စံသတ်မှတ်ချက် "DIN 51399-2 ချောဆီစမ်းသပ်ခြင်း- ဖြည့်စွက်ပစ္စည်းများ၊ ဝတ်ဆင်မှုနှင့် အခြားညစ်ညမ်းပစ္စည်းများတွင် ဒြပ်စင်ပါဝင်မှုကို စစ်ဆေးခြင်း- အပိုင်း 2- လှိုင်းအလျား-ပျံ့လွင့်သော X-ray fluorescence spectrometry (XRF)"" သည် German Institute for Standardization (DIN) မှ တီထွင်ထုတ်လုပ်ထားသော နိုင်ငံခြားမှ ဆီပါဝင်မှု သို့မဟုတ် ဒြပ်စင်များပါဝင်မှုအား ဆုံးဖြတ်ခြင်းအတွက် စမ်းသပ်နည်းလမ်းကို ဖော်ပြထားပါသည်။ ဤစစ်ဆေးမှုများတွင် Wavelength-dispersive X-ray fluorescence spectrometry (XRF) ကို အသုံးပြုသည်။
Wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometry (WDXRF) သည် ဖျက်ဆီးခြင်းမရှိသော နည်းပညာတစ်ခုဖြစ်သည်။ ၎င်းသည် နမူနာများ၏ inorganic အစိတ်အပိုင်းများကို ဆုံးဖြတ်ရာတွင် လူသိများသည်။ သို့သော်၊ ၎င်းသည် အော်ဂဲနစ်အစိတ်အပိုင်းများနှင့် ၎င်းတို့၏ အပြန်အလှန် ဆက်သွယ်မှုအကြောင်း အချက်အလက်များကို ပေးနိုင်သော်လည်း၊ X-ray scattering region spectral data ကို ကျယ်ကျယ်ပြန့်ပြန့် အသုံးမပြုကြပါ။ Wavelength dispersive X-ray fluorescence သည် ဒြပ်စင်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှု အသုံးချမှုများအတွက် အသုံးပြုသည့် အထွေထွေ X-ray fluorescence ကိရိယာနှစ်ခုအနက် တစ်ခုဖြစ်သည်။ wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometers များတွင်၊ နမူနာရှိ ဒြပ်စင်အားလုံးကို တစ်ပြိုင်နက်တည်း လှုံ့ဆော်ပေးပါသည်။
နမူနာမှ ထုတ်လွှတ်သော ဓါတ်ရောင်ခြည်၏ ကွဲပြားသော စွမ်းအင်များကို ပုံဆောင်ခဲ သို့မဟုတ် မိုနိုခရိုမတာ (monochromator) ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းဖြင့် မတူညီသော လမ်းကြောင်းများသို့ ကွဲပြားသွားသည် (ကွဲပြားသော အရောင်များ၏ မြင်နိုင်သော အလင်းရောင်ကို မတူညီသော လမ်းကြောင်းများသို့ ဖြန့်ကျက်ပေးသည့် ပရစ်ဇမ်၏ အကျိုးသက်ရောက်မှုနှင့် ဆင်တူသည်)။ ထောက်လှမ်းကိရိယာကို တိကျသောထောင့်တစ်ခုတွင်ထားခြင်းဖြင့်၊ တိကျသောလှိုင်းအလျားတစ်ခု၏ X-rays ၏ပြင်းထန်မှုကို တိုင်းတာနိုင်သည်။ ဆက်တိုက် ရောင်စဉ် မီတာများသည် မတူညီသော လှိုင်းအလျားများစွာ၏ ပြင်းထန်မှုကို တိုင်းတာရန် ထောင့်အကွာအဝေးမှတဆင့် goniometer ပေါ်တွင် ရွေ့လျားသည့် detector ကို အသုံးပြုသည်။ တစ်ပြိုင်နက်တည်း spectrometers များသည် သတ်မှတ်ထားသော ထောက်လှမ်းမှုစနစ်များ ဆက်တိုက်တပ်ဆင်ထားပြီး၊ စနစ်တစ်ခုစီသည် သီးခြားဒြပ်စင်တစ်ခု၏ ဓာတ်ရောင်ခြည်ကို တိုင်းတာသည်။ လှိုင်းအလျား-ပျံ့လွင့်သော X-ray fluorescence စနစ်များ၏ အဓိကအားသာချက်များမှာ ကြည်လင်ပြတ်သားမှု မြင့်မားပြီး ရောင်စဉ်တန်းထပ်ခြင်း အနည်းဆုံးဖြစ်သည်။
X-ray optics ကို wavelength dispersive X-ray fluorescence instrumentation ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်စေရန်အတွက် အသုံးပြုနိုင်သည်။ သမားရိုးကျ XRF ကိရိယာအတွက်၊ နမူနာမျက်နှာပြင်ရှိ ပုံမှန်ဆုံမှတ်အရွယ်အစားများသည် အချင်းရာဂဏန်းမှ မီလီမီတာအနည်းငယ်အထိ ကွာဟသည်။
