EN ISO 5173 Ujian Memusnahkan pada Kimpalan dalam Bahan Logam - Ujian Bengkok

EN ISO 5173 Ujian Memusnahkan pada Kimpalan dalam Bahan Logam - Ujian Bengkok

Piawaian "EN ISO 5173 Ujian merosakkan kimpalan dalam bahan logam - Ujian bengkok", yang mempunyai asasnya dalam piawaian Eropah dan kemudiannya diterbitkan oleh Pertubuhan Piawaian Antarabangsa (ISO), menerangkan kaedah melakukan ujian akar melintang, muka dan bengkok sisi ke atas spesimen ujian yang diambil daripada kimpalan punggung, kimpalan punggung bersalut dan kimpalan bersalut (clad butt welds) dan kimpalan bersalut (clad butt welds) dan terbahagi kepada kepingan kimpalan tanpa clad. kimpalan, untuk mendedahkan kecacatan pada atau berhampiran permukaan spesimen ujian di bawah ketegangan semasa ujian lenturan atau untuk menilai kemuluran.

EN ISO 5173 Ujian Memusnahkan pada Kimpalan dalam Bahan Logam - Ujian Bengkok

Piawaian ini juga menentukan dimensi spesimen ujian. Ia juga menyatakan kaedah untuk digunakan sebagai ganti ujian lentur melintang dengan dadu untuk sambungan dikimpal apabila bahan asas, zon terjejas haba, atau logam kimpalan mempunyai perbezaan ketara dalam sifat fizikal dan mekanikal berbanding dengan lenturan. Piawaian ini digunakan untuk bahan logam dalam semua bentuk produk dengan sambungan dikimpal yang dibuat oleh sebarang proses kimpalan.

Untuk tujuan piawaian ini, terma dan takrifan berikut digunakan:

  • Spesimen ujian lentur muka silang untuk kimpalan satu hujung merujuk kepada spesimen kimpalan muka silang di mana muka ditegangkan.
  • Spesimen ujian lenturan akar melintang untuk kimpalan satu hujung merujuk kepada spesimen kimpalan hujung melintang di mana akar ditegangkan.
  • Spesimen ujian lentur sisi melintang untuk kimpalan satu hujung merujuk kepada spesimen kimpalan di mana permukaan di bawah tegangan adalah bahagian kimpalan.
  • Spesimen ujian lentur muka membujur untuk kimpalan satu hujung merujuk kepada spesimen yang arahnya selari dengan arah kimpalan hujung dan muka berada dalam ketegangan.
  • Spesimen ujian lenturan akar membujur untuk kimpalan satu hujung merujuk kepada spesimen kimpalan yang arahnya selari dengan arah kimpalan hujung dan akar dalam ketegangan.
  • Spesimen ujian lentur muka untuk pelapisan bukan dikimpal punggung merujuk kepada spesimen di mana pelapisan berada dalam ketegangan. Ia boleh digunakan pada kedua-dua spesimen melintang dan membujur.
  • Untuk pelapisan tanpa kimpalan punggung, spesimen ujian lentur sisi merujuk kepada spesimen di mana keratan rentas pelapisan berada di bawah ketegangan. Ia boleh digunakan pada kedua-dua spesimen melintang dan membujur.
  • Spesimen ujian lentur muka untuk salutan kimpalan punggung merujuk kepada spesimen yang dikimpal punggung di mana salutannya berada dalam ketegangan.
  • Spesimen ujian lentur sisi untuk pelapisan dikimpal punggung merujuk kepada spesimen dikimpal punggung di mana keratan rentas pelapisan berada dalam ketegangan.

Pada dasarnya, semasa menjalankan ujian, spesimen ujian melintang atau membujur diambil daripada sambungan yang dikimpal dan tertakluk kepada ubah bentuk plastik dengan membengkokkannya, tanpa membalikkan arah lenturan, supaya salah satu permukaan atau bahagian sambungan yang dikimpal berada di bawah ketegangan. Suhu di mana ujian dijalankan hendaklah direkodkan. Kelajuan ujian hendaklah malar dan, apabila diketahui, hendaklah direkodkan. Ujian hendaklah dilakukan mengikut salah satu kaedah yang diterangkan dalam piawaian ini.

