การวิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่งผ่าน TEM

การวิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่งผ่าน TEM

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านเป็นเครื่องมือที่ทรงพลังมากสำหรับวัสดุศาสตร์ ลำแสงอิเล็กตรอนพลังงานสูงจะผ่านตัวอย่างที่บางมาก และปฏิกิริยาระหว่างอิเล็กตรอนและอะตอมจะถูกนำมาใช้เพื่อสังเกตคุณสมบัติต่างๆ เช่น โครงสร้างผลึกและคุณสมบัติ เช่น ความคลาดเคลื่อนและขอบเขตของเกรนในโครงสร้าง การวิเคราะห์ทางเคมีสามารถทำได้ด้วยวิธีนี้

การวิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่งผ่าน TEM

TEM (Transmission Electron Microscopy) เป็นวิธีการวิเคราะห์ที่ใช้ในการตรวจสอบการเจริญเติบโตของชั้น องค์ประกอบ และข้อบกพร่องในสารกึ่งตัวนำ ความละเอียดสูงถูกนำมาใช้ในการวิเคราะห์คุณภาพ รูปร่าง ขนาด และความหนาแน่นของวัสดุ

การวิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน TEM ทำงานบนหลักการพื้นฐานเดียวกันกับกล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสง แต่ใช้อิเล็กตรอนแทนแสง เนื่องจากความยาวคลื่นของอิเล็กตรอนนั้นเล็กกว่าความยาวคลื่นของแสงมาก ความละเอียดที่เหมาะสมที่สุดสำหรับภาพการวิเคราะห์เหล่านี้จึงมีลำดับความสำคัญดีกว่าของกล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสง ดังนั้น วิธีการวิเคราะห์นี้สามารถเปิดเผยรายละเอียดที่เล็กที่สุดของโครงสร้างภายใน ในบางกรณีอาจมีขนาดเล็กเท่าอะตอม

ในระหว่างขั้นตอนการถ่ายภาพ ลำแสงอิเล็กตรอนจากปืนอิเล็กตรอนจะถูกโฟกัสไปที่ลำแสงขนาดเล็ก บาง และเชื่อมโยงกันโดยใช้เลนส์คอนเดนเซอร์ ลำแสงนี้ถูกจำกัดด้วยรูรับแสงของคอนเดนเซอร์ ซึ่งไม่รวมอิเล็กตรอนมุมสูง จากนั้นลำแสงจะกระทบกับตัวอย่างและส่งชิ้นส่วนขึ้นอยู่กับความหนาและความโปร่งใสของอิเล็กตรอนของตัวอย่าง ส่วนที่ส่งผ่านนี้จะถูกโฟกัสโดยเลนส์ใกล้วัตถุไปยังภาพบนหน้าจอเรืองแสงหรือกล้องของอุปกรณ์ที่เชื่อมต่อกับอุปกรณ์ชาร์จ รูรับแสงของเลนส์เสริมใช้เพื่อเพิ่มคอนทราสต์โดยการปิดกั้นอิเล็กตรอนจากมุมสูง ภาพจะถูกขยายจนสุด ภาพที่กระทบหน้าจอสารเรืองแสงและผลิตแสงทำให้ผู้ใช้เห็นภาพ บริเวณที่มืดกว่าของภาพแสดงถึงพื้นที่ของตัวอย่างที่มีการส่งอิเล็กตรอนน้อยลง ในขณะที่บริเวณที่สว่างกว่าของภาพแสดงถึงพื้นที่ของตัวอย่างที่มีการส่งอิเล็กตรอนมากกว่า

ตัวอย่างทดสอบต้องบางพอที่จะส่งอิเล็กตรอนได้มากพอที่จะสร้างภาพที่สูญเสียพลังงานน้อยที่สุด ดังนั้น การเตรียมตัวอย่างจึงเป็นส่วนสำคัญของกระบวนการวิเคราะห์ TEM

องค์กรของเรายังให้บริการวิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน TEM ด้วยเจ้าหน้าที่ที่ผ่านการฝึกอบรมและเชี่ยวชาญ และอุปกรณ์เทคโนโลยีขั้นสูง ท่ามกลางการศึกษาการทดสอบ การวัดผล การวิเคราะห์และการประเมินจำนวนมากที่มีให้สำหรับธุรกิจในภาคส่วนต่างๆ

WhatsApp