
Mikroskop elektron transmisi adalah alat yang sangat kuat untuk ilmu material. Berkas elektron berenergi tinggi melewati sampel yang sangat tipis dan interaksi antara elektron dan atom digunakan untuk mengamati sifat seperti struktur kristal dan sifat seperti dislokasi dan batas butir dalam struktur. Analisis kimia juga dapat dilakukan dengan metode ini.

TEM (mikroskop elektron transmisi) adalah metode analitik yang digunakan untuk memeriksa pertumbuhan lapisan, komposisi, dan cacat pada semikonduktor. Resolusi tinggi digunakan untuk menganalisis kualitas, bentuk, ukuran, dan kepadatan material.
Analisis mikroskop elektron transmisi TEM bekerja dengan prinsip dasar yang sama seperti mikroskop cahaya, tetapi menggunakan elektron sebagai pengganti cahaya. Karena panjang gelombang elektron jauh lebih kecil daripada panjang gelombang cahaya, resolusi optimal yang dicapai untuk gambar analisis ini adalah urutan besarnya lebih baik daripada mikroskop cahaya. Dengan demikian, metode analisis ini dapat mengungkapkan detail terkecil dari struktur internal, dalam beberapa kasus sekecil atom individu.
Selama proses pencitraan, berkas elektron dari pistol elektron difokuskan menjadi berkas kecil, tipis, koheren menggunakan lensa kondensor. Sinar ini dibatasi oleh bukaan kondensor, yang tidak termasuk elektron sudut tinggi. Sinar kemudian mengenai sampel dan mentransmisikan fragmen tergantung pada ketebalan dan transparansi elektron sampel. Bagian yang ditransmisikan ini difokuskan oleh lensa objektif ke gambar pada layar fosfor atau kamera perangkat yang terhubung dengan muatan. Bukaan lensa opsional digunakan untuk meningkatkan kontras dengan memblokir elektron difraksi sudut tinggi. Gambar kemudian diperbesar sepenuhnya. Gambar menyentuh layar fosfor dan cahaya dihasilkan, memungkinkan pengguna untuk melihat gambar. Area yang lebih gelap dari gambar mewakili area sampel di mana lebih sedikit elektron yang ditransmisikan, sedangkan area yang lebih terang dari gambar mewakili area sampel di mana lebih banyak elektron ditransmisikan.
Sampel uji harus cukup tipis untuk mengirimkan elektron yang cukup untuk membentuk gambar dengan kehilangan energi minimal. Oleh karena itu, persiapan sampel merupakan aspek penting dari proses analisis TEM.
Organisasi kami juga menyediakan layanan analisis mikroskop elektron transmisi TEM dengan staf yang terlatih dan ahli serta peralatan teknologi canggih, di antara berbagai studi pengujian, pengukuran, analisis, dan evaluasi yang disediakan untuk bisnis di berbagai sektor.
