Трансмисионният електронен микроскоп е много мощен инструмент за материалознанието. Високоенергиен електронен лъч преминава през много тънка проба и взаимодействията между електрони и атоми се използват за наблюдение на свойства като кристална структура и свойства като дислокации и граници на зърната в структурата. С този метод могат да се правят и химични анализи.
ТЕМ (трансмисионна електронна микроскопия) е аналитичен метод, използван за изследване на растежа, състава и дефектите на слоевете в полупроводниците. Високата резолюция се използва за анализ на качеството, формата, размера и плътността на материалите.
Трансмисионният електронен микроскопски анализ на TEM работи на същите основни принципи като светлинната микроскопия, но използва електрони вместо светлина. Тъй като дължината на вълната на електроните е много по-малка от дължината на вълната на светлината, оптималната разделителна способност, постигната за тези анализирани изображения, е с порядък по-добра от тази на светлинен микроскоп. По този начин този метод на анализ може да разкрие най-малките детайли от вътрешната структура, в някои случаи толкова малки, колкото отделни атоми.
По време на процеса на изобразяване, електронният лъч от електронния пистолет се фокусира в малък, тънък, кохерентен лъч с помощта на кондензаторна леща. Този лъч е ограничен от апертурата на кондензатора, която изключва електрони с голям ъгъл. След това лъчът удря пробата и предава фрагменти в зависимост от дебелината и електронната прозрачност на пробата. Тази предавана част се фокусира от лещата на обектива върху изображение на фосфорен екран или камера на устройство, свързано със заряд. Опционалните отвори на лещите се използват за увеличаване на контраста чрез блокиране на дифракционни електрони под голям ъгъл. След това изображението се увеличава напълно. Изображението удря фосфорния екран и се произвежда светлина, позволяваща на потребителя да види изображението. По-тъмните области на изображението представляват области на пробата, където се предават по-малко електрони, докато по-светлите области на изображението представляват области на пробата, където се предават повече електрони.
Тестовата проба трябва да бъде достатъчно тънка, за да предаде достатъчно електрони за формиране на изображение с минимална загуба на енергия. Следователно подготовката на пробата е важен аспект от процеса на анализ на ТЕМ.
Нашата организация също така предоставя услуги за анализ с трансмисионен електронен микроскоп TEM със своя обучен и експертен персонал и усъвършенствано технологично оборудване, сред многобройните изследвания за изпитване, измерване, анализ и оценка, които предоставя за бизнеса в различни сектори.
Можете да ни помолите да попълним формуляра, за да получим среща, да получим по-подробна информация или да поискаме оценка.
