCCA-PC.
• EN 186170: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificaciones seccionales: juegos de conectores para fibras ópticas y cables. Tipo RCC.
• EN 186180: 1996; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Propiedades de la sección. Juegos de conexión para fibras ópticas y cables. Escriba LSB.
• EN 186210: 1996; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificaciones seccionales: juegos de conectores para fibras ópticas y cables. Tipo CF08;
• EN 186220: 1996; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificaciones de la sección: Juegos de conexión para fibras ópticas y cables. Escriba LSC.
• EN 186230: 1996; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificaciones seccionales: juegos de conectores para fibras ópticas y cables. Tipo LSF.
• EN 186240: 1996; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificaciones seccionales: juegos de conectores para fibras ópticas y cables. Escriba MT.
• EN 186260: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificaciones seccionales: juegos de conectores para fibras ópticas y cables. Tipo SC.
• EN 186270: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificaciones seccionales: juegos de conectores para fibras ópticas y cables. Tipo LSH.
• EN 186290: 1998; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Juegos de conexión para fibras ópticas y cables. Tipo MPO.
• EN 186300: 1999; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificaciones seccionales: juegos de conectores para fibras ópticas y cables tipo MSC.
• EN 186310: 1999; Sistema de evaluación de calidad compatible para componentes electrónicos. Especificaciones seccionales: juegos de conectores para fibras ópticas y cables. Escriba MF.

Los estándares facilitan el comercio internacional al asegurar la compatibilidad e interoperabilidad de componentes, productos y servicios. Las Normas Europeas (EN) son documentos aprobados por tres Organizaciones Europeas de Normalización (ESO), CEN, CENELEC o ETSI; Reconocido como competente en el campo de la normalización técnica voluntaria para el Reglamento de la UE 1025/2012.