SMC-S-010 Technické požiadavky na elektronické súčiastky, materiály a procesy používané vo vesmírnych vozidlách

Norma „SMC-S-010 Technické požiadavky na elektronické komponenty, materiály a procesy používané v kozmických lodiach“, ktorú vydalo Centrum pre vesmírne a raketové systémy (SMC) Vesmírneho veliteľstva vzdušných síl USA , opisuje minimálne technické požiadavky na elektronické komponenty, materiály a procesy používané pri návrhu, vývoji a výrobe kozmických lodí. Táto norma obsahuje informácie o implementácii, informácie o návrhu a konštrukcii a ustanovenia o zabezpečení kvality. Všetky elektronické komponenty, materiály a procesy vybrané na použitie v kozmických lodiach musia spĺňať požiadavky uvedené v tomto dokumente, pokiaľ program neschváli inak. Hlavný dodávateľ alebo subdodávatelia môžu tieto požiadavky splniť. Hlavný dodávateľ však nesie zodpovednosť za zabezpečenie splnenia všetkých požiadaviek.

Táto norma obsahuje základné výkonnostné požiadavky na elektronické súčiastky, materiály a procesy a požiadavky na zabezpečenie kvality a spoľahlivosti, ktoré musia byť splnené pri ich obstarávaní. Podrobné požiadavky, špecifické vlastnosti elektronických súčiastok, materiálov a procesov a ďalšie ustanovenia citlivé na konkrétne zamýšľané použitie sú uvedené v špecifikácii zariadenia.

Požiadavky na zabezpečenie kvality uvedené v tomto dokumente sa vzťahujú na všetky elektronické súčiastky, materiály a procesy vyrábané alebo vykonávané na výrobnej linke riadenej systémom riadenia kvality výrobcu. V tejto špecifikácii sú uvedené rôzne úrovne zabezpečenia produktu vrátane zabezpečenia radiačnej odolnosti.

V prípade rozporu medzi textom tejto normy a odkazmi uvedenými v tomto dokumente (okrem špecifikácií zariadení) má prednosť text tejto normy. Nič v tejto norme však nenahrádza platné zákony a predpisy, pokiaľ nie je získaná osobitná výnimka.

Táto norma je určená na použitie pri akvizícii kozmických lodí. Na túto normu sa musí odkázať vo vyhlásení o obchodnej zmluve a môže ju upraviť nákupná činnosť pre konkrétnu aplikáciu alebo program.

Implementácia požiadaviek tejto normy a jej zmien alebo úprav sa vykonáva v súlade s dokumentom „TOR-2006(8583)-5235 Program riadenia súčiastok, materiálov a procesov pre vesmírne vozidlá“, ustanoveniami a právomocami riadenia elektronických súčiastok, materiálov a procesov a požiadavkami programu.

Požiadavky na aplikáciu v tejto norme sú špecifikované takto:

• Elektrické hodnotenie. Obvody musia byť navrhnuté a schválené s dielmi dimenzovanými podľa tu uvedeného návodu alebo aspoň s ekvivalentným plánom hodnotenia, ktorý bude technicky zdôvodnený analýzou namáhania dielov a analýzou najhoršieho prípadu a musí podporovať požadovaný pracovný cyklus. Stupeň elektrického namáhania (napríklad napätie, prúd alebo výkon) závisí od teploty. Všeobecný vzťah medzi elektrickým napätím a teplotou je znázornený na obrázku uvedenom v norme. Schválené prevádzkové podmienky letu sa nachádzajú v oblasti pod nominálnou obmedzujúcou čiarou. Limity najhoršieho prípadu platia aj pre letové podmienky.
• Koniec života. Obvody by mali byť navrhnuté tak, aby sa požadovaný funkčný výkon na úrovni komponentov zachoval, aj keď sa hodnoty výkonu použitých komponentov zmenia v rámci limitov životnosti stanovených programom.
• Citlivosť na starnutie. Elektronické, optické a mechanické súčiastky a materiály sú náchylné na starnutie, pričom dochádza k postupnému skracovaniu ich životnosti alebo k postupnému zhoršovaniu ich výkonnostných parametrov. Medzi mechanizmy starnutia patria:
  • Strata hermetickosti
  • Relaxácia od stresu
  • Oxidácia a korózia
  • Uvoľňovanie plynu
  • Tečenie a dotvarovanie za studena
  • Molekulárne zosieťovanie
  • Strata priľnavosti
  • Krehkosť (vrátane tepelnej) a kalenie
  • Strata krútiaceho momentu
  • Strata napätia pružiny
  • Absorpcia vlhkosti
  • Účinky žiarenia

