Transmissionselektronmikroskopet är ett mycket kraftfullt verktyg för materialvetenskap. En högenergielektronstråle passerar genom ett mycket tunt prov och interaktionerna mellan elektroner och atomer används för att observera egenskaper som kristallstruktur och egenskaper som dislokationer och korngränser i strukturen. Kemiska analyser kan också göras med denna metod.
TEM (transmissionselektronmikroskopi) är en analytisk metod som används för att undersöka lagertillväxt, sammansättning och defekter i halvledare. Hög upplösning används för att analysera materials kvalitet, form, storlek och densitet.
TEM-transmissionselektronmikroskopi-analys fungerar enligt samma grundläggande principer som ljusmikroskopi, men använder elektroner istället för ljus. Eftersom våglängden för elektroner är mycket mindre än ljusets våglängd, är den optimala upplösningen som uppnås för dessa analysbilder en storleksordning bättre än den för ett ljusmikroskop. Således kan denna analysmetod avslöja de minsta detaljerna i den inre strukturen, i vissa fall så små som enskilda atomer.
Under avbildningsprocessen fokuseras elektronstrålen från elektronkanonen till en liten, tunn, koherent stråle med hjälp av en kondensorlins. Denna stråle begränsas av kondensoröppningen, som utesluter högvinklade elektroner. Strålen träffar sedan provet och överför fragment beroende på provets tjocklek och elektrontransparens. Denna sända del fokuseras av objektivlinsen på en bild på en fosforskärm eller en laddningsansluten enhetskamera. Valfria linsöppningar används för att öka kontrasten genom att blockera högvinklade diffraktionselektroner. Bilden är då helt förstorad. Bilden träffar fosforskärmen och ljus produceras, vilket gör att användaren kan se bilden. Mörkare områden av bilden representerar områden av provet där färre elektroner överförs, medan ljusare områden av bilden representerar områden av provet där fler elektroner sänds.
Ett testprov måste vara tillräckligt tunt för att sända tillräckligt med elektroner för att bilda en bild med minimal energiförlust. Därför är provberedning en viktig aspekt av TEM-analysprocessen.
Vår organisation tillhandahåller också TEM-transmissionselektronmikroskopanalystjänster med sin utbildade och sakkunniga personal och avancerad teknisk utrustning, bland de många test-, mätnings-, analys- och utvärderingsstudier som den tillhandahåller för företag inom olika sektorer.
Du kan be oss fylla i vårt formulär för att få en tid, för att få mer detaljerad information eller för att begära en utvärdering.
