Transmission electron microscope သည် material science အတွက် အလွန်အစွမ်းထက်သော tool တစ်ခုဖြစ်သည်။ စွမ်းအင်မြင့်မားသော အီလက်ထရွန်အလင်းတန်းသည် အလွန်ပါးလွှာသောနမူနာကို ဖြတ်သွားကာ အီလက်ထရွန်နှင့် အက်တမ်များကြား အပြန်အလှန်အကျိုးသက်ရောက်မှုကို ထောက်လှမ်းရန်အတွက် ပုံဆောင်ခဲဖွဲ့စည်းပုံနှင့် ဂုဏ်သတ္တိများဖြစ်သည့် ပုံဆောင်ခဲဖွဲ့စည်းပုံနှင့် ရွေ့လျားမှုများနှင့် ကောက်နှံနယ်နိမိတ်များကဲ့သို့သော ဂုဏ်သတ္တိများကို လေ့လာရန် အသုံးပြုပါသည်။ ဓာတုဗေဒ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းကိုလည်း ဤနည်းလမ်းဖြင့် လုပ်ဆောင်နိုင်သည်။
TEM (ထုတ်လွှင့်အီလက်ထရွန်အဏုကြည့်မှန်ပြောင်း) သည် တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းများတွင် အလွှာကြီးထွားမှု၊ ပါဝင်မှုနှင့် ချို့ယွင်းချက်များကို စစ်ဆေးရန်အသုံးပြုသည့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာ နည်းလမ်းတစ်ခုဖြစ်သည်။ ပစ္စည်းများ၏ အရည်အသွေး၊ ပုံသဏ္ဍာန်၊ အရွယ်အစားနှင့် သိပ်သည်းဆကို ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာရန်အတွက် မြင့်မားသော ရုပ်ထွက်အရည်အသွေးကို အသုံးပြုသည်။
TEM ထုတ်လွှင့်မှု အီလက်ထရွန် အဏုကြည့်မှန်ပြောင်း ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုသည် အလင်းအဏုကြည့်ခြင်းကဲ့သို့ အခြေခံမူများပေါ်တွင် အလုပ်လုပ်သော်လည်း အလင်းအစား အီလက်ထရွန်ကို အသုံးပြုသည်။ အီလက်ထရွန်များ၏ လှိုင်းအလျားသည် အလင်း၏ လှိုင်းအလျားထက် များစွာသေးငယ်သောကြောင့်၊ ဤခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာပုံများအတွက် ရရှိနိုင်သော အကောင်းဆုံး ကြည်လင်ပြတ်သားမှုသည် အလင်းအဏုကြည့်မှန်ဘီလူးထက် ပိုကောင်းသော ပြင်းအားတစ်ခုဖြစ်သည်။ ထို့ကြောင့်၊ ဤခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုနည်းလမ်းသည် အချို့ကိစ္စများတွင် အက်တမ်တစ်ခုချင်းစီကဲ့သို့သေးငယ်သော အတွင်းပိုင်းဖွဲ့စည်းပုံ၏အသေးစိတ်အသေးစိတ်များကို ဖော်ပြနိုင်သည်။
ပုံရိပ်ဖော်ခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်အတွင်း၊ အီလက်ထရွန်သေနတ်မှ အီလက်ထရွန်အလင်းတန်းကို ကွန်ဒင်ဆာမှန်ဘီလူးကို အသုံးပြု၍ သေးငယ်ပါးလွှာပြီး ပေါင်းစပ်ထားသော အလင်းတန်းတစ်ခုအဖြစ် အာရုံစူးစိုက်ထားသည်။ ဤအလင်းတန်းကို ထောင့်မြင့်အီလက်ထရွန်များ မပါဝင်သည့် ကွန်ဒင်ဆာ အလင်းဝင်ပေါက်ဖြင့် ကန့်သတ်ထားသည်။ ထို့နောက် အလင်းတန်းသည် နမူနာအား ထိမှန်ပြီး နမူနာ၏ အထူနှင့် အီလက်ထရွန် ပွင့်လင်းမြင်သာမှုပေါ်မူတည်၍ အပိုင်းအစများကို ထုတ်လွှင့်သည်။ ဤပို့လွှတ်သည့်အပိုင်းကို ရည်ရွယ်ချက်မှန်ဘီလူးဖြင့် phosphor ဖန်သားပြင်ပေါ်ရှိ ပုံတစ်ခု သို့မဟုတ် အားသွင်းချိတ်ဆက်ထားသော ကိရိယာကင်မရာတစ်ခုပေါ်၌ အာရုံစိုက်ထားသည်။ ထောင့်မြင့် diffraction အီလက်ထရွန်များကို ပိတ်ဆို့ခြင်းဖြင့် ခြားနားမှုကို တိုးမြှင့်ရန်အတွက် ရွေးချယ်နိုင်သော မှန်ဘီလူးအပါချာများကို အသုံးပြုပါသည်။ ထို့နောက် ပုံအား အပြည့်အဝ ချဲ့သည်။ ဓါတ်ပုံသည် phosphor ဖန်သားပြင်ကို ထိမှန်ပြီး အလင်းကို ထုတ်လုပ်ပေးကာ အသုံးပြုသူကို ပုံရိပ်ကို မြင်နိုင်စေပါသည်။ ပုံ၏ ပိုနက်သော ဧရိယာများသည် အီလက်ထရွန်နည်းသော နမူနာ၏ ဧရိယာများကို ကိုယ်စားပြုပြီး ပုံ၏ ပေါ့ပါးသော ဧရိယာများသည် အီလက်ထရွန်များ ပိုမိုပေးပို့သည့်နမူနာ၏ ဧရိယာများကို ကိုယ်စားပြုသည်။
စမ်းသပ်နမူနာတစ်ခုသည် စွမ်းအင်ဆုံးရှုံးမှုအနည်းဆုံးဖြင့် ပုံတစ်ပုံဖန်တီးရန် လုံလောက်သော အီလက်ထရွန်များကို ထုတ်လွှင့်ရန် လုံလောက်သောပါးလွှာရပါမည်။ ထို့ကြောင့်၊ နမူနာပြင်ဆင်မှုသည် TEM ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုလုပ်ငန်းစဉ်၏အရေးကြီးသောကဏ္ဍတစ်ခုဖြစ်သည်။
ကျွန်ုပ်တို့၏အဖွဲ့အစည်းသည် ကဏ္ဍအသီးသီးရှိ စီးပွားရေးလုပ်ငန်းများအတွက် ပံ့ပိုးပေးသော စမ်းသပ်မှု၊ တိုင်းတာမှု၊ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုနှင့် အကဲဖြတ်လေ့လာမှုများစွာတို့တွင် လေ့ကျင့်သင်ကြားပြီး ကျွမ်းကျင်ဝန်ထမ်းများနှင့် အဆင့်မြင့်နည်းပညာသုံးပစ္စည်းများဖြင့် TEM ထုတ်လွှင့်မှု အီလက်ထရွန်အဏုခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းဝန်ဆောင်မှုများကို ပေးပါသည်။
ရက်ချိန်းယူရန်၊ အသေးစိတ်အချက်အလက်ရယူရန်သို့မဟုတ်အကဲဖြတ်ရန်တောင်းဆိုရန်ကျွန်ုပ်တို့၏ပုံစံကိုဖြည့်ရန်ကျွန်ုပ်တို့အားသင်တောင်းဆိုနိုင်သည်။
