Kaedah Ujian Standard ASTM D2136-19e1 untuk Fabrik Bersalut - Ujian Bengkok Suhu Rendah

Fabrik yang disalut dengan getah atau bahan seperti getah menunjukkan peningkatan kekakuan apabila terdedah kepada penurunan suhu persekitaran. Piawaian "ASTM D2136-19e1 Kaedah ujian standard untuk fabrik bersalut - Ujian lenturan suhu rendah" yang dibangunkan oleh Persatuan Pengujian dan Bahan Amerika (ASTM) menerangkan kaedah ujian lulus/gagal mudah yang mana kelenturan bahan pada suhu rendah yang ditentukan boleh ditentukan. Kegagalan adalah petunjuk bahawa fabrik bersalut tidak boleh diterima untuk digunakan pada suhu tersebut.

Semasa ujian, sampel yang dipotong daripada fabrik bersalut dikondisikan pada suhu rendah terpilih untuk tempoh masa tertentu. Semasa kekal terdedah pada suhu ini, ia kemudian diletakkan secara individu dalam radas lentur dan dibengkokkan ke sudut tertentu. Kegagalan fabrik bersalut ditunjukkan oleh patah sampel atau rupa rekahan permukaan dalam salutan.

Kaedah ujian ini menilai keupayaan fabrik bersalut untuk menahan lenturan yang ditetapkan pada suhu rendah yang ditetapkan. Fabrik yang disalut dengan bahan polimer digunakan dalam banyak aplikasi yang memerlukan regangan suhu rendah. Data yang diperoleh menggunakan kaedah ujian ini hanya boleh digunakan untuk menentukan tingkah laku dalam perkhidmatan dalam aplikasi yang keadaan ubah bentuk adalah serupa dengan yang dinyatakan dalam kaedah ujian ini. Kaedah ujian ini didapati berguna untuk tujuan spesifikasi tetapi tidak semestinya menunjukkan suhu terendah di mana bahan boleh digunakan.

Peralatan utama yang digunakan dalam ujian ini ialah:

• Ruang suhu rendah: Ruang di mana spesimen ujian terdedah kepada suhu rendah hendaklah cukup besar untuk mengandungi lekapan lentur yang digunakan untuk menguji spesimen dan membenarkan lekapan membengkokkan spesimen tanpa mengeluarkannya dari ruang. Bilik itu juga mesti mempunyai ruang kerja yang mencukupi untuk membenarkan penyaman spesimen ujian mengikut kaedah ujian ini. Ia mesti dapat mengekalkan suasana seragam udara kering sejuk atau mana-mana gas yang sesuai dalam toleransi tambah/tolak 1 darjah pada suhu yang ditetapkan.
• Radas lentur: Keperluan asas radas yang digunakan untuk membengkokkan sampel ujian ditunjukkan dalam angka yang diberikan dalam piawai. Dimensi dan jisim mesti mematuhi angka ini. Lekapan mesti dipasang pada tapak mendatar dengan jisim dan dimensi yang mencukupi untuk mengelakkan lekapan daripada bergerak atau terbalik semasa operasi.
• Plat kaca: Bilangan plat kaca yang mencukupi berukuran kira-kira 125 mm x 175 mm hendaklah digunakan semasa mengkondisikan semua spesimen ujian. Semua sampel ujian hendaklah diletakkan di antara plat kaca sepanjang tempoh pendedahan untuk mengelakkan lencong atau meleding. Ketebalan plat kaca hendaklah cukup besar untuk memudahkan pengendalian.
• Sarung tangan: Lapisan sarung tangan diperlukan untuk mengendalikan sampel ujian dalam ruang suhu rendah.
• Pelinciran: Jika perlu, gris suhu rendah yang sesuai hendaklah digunakan pada pelepas pencetus dan pin engsel jig lentur untuk mengelakkan pengerasan semasa tempoh penyaman udara.

Sampel ujian hendaklah diambil dari hujung gulungan pada kekerapan yang dipersetujui antara pembeli dan pembekal. Sampel ujian hendaklah 25 mm tambah/tolak 1 mm lebar dan 100 mm tambah/tolak 2 mm panjang. Melainkan dinyatakan sebaliknya, dimensi yang lebih panjang dipotong selari dengan arah membujur (mesin) fabrik bersalut. Sekurang-kurangnya tiga sampel dipotong daripada setiap sampel yang diuji.

Spesimen ujian hendaklah dikondisikan sebelum ujian mengikut keadaan standard yang diterangkan dalam ASTM D751. Sampel ujian diletakkan di antara plat kaca dengan ruang yang cukup untuk membolehkan udara sejuk melalui semasa tempoh pendedahan. Plat kaca yang memegang sampel, radas lentur dan sarung tangan diletakkan di dalam ruang suhu rendah. Melainkan dinyatakan sebaliknya, ia terdedah kepada udara sejuk, kering atau mana-mana gas yang sesuai selama 4 jam pada suhu yang ditetapkan.

Pada penghujung tempoh pendedahan dan masih dalam ruang ujian, sampel dikeluarkan satu demi satu dari antara plat kaca (sarung tangan hendaklah sentiasa dipakai semasa mengendalikan sampel sebelum melakukan ujian lenturan) dan diletakkan di dalam radas lentur dengan plat lentur dipegang dalam kedudukan terbuka oleh pin pencetus. Bahagian hadapan hendaklah berorientasikan jauh dari mandrel melainkan dinyatakan sebaliknya.

Apabila mengakses sampel dan lekapan ujian, bukaan akses ke ruang hendaklah disimpan sekecil mungkin. Ujian harus dilakukan secepat mungkin untuk mengelakkan sebarang haus pada ruang. Sebaik sahaja sampel mencapai kedudukannya dalam radas lentur, picu dilepaskan dan plat lentur dibiarkan jatuh bebas. Sampel dikeluarkan dan ketepikan. Ia dibatalkan bersama-sama dengan semua sampel lain.

Organisasi kami, yang telah cuba menyokong perniagaan dari setiap sektor dengan pelbagai ujian, pengukuran, analisis dan kajian penilaian yang telah dijalankan selama bertahun-tahun, mempunyai kakitangan yang kukuh yang mengikuti perkembangan dunia dalam bidang sains dan teknologi dan sentiasa memperbaiki dirinya. Dalam konteks ini, perkhidmatan ujian juga disediakan kepada perniagaan mengikut piawaian "Kaedah ujian Standard ASTM D2136-19e1 untuk fabrik bersalut - Ujian lenturan suhu rendah".