MIL-STD-883F 國防部測試方法標準：微電路、測試標準

MIL-STD-883F 是美國軍事防禦標準，提供基本環境測試、機械和電氣測試、勞動和培訓程序，以確定對軍事和太空行動周圍自然元素和條件的有害影響的抵抗力，並且是唯一描述了為確保這種質量和可靠性水平所必需的任何其他控制和限制。

就本標準而言，術語設備包括單片、多芯片、薄膜和混合微電路、微電路陣列以及構建電路和陣列的元件等項目。 本標準僅適用於微電子設備。

本標準中描述的測試方法、控制和程序的主要目的是服務於：

• 確定在實驗室和設備級別可以獲得的適當條件，從而給出與現場可用的實際使用條件相似的測試結果，並獲得測試結果的再現性。 這裡描述的測試是它不應被解釋為任何地理或外層空間位置實際服務操作的準確表示，因為眾所周知，在給定應用和位置的操作的唯一實際測試是在相同條件下的真實服務測試。
• 在單一標準中描述目前出現在各種聯合服務和 NASA 微電子設備標準中的所有具有相似特徵的測試方法。 因此，這些方法保持統一，從而保護設備、工作時間和測試設施。 為了實現這一目標，每個通用測試都需要適用於各種設備。
• 確保物理、電氣和環境測試、製造控制以及工藝和材料的一致性水平，以確保根據此標準掃描的所有設備的質量和可靠性一致。

根據該標准進行的測試分為四類：

• 環境測試
• 機械測試
• 電氣測試
• 測試程序

在為各行各業的企業提供的眾多測試、測量、分析和評估研究中，我們的組織還提供MIL-STD-883F標準範圍內的軍用微電路測試服務，擁有訓練有素的專家員工和先進的技術設備.