Ujian Suhu Rendah (Ketenteraan dan Produk Perindustrian)

Ujian suhu rendah dilakukan untuk menilai lenturan suhu rendah bahan, kerapuhan, mampatan, penarikan balik, kekakuan kilasan, dan modulus Young pada suhu rendah. Kebanyakan ujian ini dilakukan pada suhu tolak 40 darjah Celsius atau lebih rendah, bergantung pada spesifikasi. Ujian khusus, ujian penarikan balik suhu rendah, membolehkan pengukuran cepat kesan penghabluran bahan.

Piawaian antarabangsa utama berdasarkan ujian suhu rendah ialah:

• ASTM D2137-11 Kaedah ujian standard untuk sifat getah - Titik kerapuhan polimer fleksibel dan fabrik bersalut. Kaedah ujian ini Ia meliputi penentuan suhu terendah di mana fabrik tervulkan getah dan bersalut getah tidak akan menunjukkan keretakan pecah atau salutan apabila tertakluk kepada keadaan hentaman tertentu.
• ASTM D746-20 Kaedah ujian standard untuk suhu rapuh plastik dan elastomer pada hentaman. Kaedah ujian ini melibatkan penentuan suhu di mana plastik dan elastomer menunjukkan kemerosotan rapuh di bawah keadaan hentaman yang ditetapkan. Ia juga menawarkan dua pemeriksaan rutin dan prosedur kemasukan.
• ASTM D1229-03 Kaedah ujian standard untuk harta getah - Set mampatan pada suhu rendah. Kaedah ujian ini melibatkan penilaian keupayaan getah tervulkan, yang dimampatkan pada suhu bilik dan kemudian terdedah kepada suhu rendah (udara atau atmosfera karbon dioksida), untuk pulih daripada ubah bentuk apabila dikeluarkan daripada peranti pengapit semasa masih pada suhu rendah.
• ISO 812 Getah, tervulkan atau termoplastik - Penentuan kerapuhan suhu rendah. Piawaian ini mentakrifkan kaedah ujian untuk menentukan suhu terendah di mana bahan getah tidak menunjukkan kemerosotan rapuh, atau suhu di mana, dalam keadaan tertentu, separuh daripada kepingan ujian yang digunakan dalam ujian gagal apabila hentaman.
• Kaedah ujian standard ASTM D380-94 untuk hos getah. Kaedah ujian ini meliputi prosedur untuk pemeriksaan dan ujian hos getah bagi semua jenis dan struktur. Sekiranya berlaku percanggahan antara merit kaedah ujian ini dan merit spesifikasi terperinci atau kaedah ujian untuk hos tertentu, yang kedua diutamakan.
• ASTM D1329-16 Kaedah ujian standard untuk menilai sifat getah - Penarikan balik pada suhu rendah (ujian TR). Kaedah ujian ini termasuk prosedur pengeluaran suhu untuk penilaian pantas kesan penghabluran dan perbandingan sifat viskoelastik getah dan bahan seperti getah pada suhu rendah. Kaedah ujian ini berguna apabila digunakan bersama dengan ujian suhu rendah yang lain dalam memilih bahan yang sesuai untuk perkhidmatan suhu rendah.
• ASTM D2240-00 Kaedah ujian standard untuk sifat getah - Kekerasan durometer. Kaedah ujian ini mengenal pasti lapan jenis penguji kekerasan getah yang dikenali sebagai durometer: jenis A, B, C, D, DO, O, OO dan M. Prosedur untuk menentukan kekerasan lekukan bahan yang dikelaskan sebagai elastomer termoplastik, getah tervulkan (termoset), bahan elastomer, bahan selular dan beberapa plastik juga diterangkan. Kaedah ujian ini tidak boleh digunakan untuk menguji fabrik bersalut.
• ASTM D1053-92a Kaedah ujian standard untuk sifat getah - Pengawetan suhu rendah: polimer fleksibel dan fabrik bersalut. Kaedah ujian ini menerangkan penggunaan radas kilasan untuk mengukur pengawetan suhu yang agak rendah bagi bahan polimer fleksibel dan fabrik yang disalut dengannya. Prosedur pemeriksaan dan penerimaan rutin untuk digunakan sebagai ujian lulus-gagal pada suhu tertentu juga diterangkan. Kaedah ujian ini menyediakan data perbandingan untuk menilai prestasi suhu rendah polimer fleksibel dan fabrik yang disalut dengannya.

Peralatan ketenteraan diuji mengikut Kaedah MIL-STD-810G 502.5, piawaian pertahanan ketenteraan Amerika Syarikat. Piawaian ini menyediakan kaedah ujian yang dibangunkan untuk menilai kesan keadaan suhu rendah terhadap keselamatan, integriti dan prestasi bahan. Bahan atau peralatan yang mesti digunakan dalam persekitaran suhu rendah sepanjang hayatnya, seperti komputer dan skrin LCD yang akan digunakan di kawasan suhu rendah, dinilai mengikut kaedah ujian ini. Masalah yang paling biasa termasuk: kegagalan sistem but untuk dimuatkan, pengerasan bahagian pemasangan, kegagalan pemacu, kegagalan pemacu, perubahan dalam sifat elektrik komponen elektronik, kegagalan sambungan dalam litar bersepadu, keretakan akibat pengembangan pembezaan, keretakan salutan permukaan dan kerosakan skrin LCD akibat bahan kristal cecair yang bertakung atau beku.

Antara pelbagai ujian, pengukuran, analisis dan penilaian yang disediakan oleh organisasi kami untuk perniagaan dalam pelbagai sektor, kami juga menawarkan perkhidmatan ujian suhu rendah untuk produk ketenteraan dan perindustrian, hasil daripada kakitangan terlatih dan pakar serta peralatan teknologi canggih kami .