Преносниот електронски микроскоп е многу моќна алатка за науката за материјалите. Електронски зрак со висока енергија минува низ многу тенок примерок и интеракциите помеѓу електроните и атомите се користат за набљудување на својствата како што се кристалната структура и својствата како што се дислокациите и границите на зрната во структурата. Со овој метод може да се направат и хемиски анализи.
ТЕМ (трансмисиона електронска микроскопија) е аналитички метод што се користи за испитување на растот на слоевите, составот и дефектите кај полупроводниците. Високата резолуција се користи за анализа на квалитетот, обликот, големината и густината на материјалите.
Анализата на преносната електронска микроскопија ТЕМ работи на истите основни принципи како и светлосната микроскопија, но користи електрони наместо светлина. Бидејќи брановата должина на електроните е многу помала од брановата должина на светлината, оптималната резолуција постигната за овие анализи за слики е по ред на големина подобра од онаа на светлосниот микроскоп. Така, овој метод на анализа може да ги открие најситните детали за внатрешната структура, во некои случаи мали како поединечни атоми.
За време на процесот на сликање, електронскиот зрак од електронскиот пиштол се фокусира во мал, тенок, кохерентен зрак со помош на кондензаторска леќа. Овој зрак е ограничен со отворот на кондензаторот, кој ги исклучува електроните со висок агол. Зракот потоа удира во примерокот и пренесува фрагменти во зависност од дебелината и електронската транспарентност на примерокот. Овој пренесен дел е фокусиран од објективната леќа на слика на екран со фосфор или камера на уред поврзан со полнење. Изборните отвори на леќите се користат за зголемување на контрастот со блокирање на електроните со дифракција со висок агол. Сликата потоа целосно се зголемува. Сликата удира на екранот со фосфор и се создава светлина, овозможувајќи му на корисникот да ја види сликата. Потемните области на сликата претставуваат области на примерокот каде што се пренесуваат помалку електрони, додека посветлите области на сликата претставуваат области на примерокот каде што се пренесуваат повеќе електрони.
Тест примерокот мора да биде доволно тенок за да пренесе доволно електрони за да формира слика со минимална загуба на енергија. Затоа, подготовката на примерокот е важен аспект од процесот на ТЕМ анализа.
Нашата организација, исто така, обезбедува услуги за анализа на преносен електронски микроскоп ТЕМ со својот обучен и стручен персонал и напредна технолошка опрема, меѓу бројните студии за тестирање, мерење, анализа и евалуација што ги обезбедува за бизниси во различни сектори.
Можете да побарате од нас да ја пополните нашата форма за да закажете состанок, да добиете подетални информации или да побарате проценка.