Wavelength dispersive spectroscopy သည် diffraction ၏နိယာမပေါ်တွင်အလုပ်လုပ်သည်။ နမူနာမှထုတ်လွှတ်သော X-rays များသည် wavelength dispersive spectroscopy သို့ဝင်ရောက်သောအခါ၊ အချို့သော crystal lattic parameters များဖြင့် crystal ကို ထိမှန်ပါသည်။ ၎င်းသည် X-rays များကို diffraction (ကွေး) ဖြစ်စေပြီး X-rays ကွေးသွားသည့်ပမာဏသည် ၎င်းတို့၏ စွမ်းအင်အပေါ် မူတည်ပါသည်။
Wavelength dispersive spectroscopy သည် ပစ္စည်းများ၏ ဓာတ်မှန်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုကို လုပ်ဆောင်ရန်အတွက် ၎င်းတို့၏ ဒြပ်စင်ပါဝင်မှုကို ဆုံးဖြတ်ရန်အတွက် စွမ်းအင်ပြန့်ပွားသော spectroscopy ၏ ဖြည့်စွက်နည်းပညာတစ်ခုဖြစ်သည်။ မြင့်မားသောနောက်ခံအဆင့်များနှင့် စွမ်းအင်ပြတ်သားမှုအတော်လေးညံ့ဖျင်းခြင်းကဲ့သို့သော စွမ်းအင်ကွဲပြားသော spectroscopy ဖြင့် ဒြပ်စင်ဆိုင်ရာ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုတွင် ချို့ယွင်းချက်များစွာရှိသည်။ ၎င်းသည် အားနည်းသော ထောက်လှမ်းမှု ကန့်သတ်ချက်များကို ဖြစ်ပေါ်စေပြီး အလားတူ စွမ်းအင်၏ အထွတ်အထိပ်ရှိ ဒြပ်စင်များကို ခွဲထုတ်နိုင်စွမ်း မရှိပါ။ Wavelength dispersive spectroscopy သည် ဤကန့်သတ်ချက်များကို ကျော်လွှားသည်။ ၎င်းတွင် ပိုမိုမြင့်မားသော စွမ်းအင်ကြည်လင်ပြတ်သားမှု၊ ထို့ကြောင့် အနီးကပ်နေရာယူထားသော တောင်ထွတ်များကို အလွယ်တကူ ခွဲထုတ်နိုင်ပြီး နောက်ခံအဆင့်များကို ပိုမိုသန့်ရှင်းစေရန်၊ ထို့ကြောင့် လှိုင်းအလျား dispersive spectroscopy တစ်ခုတည်းထက် ထောက်လှမ်းမှုကန့်သတ်ချက်များကို လွန်စွာတိုးတက်စေပါသည်။ ၎င်းသည် ဒြပ်စင်အရေအတွက်နှင့် ခွဲခြားသတ်မှတ်ခြင်းကို တိုးတက်စေသည်။
Wavelength dispersive spectroscopy သည် အက်တမ်နံပါတ်နိမ့်ဒြပ်စင်များအတွက် အာရုံခံနိုင်စွမ်းပိုမြင့်မားပြီး အောက်ဒြပ်စင်များကို ပိုမိုသိရှိနိုင်စေပါသည်။ ရလဒ်အနေဖြင့်၊ ၎င်းသည် ပေးထားသောခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုတွင် တွေ့ရှိရသည့် ဒြပ်စင်များကို ခွဲခြားသတ်မှတ်ခြင်းအပေါ် များစွာယုံကြည်မှုပေးပါသည်။
ကျွန်ုပ်တို့၏အဖွဲ့အစည်းသည် ကမ္ဘာပေါ်ရှိ သိပ္ပံနှင့်နည်းပညာနယ်ပယ်တွင် တိုးတက်မှုများကို အနီးကပ်လိုက်နာပြီး သူ့ကိုယ်သူ အမြဲတိုးတက်ကောင်းမွန်အောင် လုပ်ဆောင်ပေးသော ခိုင်မာသောဝန်ထမ်းများရှိသည်။ ကဏ္ဍအသီးသီးရှိ ကုမ္ပဏီများအတွက် ပံ့ပိုးပေးသော စမ်းသပ်ခြင်း၊ တိုင်းတာခြင်း၊ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းနှင့် အကဲဖြတ်ခြင်း လုပ်ငန်းအများအပြားတွင် “DIN 51399-2 စံသတ်မှတ်ချက်အရ ချောဆီစမ်းသပ်ခြင်း - ဖြည့်စွက်ပစ္စည်းများ၊ ဝတ်ဆင်ခြင်းနှင့် အခြားညစ်ညမ်းစေသောအရာများတွင် ဒြပ်စင်ပါဝင်မှုကို ဆုံးဖြတ်ခြင်း - အပိုင်း 2- လှိုင်းအလျား-ပျံ့လွင့်မှုဓာတ်မှန်ရိုက်ခြင်း” (RF)။
ရက်ချိန်းယူရန်၊ အသေးစိတ်အချက်အလက်ရယူရန်သို့မဟုတ်အကဲဖြတ်ရန်တောင်းဆိုရန်ကျွန်ုပ်တို့၏ပုံစံကိုဖြည့်ရန်ကျွန်ုပ်တို့အားသင်တောင်းဆိုနိုင်သည်။
