
"Spesifikasi Standard ASTM F1609-23 untuk salutan kalsium fosfat untuk bahan implan" yang diterbitkan oleh Persatuan Pengujian dan Bahan Amerika (ASTM) menerangkan keperluan bahan untuk salutan kalsium fosfat dalam skop aplikasi implan pembedahan.

Piawaian ini menentukan salutan yang mengandungi salutan hidroksilapatit, salutan kalsium fosfat lain (cth. oktakalsium kalsium fosfat, kalsium fosfat amorf, salutan dikalsium fosfat dihidrat), atau gabungan dua atau lebih fasa kalsium fosfat, yang mengandungi unsur atau sebatian lain (cth. fluorin, mangan, magnesium, baking soda) dengan atau tanpa penambahan kecil yang disengajakan dan digunakan dengan kaedah termasuk tetapi tidak terhad kepada:
Untuk salutan yang mengandungi dua atau lebih fasa kalsium fosfat, satu atau lebih daripadanya akan menjadi fasa utama atau fasa utama dalam salutan manakala fasa lain mungkin berlaku sebagai fasa kedua atau kecil, komposisi fasa salutan mesti ditentukan berkenaan dengan setiap fasa kristal yang sepadan masing-masing.
Substrat mungkin termasuk bentuk topografi licin, berliang, bertekstur dan lain-lain yang boleh ditanam.
Piawaian ini tidak termasuk salutan organik yang mungkin mengandungi spesies ionik kalsium dan fosfat.
Untuk tujuan piawaian ini, takrifan berikut digunakan:
Analisis unsur dan penambahan sengaja (selain daripada kekotoran unsur) untuk kalsium dan fosforus hendaklah konsisten dengan stoikiometri yang dijangkakan bagi sebatian kalsium fosfat tertentu. Kandungan kalsium dan fosforus ditentukan berdasarkan kaedah berikut yang sesuai:
Untuk pencirian kristalografi, piawaian “Prosedur Piawai ASTM F2024-10 untuk penentuan pembelauan sinar-X bagi kandungan fasa salutan hidroksiapatit terpercik plasma” digunakan. Ujian ini merangkumi analisis fasa kuantitatif dan kandungan kalsium fosfat amorfus. FTIR (spektroskopi inframerah transformasi Fourier) dilakukan untuk mengenal pasti kumpulan berfungsi.
Apabila menentukan pencirian fizikal, pemeriksaan mikroskopik permukaan dilakukan pada pembesaran 10x. Kawasan kosong, lubang jarum, retak, serpihan asing, cair, serpihan, penyahtelan, dan rupa pada salutan atau antara muka substrat dilaporkan.
Apabila menentukan pencirian mekanikal, pencirian mekanikal berikut boleh digunakan pada salutan, bergantung pada bahan substrat atau geometri, ketebalan atau lokasi salutan, atau kaedah salutan:
Kedua-dua salutan atau antara muka substrat dan kesan pada substrat mesti dinilai. Kesan salutan pada kekuatan keletihan yang terhasil bagi peranti sebenar juga mesti dipertimbangkan.
Laporan pencirian harus mengandungi maklumat yang mencukupi tentang teknik ujian, prosedur dan piawaian yang digunakan, dan butiran seperti orientasi sampel dan kedalaman ketebalan berkadar, untuk mewakili analisis dengan tepat.