Kaedah ujian yang diterangkan dalam EN ISO 5173 digunakan untuk menilai kemuluran dan kekuatan kimpalan, khususnya keupayaan bahan yang dikimpal untuk mengalami ubah bentuk plastik tanpa retak. Kaedah ujian bengkok utama ialah:

  • Ujian lentur muka: Permukaan luar (muka) kimpalan diletakkan dalam ketegangan. Ujian ini dilakukan untuk memeriksa keretakan, kekurangan gabungan, penembusan tidak lengkap, atau kecacatan kimpalan lain dan untuk memastikan logam kimpalan dan zon terjejas haba boleh menahan ubah bentuk plastik.
  • Ujian lentur akar: Akar (sebelah bertentangan) kimpalan diletakkan dalam ketegangan. Ujian ini dilakukan untuk mengesan kecacatan akar seperti penembusan tidak lengkap, pelakuran tidak lengkap, keliangan, retak pada atau berhampiran akar kimpalan, dan untuk memastikan kawasan akar boleh mengalami ubah bentuk plastik tanpa kegagalan.
  • Ujian lentur sisi: Keratan rentas kimpalan diuji dengan sisi dalam ketegangan. Ujian ini dilakukan untuk mengenal pasti kecacatan dalaman yang tidak dapat dikesan dengan ujian lentur muka atau akar sahaja dan memastikan keseluruhan kawasan kimpalan mempunyai kemuluran dan kekuatan yang mencukupi. Ia biasanya digunakan apabila ketebalan bahan terlalu besar untuk ujian lentur muka atau akar.
  • Ujian lentur membujur: Spesimen dibengkokkan sepanjang paksi kimpalan (kurang biasa). Ujian ini dilakukan untuk menilai kemuluran keseluruhan kimpalan dan kawasan sekeliling sepanjang arah kimpalan dan untuk mengenal pasti kecacatan seperti keretakan membujur, kekurangan gabungan, kemasukan, dan keliangan sejajar kimpalan.

Kaedah ujian ini digunakan dalam pelbagai situasi untuk menilai integriti mekanikal dan kekuatan sambungan dikimpal dalam bahan logam.

Spesimen ujian hendaklah disediakan supaya proses penyediaan tidak menjejaskan bahan asas atau logam kimpalan. Saiz dan penyediaan spesimen bergantung kepada ketebalan bahan dan jenis ujian lenturan. Spesimen biasanya berbentuk segi empat tepat dan dimesin daripada sambungan yang dikimpal.

Semasa menjalankan ujian, sampel diletakkan pada dua penyokong dan dibengkokkan di atas dadu (mandrel) dengan diameter tertentu. Bergantung pada kaedah, lenturan boleh dilakukan menggunakan mesin ujian lentur berpandu atau penggelek. Sudut lentur dan diameter die dipilih berdasarkan jenis bahan dan ketebalan.

Selepas dibengkokkan, spesimen ujian diperiksa untuk retak permukaan atau ketakselanjaran lain. Kriteria penerimaan adalah berdasarkan saiz retak maksimum yang dibenarkan atau kehadiran sebarang kecacatan yang jelas. Keretakan yang disebabkan oleh kesan tepi atau kecacatan yang sedia ada (tidak berkaitan dengan kimpalan) boleh diabaikan jika dikenal pasti dengan jelas.

Secara ringkasnya, tujuan piawaian ini adalah untuk memastikan sambungan yang dikimpal mempunyai kemuluran yang mencukupi dan bebas daripada kecacatan dalaman atau permukaan yang ketara. Ia biasanya digunakan dalam ujian kelayakan kimpalan dan kawalan kualiti produk yang dikimpal.

Organisasi kami, yang telah menyokong perniagaan merentas semua sektor selama bertahun-tahun melalui pelbagai aktiviti ujian, pengukuran, analisis dan penilaian, mempunyai pasukan pekerja yang kukuh yang mengikuti perkembangan global dalam sains dan teknologi serta sentiasa meningkatkan diri mereka. Dalam konteks ini, kami juga menyediakan perkhidmatan ujian mengikut piawaian EN ISO 5173 "Ujian merosakkan pada kimpalan dalam bahan logam - Ujian bengkok".

WhatsApp