Pri návrhu, výbere a použití dielov a materiálov sa musí zohľadniť citlivosť na starnutie. Okrem toho by citlivosť na starnutie mala byť zahrnutá do povinných plánov pre trvanlivosť a kontrolu starnutia. Tieto plány by mali zahŕňať minimálne požiadavky na zabezpečenie trvanlivosti pri obstarávaní dielov a materiálov a akékoľvek požadované opätovné overenie alebo opätovné testovanie dielov a materiálov po uplynutí trvanlivosti. Všetky diely a materiály musia spĺňať požiadavky normy TOR 2006(8583)-5235 pre kontrolu trvanlivosti.

• Zapečatené balíky. Pre použitie v kozmických lodiach sa uprednostňujú hermeticky uzavreté časti. Ak sa zvolia nehermeticky uzavreté diely, použité procesy montáže a čistenia počas procesu nesmú diely poškodiť a následné odplyňovanie, sublimácia, prenikanie vlhkosti alebo absorpcia vlhkosti nesmú poškodiť diel a jeho dlhodobý výkon alebo systém.
• Registrované (pochybné) elektronické súčiastky, materiály a procesy a zakázané elektronické súčiastky, materiály a procesy. Podrobné časti tejto normy identifikujú známe registrované elektronické súčiastky, materiály a procesy a zakázané elektronické súčiastky, materiály a procesy vrátane aplikácií a obmedzení dodávok.
• Manipulácia. Ochrana pred elektrostatickým poškodením zariadení citlivých na elektrostatický výboj je zabezpečená v súlade s touto normou.
• Značenie. Označenie musí byť v súlade s platnými vojenskými špecifikáciami.
• Požiadavky na odplyňovanie. Ak to vyžaduje plán kontroly kontaminácie, všetky polymérne a organické materiály by sa mali testovať na uvoľňovanie plynov v súlade s normou ASTM-E-595 a výsledky by sa mali zdokumentovať v schválenom zozname konštrukčných a stavebných materiálov. Ako pomôcka by materiály nemali vykazovať celkovú stratu hmotnosti viac ako 1,0 percenta a obsah zachytených prchavých kondenzovateľných látok by nemal presiahnuť 0,1 percenta. Údaje uvedené v referenčnej publikácii NASA 1124 alebo na webovej stránke NASA v časti „Údaje o odplyňovaní na výber materiálov pre kozmické lode online“ sa môžu použiť pre príslušné materiály namiesto skutočného testovania. Údaje o odplyňovaní musia zodpovedať použitému cyklu stavu/vytvrdzovania.
• Alternatívny plán skúšok/odberu vzoriek pre audit zhody kvality. Alternatívny plán skúšok/odberu vzoriek pre homogénne dávky definované príslušnou normou MIL pre mikroobvody, diskrétne diódy a tranzistory musí byť v súlade s prílohou k tejto norme (príloha C).

Naša organizácia, ktorá sa už roky snaží podporovať podniky zo všetkých sektorov širokou škálou testovacích, meracích, analytických a hodnotiacich štúdií, má silný personál, ktorý pozorne sleduje svetový vývoj v oblasti vedy a techniky a neustále sa zlepšuje. V tejto súvislosti sa podnikom poskytujú aj testovacie služby v súlade s normou „SMC-S-010 Technické požiadavky na elektronické súčiastky, materiály a procesy používané vo vesmírnych vozidlách“.