Трансмиссионный электронный микроскоп — очень мощный инструмент для материаловедения. Электронный пучок высокой энергии проходит через очень тонкий образец, и взаимодействия между электронами и атомами используются для наблюдения таких свойств, как кристаллическая структура, и таких свойств, как дислокации и границы зерен в структуре. Химический анализ также может быть выполнен с помощью этого метода.
Трансмиссионная электронная микроскопия (ТЭМ) — это аналитический метод, используемый для исследования роста слоев, состава и дефектов в полупроводниках. Высокое разрешение позволяет анализировать качество, форму, размер и плотность материалов.
Анализ просвечивающей электронной микроскопии ПЭМ работает на тех же основных принципах, что и световая микроскопия, но использует электроны вместо света. Поскольку длина волны электронов намного меньше длины волны света, оптимальное разрешение, достигаемое для этих аналитических изображений, на порядок лучше, чем у светового микроскопа. Таким образом, этот метод анализа может выявить мельчайшие детали внутренней структуры, в некоторых случаях даже такие мелкие, как отдельные атомы.
В процессе формирования изображения электронный луч из электронной пушки фокусируется в небольшой тонкий когерентный пучок с помощью конденсорной линзы. Этот пучок ограничен апертурой конденсатора, исключающей большеугловые электроны. Затем луч попадает на образец и пропускает фрагменты в зависимости от толщины и электронной прозрачности образца. Эта переданная часть фокусируется линзой объектива на изображение на люминофорном экране или в камере устройства с зарядкой. Дополнительные апертуры объектива используются для увеличения контраста за счет блокирования электронов дифракции под большим углом. Затем изображение полностью увеличивается. Изображение попадает на люминофорный экран, и создается свет, позволяющий пользователю видеть изображение. Более темные области изображения представляют области образца, через которые проходит меньше электронов, а более светлые области изображения представляют области образца, через которые проходит больше электронов.
Тестовый образец должен быть достаточно тонким, чтобы пропускать достаточное количество электронов для формирования изображения с минимальными потерями энергии. Таким образом, подготовка образца является важным аспектом процесса анализа ПЭМ.
Наша организация также предоставляет услуги анализа с помощью просвечивающей электронной микроскопии TEM с ее обученным и опытным персоналом и передовым технологическим оборудованием, среди многочисленных тестов, измерений, анализа и оценки, которые она предоставляет для предприятий в различных секторах.
Вы можете попросить нас заполнить нашу форму, чтобы записаться на прием, получить более подробную информацию или запросить оценку.
