Analýza transmisnou elektrónovou mikroskopiou TEM

Analýza transmisnou elektrónovou mikroskopiou TEM

Transmisná elektrónová mikroskopia je veľmi účinný nástroj pre materiálovú vedu. Vysokoenergetický lúč elektrónov prechádza veľmi tenkou vzorkou a interakcie medzi elektrónmi a atómami sa používajú na pozorovanie vlastností, ako je kryštalická štruktúra, a prvkov, ako sú dislokácie a hranice zŕn v rámci štruktúry. Touto metódou je možné vykonávať aj chemické analýzy.

Analýza transmisnou elektrónovou mikroskopiou TEM

TEM (transmisná elektrónová mikroskopia) je analytická metóda používaná na skúmanie rastu vrstiev, zloženia a defektov v polovodičoch. Vysoké rozlíšenie sa používa na analýzu kvality, tvaru, veľkosti a hustoty materiálov.

Analýza TEM (transmisná elektrónová mikroskopia) funguje na rovnakých základných princípoch ako svetelná mikroskopia, ale namiesto svetla používa elektróny. Keďže vlnová dĺžka elektrónov je oveľa menšia ako vlnová dĺžka svetla, optimálne rozlíšenie získané pre tieto analytické snímky je rádovo lepšie ako rozlíšenie svetelného mikroskopu. Táto analytická metóda teda dokáže odhaliť najjemnejšie detaily vnútornej štruktúry, v niektorých prípadoch detaily malé ako jednotlivé atómy.

Počas zobrazovacieho procesu sa elektrónový lúč z elektrónovej pištole zaostruje do malého, tenkého, koherentného lúča pomocou kondenzorovej šošovky. Tento lúč je obmedzený kondenzorovou clonou, ktorá vylučuje elektróny pod vysokým uhlom. Lúč potom dopadá na vzorku a prepúšťa častice v závislosti od hrúbky vzorky a priehľadnosti elektrónov. Táto prepustená časť je zaostrená objektívom na obraz na fosforovej obrazovke alebo kamere s nábojovo viazaným zariadením. Voliteľné clony objektívov sa používajú na zvýšenie kontrastu blokovaním difrakčných elektrónov pod vysokým uhlom. Obraz sa potom úplne zväčší. Obraz dopadá na fosforovú obrazovku a vytvára svetlo, ktoré umožňuje používateľovi vidieť obraz. Tmavšie oblasti obrazu predstavujú oblasti vzorky, kde prechádza menej elektrónov, zatiaľ čo svetlejšie oblasti predstavujú oblasti, kde prechádza viac elektrónov.

Testovaná vzorka musí byť dostatočne tenká, aby prepúšťala dostatok elektrónov na vytvorenie obrazu s minimálnou stratou energie. Preto je príprava vzorky kľúčovým aspektom procesu TEM analýzy.

Medzi početnými testami, meraniami, analýzami a hodnoteniami, ktoré naša organizácia poskytuje podnikom v rôznych odvetviach, ponúkame aj analytické služby TEM (transmisná elektrónová mikroskopia) s naším vyškoleným a odborným personálom a moderným technologickým vybavením.

WhatsApp